本技术涉及粒子技术器,具体为一种高信噪比的尘埃粒子计数器。
背景技术:
1、激光尘埃粒子计数器是食、药品等洁净厂房环境中尘埃粒子数目浓度及粒径大小监测的重要仪器,它是根据米氏散射的原理设计而成。其构成通常包括光学系统,气路系统和信号处理电路系统三大块,光学系统则由激光照明模块、散射光收集模块和消光模块组成;而气路系统通常是由进气采样管和出气管构成;信号处理电路系统是由前置放大电路和主控板控制电路两大模块组成。工作时,气泵开启,气流稳定地流过光敏区,当粒子穿越光敏区时,激光入射粒子产生散射光,一定角度范围的粒子散射光由球面反射镜收集到正上方的光电二极管上,再经过光电转换,将散射光信号转换成电信号,再通过前置放大器进行小信号放大,然后送入到后续的主控板电路进行分析处理,经过电路比较、甄别后得到不同粒径档的粒子数。
2、由于激光并不是严格的平行光,并且在传播方向之外也存在杂散光,传感器的消光结构也无法完全消除激光的反射光,因此,传感器的光电探测器会接收到杂散光,对尘埃粒子的散射光造成干扰,严重影响到小粒径粒子的测量。
3、申请号:201010107797.7,名称为大流量全半导体尘埃粒子计数器的光学传感器的专利提供了一种采用半导体激光器作为光源,利用光散射法检测尘埃粒子的方法。该方法存在杂散光信号大的情况,无法检测小粒径粒子的微弱信号,只能检测大于0.3微米的尘埃粒子。
技术实现思路
1、本实用新型的目的在于提供一种高信噪比的尘埃粒子计数器,以解决现有国内尘埃粒子计数器只能检测大于0.3微米的尘埃粒子的问题。
2、为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:
3、一种高信噪比的尘埃粒子计数器,包括气室、激光光源、非球面透镜、球面反射镜、光电探测器、光陷阱,在激光光源发出的光束前进的方向上依次设有非球面透镜、光陷阱,与所述激光光源发出的光束前进方向垂直的方向上设有球面反射镜、光电探测器,所述光陷阱、球面反射镜、光电探测器均固定在气室上,进入气室的采样气流在球面反射镜和光电探测器之间形成光敏区,在现有技术的基础上,本实用新型进一步作出如下改进:还包括四分之一波片和偏振片,所述四分之一波片设置在光敏区与球面反射镜之间,所述偏振片设置在光电探测器接收光信号一侧。
4、优选的,所述气室上固定有进气嘴和出气嘴,所述采样气流从进气嘴进入气室内部,从出气嘴流出气室。
5、优选的,所述进气嘴位于气室内的部分连接扁喷嘴。
6、优选的,还包括消光管,所述消光管固定在气室上,激光光源发出的光束首先经过非球面透镜,然后经过消光管再进入气室内。
7、优选的,所述四分之一波片贴合在球面反射镜上。
8、优选的,所述四分之一波片固定在气室的凸台和球面反射镜之间。
9、与现有技术相比,本实用新型的有益效果是:
10、本实用新型尘埃粒子计数器能够极大的提高信噪比,提高尘埃粒子计数器的性能。
1.一种高信噪比的尘埃粒子计数器,包括气室、激光光源、非球面透镜、球面反射镜、光电探测器、光陷阱,在激光光源发出的光束前进的方向上依次设有非球面透镜、光陷阱,与所述激光光源发出的光束前进方向垂直的方向上设有球面反射镜、光电探测器,所述光陷阱、球面反射镜、光电探测器均固定在气室上,进入气室的采样气流在球面反射镜和光电探测器之间形成光敏区,其特征在于:还包括四分之一波片和偏振片,所述四分之一波片设置在光敏区与球面反射镜之间,所述偏振片设置在光电探测器接收光信号一侧。
2.根据权利要求1所述的高信噪比的尘埃粒子计数器,其特征在于:所述气室上固定有进气嘴和出气嘴,所述采样气流从进气嘴进入气室内部,从出气嘴流出气室。
3.根据权利要求2所述的高信噪比的尘埃粒子计数器,其特征在于:所述进气嘴位于气室内的部分连接扁喷嘴。
4.根据权利要求1所述的高信噪比的尘埃粒子计数器,其特征在于:还包括消光管,所述消光管固定在气室上,激光光源发出的光束首先经过非球面透镜,然后经过消光管再进入气室内。
5.根据权利要求1所述的高信噪比的尘埃粒子计数器,其特征在于:所述四分之一波片贴合在球面反射镜上。
6.根据权利要求1所述的高信噪比的尘埃粒子计数器,其特征在于:所述四分之一波片固定在气室的凸台和球面反射镜之间。