一种新型微针测试治具的制作方法

本技术涉及微针测试治具，具体为一种新型微针测试治具。

背景技术：

1、在印刷pcb板的生产时，需要通过治具来测试其电性能，pcb板测试治具包括底座、针板、底板、若干探针组件及导线，针板由多层板组合而成，在板之间设有间隔，底板由多层板叠置而成，在针盘和底板上均设有若干穿孔，探针组件置于针板和底板的穿孔内，其探针的头部露出于针板的表面，针板和底板固定成为整体的针盘。

2、例如授权公告号“cn207181617u”名为一种新型微针测试治具，本实用新型结构稳定，一拖四测试设计大大提高了测试效率，增加了配套设计生产测试的模组插座，使产品具有良好的配套性及测试稳定性，改善了产品限位可微调，适合多尺寸产品测试使产品具有了通用性。但是新型微针测试治具在对芯片进行测试之前需要先对芯片进行夹持固定，然后在进行测试工作，该新型微针测试治具不具备对芯片进行固定的功能，只能直接对芯片进行测试工作，在测试工作时会由于芯片的放置角度产生偏差，使芯片的测试角度产生偏差，同时该新型微针测试治具在进行测试工作时，需要人工手动调节芯片的测试角度，才能对芯片的其他角度进行测试，增加了人工劳动力。

技术实现思路

1、本实用新型的目的是为了解决现有技术中存在的在测试工作时会由于芯片的放置角度产生偏差，使芯片的测试角度产生偏差和增加了人工劳动力的问题，而提出的一种新型微针测试治具。

2、为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：

3、设计一种新型微针测试治具，包括底座和支撑架，所述支撑架上设有微针测试结构，所述微针测试结构包括第一外壳，所述第一外壳上表面与支撑架内壁固定连接，所述第一外壳内壁通过销轴与第一电机固定连接，所述第一电机输出轴通过变速箱与转盘固定连接，所述转盘上突起的圆柱与带动条内加工的滑槽滑动连接，所述带动条通过销轴与第一外壳内壁活动连接，所述带动条上突起的圆柱与横杆上方突起的短杆内加工的滑槽滑动连接，所述横杆两边分别贯穿第一外壳与第一外壳相套接，所述横杆下表面与竖杆固定连接，所述竖杆贯穿第一外壳与第一外壳上加工的滑道滑动连接。

4、优选的，所述竖杆下端与第二外壳固定连接，所述第二外壳内壁与电动伸缩杆固定连接。

5、优选的，所述底座上设有治具结构，所述治具结构包括第三外壳，所述第三外壳下表面与底座上表面固定连接，所述第三外壳内壁通过支架与第二电机固定连接，所述第二电机输出轴通过变速箱与丝杠固定连接，所述丝杠表面与螺纹座内壁螺纹连接，所述螺纹座两边均通过销轴与两个直杆活动连接，两个所述直杆分别通过销轴与弯杆活动连接，两个所述弯杆均贯穿第三外壳与第三外壳上加工的滑道滑动连接，两个所述弯杆表面均与软垫固定连接。

6、优选的，所述电动伸缩杆一端贯穿第二外壳与第二外壳相套接，所述电动伸缩杆一端与微针固定连接。

7、优选的，所述底座上表面与支撑架下表面固定连接，所述底座下表面安装有多个桌腿。

8、本实用新型提出的一种新型微针测试治具，有益效果在于：通过治具结构和底座的配合，第二电机启动带动丝杆转动，丝杠转动带动螺纹座向下移动，带动两边的两个直杆相对摆动，同时带动两个弯杆在第三外壳上加工的滑道上相对滑动，通过两边的软垫将芯片进行夹持固定，在测试时不会因为芯片的角度偏差，使芯片的测试产生偏差；

9、通过微针测试结构和微针的配合，第一电机启动带动转盘转动，通过转盘上突起的圆柱带动带动条在第一外壳内左右摆动，通过带动条上突起的圆柱带动横杆在第一外壳内左右移动，同时带动竖杆在第一外壳上加工的滑道上左右滑动，带动微针左右移动调整测试角度，电动伸缩杆启动带动微针向下移动对芯片进行测试工作，不需要工人手动对芯片的测试角度进行调节，减少了人工劳动力。

技术特征：

1.一种新型微针测试治具，包括底座(1)和支撑架(2)，其特征在于：所述支撑架(2)上设有微针测试结构(6)，所述微针测试结构(6)包括第一外壳(601)，所述第一外壳(601)上表面与支撑架(2)内壁固定连接，所述第一外壳(601)内壁通过销轴与第一电机(603)固定连接，所述第一电机(603)输出轴通过变速箱与转盘(604)固定连接，所述转盘(604)上突起的圆柱与带动条(602)内加工的滑槽滑动连接，所述带动条(602)通过销轴与第一外壳(601)内壁活动连接，所述带动条(602)上突起的圆柱与横杆(605)上方突起的短杆内加工的滑槽滑动连接，所述横杆(605)两边分别贯穿第一外壳(601)与第一外壳(601)相套接，所述横杆(605)下表面与竖杆(606)固定连接，所述竖杆(606)贯穿第一外壳(601)与第一外壳(601)上加工的滑道滑动连接。

2.根据权利要求1所述的一种新型微针测试治具，其特征在于：所述竖杆(606)下端与第二外壳(5)固定连接，所述第二外壳(5)内壁与电动伸缩杆(7)固定连接。

3.根据权利要求1所述的一种新型微针测试治具，其特征在于：所述底座(1)上设有治具结构(3)，所述治具结构(3)包括第三外壳(301)，所述第三外壳(301)下表面与底座(1)上表面固定连接，所述第三外壳(301)内壁通过支架与第二电机(307)固定连接，所述第二电机(307)输出轴通过变速箱与丝杠(306)固定连接，所述丝杠(306)表面与螺纹座(305)内壁螺纹连接，所述螺纹座(305)两边均通过销轴与两个直杆(304)活动连接，两个所述直杆(304)分别通过销轴与弯杆(303)活动连接，两个所述弯杆(303)均贯穿第三外壳(301)与第三外壳(301)上加工的滑道滑动连接，两个所述弯杆(303)表面均与软垫(302)固定连接。

4.根据权利要求2所述的一种新型微针测试治具，其特征在于：所述电动伸缩杆(7)一端贯穿第二外壳(5)与第二外壳(5)相套接，所述电动伸缩杆(7)一端与微针(4)固定连接。

5.根据权利要求1所述的一种新型微针测试治具，其特征在于：所述底座(1)上表面与支撑架(2)下表面固定连接，所述底座(1)下表面安装有多个桌腿(8)。

技术总结
本技术涉及微针测试治具技术领域，尤其是一种新型微针测试治具，包括底座和支撑架，所述支撑架上设有微针测试结构，所述微针测试结构包括第一外壳，所述带动条上突起的圆柱与横杆上方突起的短杆内加工的滑槽滑动连接，所述横杆两边分别贯穿第一外壳与第一外壳相套接，所述横杆下表面与竖杆固定连接，所述竖杆贯穿第一外壳与第一外壳上加工的滑道滑动连接，通过治具结构和底座的配合，第二电机启动带动丝杆转动，丝杠转动带动螺纹座向下移动，带动两边的两个直杆相对摆动，同时带动两个弯杆在第三外壳上加工的滑道上相对滑动，通过两边的软垫将芯片进行夹持固定，在测试时不会因为芯片的角度偏差，使芯片的测试产生偏差。

技术研发人员：曹维
受保护的技术使用者：苏州工业园区凯众通微电子技术有限公司
技术研发日：20230302
技术公布日：2024/1/13