一种基于单片机低成本手持式SOE测试仪的制作方法

本技术涉及soe测试仪，尤其是涉及一种基于单片机低成本手持式soe测试仪

背景技术：

1、soe(sequence of events)，即事故顺序记录系统是分散控制系统的重要组成部分，soe系统要求卡件分别率达到1ms。

2、市场上现有soe测试仪价格高昂且不易携带，本设备可将成本控制在五百元以下，并且手持式便于携带，搭配12864液晶屏，使用db9接头将接线数量减少40％。

技术实现思路

1、本实用新型要考虑到成本和便携问题，设计一种基于单片机低成本手持式soe测试仪。

2、采用89c52单片机芯片，20mhz晶振，测试仪不使用外部定时器电路，脉冲时间由单片机控制。外部电路采用8个高速光耦控制8路输出。

3、此便携soe测试仪采用单片机p0口驱动外部电路，一次可对分散控制系统中soe卡件的8个通道进行测试。

4、单片机p0^0～p0^7口各配置一个tlp521光耦，光耦anode端接+5v/dc,cathode端经限流电阻接至p0口i/o，共计8个光耦。

5、设置按钮3个，分别为启动、复位、脉冲时间设置功能。

6、输出端ch1～ch8通过db9接头接soe卡件需测试通道+24v/dc，经限流电阻接至光耦emitter端。

7、由于分散控制系统卡件负端相通，则接任一负端通过db9接头接至com端。8路光耦输出经负载电阻接至db9接头ch1～ch8与发射极共地后接至db9串口接头com端

8、配置12864液晶屏。

9、采用单片机控制脉冲时间，精简了大量ic元件设备尺寸减小，可手持进行测试。

10、使用db9接头与soe卡件连接，减小试验接线的工作量。

技术特征：

1.一种基于单片机低成本手持式soe测试仪，其特征在于使用单片机控制脉冲时间，外部电路采用8个高速光耦控制8路输出，8路光耦输出经负载电阻接至db9接头ch1～ch8与发射极共地后接至db9串口接头com端，并采用12864液晶屏显示测试状态，采用89c52单片机芯片、20mhz晶振，采用单片机p0口驱动光耦，光耦采用型号为tlp521，光耦anode端接+5v/dc,cathode端经限流电阻接至p0口故配置8个光耦，输出端ch1～ch8电源由分散控制系统soe卡件提供，soe卡件各通道+24v/dc通过db9接头接至ch1～ch8端，经负载电阻接至光耦emitter端，由于分散控制系统卡件负端相通，则接任一负端通过db9接头接至com端。

2.根据权利要求1所述的一种基于单片机低成本手持式soe测试仪，其特征在于设置按钮3个，分别为启动、复位、脉冲时间设置功能，使用12864液晶屏显示测试状态。

3.根据权利要求2所述的一种基于单片机低成本手持式soe测试仪，其特征在于使用db9接头与soe卡件连接。

技术总结
本技术是一种基于单片机低成本手持式SOE测试仪，测试仪由单片机、LCD液晶屏、输出控制电路、按钮、DB9接头组成。配置光耦控制输出通断，光耦U2～U9接收侧1脚Anode端接高电平+5V/DC，光耦U2～U9接收侧2脚Cathode端分别经限流电阻R2～R9接至单片机P0^0～P0^7口。光耦U2～U9输出侧4脚Emitter端分别经负载电阻R10～R17通过CH1～CH8端子接至DB9接头。光耦U2～U9输出侧3脚collector端并联后接DB9接头COM端。由于采用TLP521光耦开启时间Tonda达2μs，提高了测试精度。测试仪配置5V/DC锂电、操作简单、接线方便，便于携带。

技术研发人员：孙卫伟
受保护的技术使用者：济南寰泰电力工程有限公司
技术研发日：20230315
技术公布日：2024/1/25