一种光谱分析样品表面定位装置的制作方法

文档序号:35813450发布日期:2023-10-22 06:12阅读:23来源:国知局
一种光谱分析样品表面定位装置的制作方法

本申请涉及光谱分析,特别涉及一种光谱分析样品表面定位装置。


背景技术:

1、根据物质的光谱来鉴别物质及确定它的化学组成和相对含量的方法叫光谱分析,其优点是灵敏,迅速.历史上曾通过光谱分析发现了许多新元素,如铷,铯,氦等,根据分析原理光谱分析可分为发射光谱分析与吸收光谱分析两种;根据被测成分的形态可分为原子光谱分析与分子光谱分析,光谱分析的被测成分是原子的称为原子光谱,被测成分是分子的则称为分子光谱。

2、现有的关扑分析过程,光谱分析仪的采光位置是固定不变的,需要对样品或标准样品的分析表面进行固定定位,特别是粉末状的样品,粉末样品本身就不具备相应的分析表面,定位操作更加不便,容易影响进入光谱分析仪的采光高度位置的一致性。


技术实现思路

1、本申请目的在于实现粉末样品的精确采光定位,相比现有技术提供一种光谱分析样品表面定位装置,通过定位压实仓的底端开设有定位窗口,且定位窗口的一侧固定开设有收缩槽,收缩槽的内部活动插设有压实板,且压实板与定位窗口对应,定位压实仓的顶部滑动连接有操作滑动架,且操作滑动架的底端与压实板固定连接;装置底座的两侧均活动连接有调节螺杆,且调节螺杆的外部均螺纹连接有升降支架,升降支架的顶端活动连接有插接螺钉,且插接螺钉贯穿定位压实仓的顶端。

2、实现通过将待分析的样品粉末倒入样品放置斗中,再操作定位压实仓下降对样品粉末进行压实处理,便于定位窗口位置形成紧实的分析平面,配合调节螺杆精确控制定位压实仓的下降高度,使得定位窗口处在光谱分析仪的采光高度位置,实现样品表面的精确定位,后续拉动压实板缩回收缩槽,露出分析表面的同时对样品表面进行抹平操作,提高分析表面的平整度,进而提高光谱采集效果,提高光谱分析仪的分析准确度。

3、进一步,样品放置斗和定位压实仓均上宽下窄的梯形设置,样品放置斗的底端固定连接有振动马达,上宽下窄的形状便于样品放置斗内样品的集中,提高样品的压紧效果,振动马达在定位压实仓下降的过程中对样品放置斗内的样品进行振动,提高样品的紧实效果同时便于定位压实仓的下降运动。

4、进一步,装置底座的侧面固定设有定位高度尺,升降支架的底端外侧对应定位高度尺固定连接有定位指针,同时定位指针在定位高度尺指数,有效提高升降支架的升降精度。

5、可选的,样品放置斗的顶端四角均固定连接有组装垫片,且组装垫片的中部固定连接有组装连接柱,组装连接柱贯穿装置底座的顶端,通过组装垫片与组装连接柱便于组样品放置斗的拼接组装,便于样品放置斗的拆卸清洁。

6、进一步,升降支架的顶端两侧均固定连接有压紧支架片,且压紧支架片与组装连接柱套接,通过压紧支架片与组装连接柱套接便于定位压实仓的拼接组装,便于定位压实仓的拆卸清洁。

7、进一步,组装垫片的顶部和底部均固定连接有缓冲弹簧,且缓冲弹簧与组装连接柱套接,利用缓冲弹簧对样品放置斗的振动进行缓冲,提高装置的稳定性,在定位压实仓下压时,缓冲弹簧被压缩,样品放置斗压紧固定,有效避免样品放置斗晃动影响样品的光谱分析检测。

8、相比于现有技术,本申请的优点在于:

9、(1)通过将待分析的样品粉末倒入样品放置斗中,再操作定位压实仓下降对样品粉末进行压实处理,便于定位窗口位置形成紧实的分析平面,配合调节螺杆精确控制定位压实仓的下降高度,使得定位窗口处在光谱分析仪的采光高度位置,实现样品表面的精确定位,后续拉动压实板缩回收缩槽,露出分析表面的同时对表面进行抹平操作,提高分析表面的平整度,进而提高光谱采集效果,提高光谱分析仪的分析准确度。

10、(2)样品放置斗和定位压实仓均上宽下窄的梯形设置,样品放置斗的底端固定连接有振动马达,上宽下窄的形状便于样品放置斗内样品的集中,提高样品的压紧效果,振动马达在定位压实仓下降的过程中对样品放置斗内的样品进行振动,提高样品的紧实效果同时便于定位压实仓的下降运动。

11、(3)装置底座的侧面固定设有定位高度尺,升降支架的底端外侧对应定位高度尺固定连接有定位指针,同时定位指针在定位高度尺指数,有效提高升降支架的升降精度。

12、(4)样品放置斗的顶端四角均固定连接有组装垫片,且组装垫片的中部固定连接有组装连接柱,组装连接柱贯穿装置底座的顶端,通过组装垫片与组装连接柱便于组样品放置斗的拼接组装,便于样品放置斗的拆卸清洁。

13、(5)升降支架的顶端两侧均固定连接有压紧支架片,且压紧支架片与组装连接柱套接,通过压紧支架片与组装连接柱套接,便于定位压实仓的拼接组装,便于定位压实仓的拆卸清洁。

14、(6)组装垫片的顶部和底部均固定连接有缓冲弹簧,且缓冲弹簧与组装连接柱套接,利用缓冲弹簧对样品放置斗的振动进行缓冲,提高装置的稳定性,在定位压实仓下压时,缓冲弹簧被压缩,样品放置斗压紧固定,有效避免样品放置斗晃动影响样品的光谱分析检测。



技术特征:

1.一种光谱分析样品表面定位装置,包括装置底座(1),且装置底座(1)的内部固定连接有样品放置斗(2),所述样品放置斗(2)的顶部套设有定位压实仓(3),其特征在于,所述定位压实仓(3)的底端开设有定位窗口(301),且定位窗口(301)的一侧固定开设有收缩槽(302),所述收缩槽(302)的内部活动插设有压实板(303),且压实板(303)与定位窗口(301)对应,所述定位压实仓(3)的顶部滑动连接有操作滑动架(4),且操作滑动架(4)的底端与压实板(303)固定连接;

2.根据权利要求1所述的一种光谱分析样品表面定位装置,其特征在于,所述样品放置斗(2)和定位压实仓(3)均上宽下窄的梯形设置,所述样品放置斗(2)的底端固定连接有振动马达(6)。

3.根据权利要求1所述的一种光谱分析样品表面定位装置,其特征在于,所述装置底座(1)的侧面固定设有定位高度尺(7),所述升降支架(501)的底端外侧对应定位高度尺(7)固定连接有定位指针(701)。

4.根据权利要求1所述的一种光谱分析样品表面定位装置,其特征在于,所述样品放置斗(2)的顶端四角均固定连接有组装垫片(8),且组装垫片(8)的中部固定连接有组装连接柱(801),所述组装连接柱(801)贯穿装置底座(1)的顶端。

5.根据权利要求4所述的一种光谱分析样品表面定位装置,其特征在于,所述升降支架(501)的顶端两侧均固定连接有压紧支架片(802),且压紧支架片(802)与组装连接柱(801)套接。

6.根据权利要求4所述的一种光谱分析样品表面定位装置,其特征在于,所述组装垫片(8)的顶部和底部均固定连接有缓冲弹簧(803),且缓冲弹簧(803)与组装连接柱(801)套接。


技术总结
本技术提供了应用于光谱分析技术领域的一种光谱分析样品表面定位装置,通过定位压实仓的底端开设有定位窗口,且定位窗口的一侧固定开设有收缩槽,收缩槽的内部活动插设有压实板,且压实板与定位窗口对应,实现待分析的样品粉末倒入样品放置斗中,再操作定位压实仓下降对样品粉末进行压实处理,便于定位窗口位置形成紧实的分析平面,配合调节螺杆精确控制定位压实仓的下降高度,使得定位窗口处在光谱分析仪的采光高度位置,实现样品表面的精确定位,后续拉动压实板缩回收缩槽,露出分析表面的同时对表面进行抹平操作,提高分析表面的平整度,进而提高光谱采集效果,提高光谱分析仪的分析准确度。

技术研发人员:王爱萍
受保护的技术使用者:南通瑞恩医学检验所有限公司
技术研发日:20230228
技术公布日:2024/1/15
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