导热硅胶片低干扰性测试装置的制作方法

本技术属于导热硅胶片测试，具体地说，涉及导热硅胶片低干扰性测试装置。

背景技术：

1、导热硅胶片是以硅胶为基材，添加金属氧化物等各种辅材，通过特殊工艺合成的一种导热介质材料，在行业内，又称为导热硅胶垫，为提高导热硅胶片在使用时的抗电磁干扰性能，在导热硅胶片上设置有导热吸波材料，通过导热吸波材料吸收投射到导热硅胶片表面的电磁波能量并进行反射与折射。

2、为保证导热硅胶片上设置导热吸波材料后的抗干扰性能，需要通过测试装置对导热硅胶片的低干扰性进行测试，现有的测试装置操作繁琐且实施不便，不便于对导热硅胶片快速进行低干扰性测试。

3、有鉴于此特提出本实用新型。

技术实现思路

1、为解决上述技术问题，本实用新型采用技术方案的基本构思是：

2、导热硅胶片低干扰性测试装置,包括测试箱，还包括开设在测试箱内部的安装槽，所述测试箱的内部在安装槽的分割作用下形成第一测试腔及第二测试腔，所述安装槽上通过升降组件及导向组件滑动连接有安装框，所述安装框上开设有方形槽，所述方形槽上通过限位组件限位安装有测试导热硅胶片，所述测试箱上设置有用于对测试导热硅胶片低干扰性测试的测试组件；

3、所述测试组件包括分别安装在第一测试腔与第二测试腔上的第一电磁辐射测量仪与第二电磁辐射测量仪，所述测试箱上安装有用于第一电磁辐射测量仪与第二电磁辐射测量仪测试后数值显示的显示器，所述第一测试腔的内部安装有电磁辐射发生器。

4、所述升降组件包括固定在测试箱上端的第一l型架，所述第一l型架与安装槽之间转动连接有螺纹杆，所述安装框上固定有螺纹套，所述螺纹杆与螺纹套相互啮合设置，所述第一l型架上安装有用于螺纹杆驱动的驱动电机。

5、所述导向组件包括固定在测试箱上端的第二l型架，所述第一l型架与第二l型架在测试箱上对称设置，所述安装框上开设有滑动孔，所述滑动孔上滑动连接有圆杆，所述圆杆的两端分别与第二l型架及安装槽的内壁相固定。

6、所述限位组件在方形槽的上下两侧对称设置有两组。

7、所述限位组件包括开设在方形槽上的矩形槽，所述矩形槽上滑动连接有限位板，所述限位板位于矩形槽外部的侧壁上开设有斜面，所述矩形槽的内部设置有用于限位板连接的连接组件。

8、所述连接组件包括固定在矩形槽内部的多个套管，各个所述套管上滑动连接有滑杆，所述滑杆的另一端有限位板相固定，各个所述套管的侧壁上套设有弹簧，所述弹簧的两端分别与限位板及矩形槽的内壁相连接。

9、本实用新型与现有技术相比具有以下有益效果：

10、本实用新型的导热硅胶片低干扰性测试装置，通过第一电磁辐射测量仪及第二电磁辐射测量仪测量的数值差计算出安装框上测试导热硅胶片对电磁辐射的低干扰性性能，完成测试，整个检测操作简单、实施便捷，便于测试装置对测试导热硅胶片低干扰性性能的快速测试。

11、下面结合附图对本实用新型的具体实施方式作进一步详细的描述。

技术特征：

1.导热硅胶片低干扰性测试装置，包括：

2.根据权利要求1所述的导热硅胶片低干扰性测试装置，其特征在于，所述升降组件包括固定在测试箱(1)上端的第一l型架(501)，所述第一l型架(501)与安装槽(2)之间转动连接有螺纹杆(502)，所述安装框(4)上固定有螺纹套(503)，所述螺纹杆(502)与螺纹套(503)相互啮合设置，所述第一l型架(501)上安装有用于螺纹杆(502)驱动的驱动电机(504)。

3.根据权利要求2所述的导热硅胶片低干扰性测试装置，其特征在于，所述导向组件包括固定在测试箱(1)上端的第二l型架(601)，所述第一l型架(501)与第二l型架(601)在测试箱(1)上对称设置，所述安装框(4)上开设有滑动孔(602)，所述滑动孔(602)上滑动连接有圆杆(603)，所述圆杆(603)的两端分别与第二l型架(601)及安装槽(2)的内壁相固定。

4.根据权利要求3所述的导热硅胶片低干扰性测试装置，其特征在于，所述限位组件在方形槽(7)的上下两侧对称设置有两组。

5.根据权利要求4所述的导热硅胶片低干扰性测试装置，其特征在于，所述限位组件包括开设在方形槽(7)上的矩形槽(801)，所述矩形槽(801)上滑动连接有限位板(802)，所述限位板(802)位于矩形槽(801)外部的侧壁上开设有斜面(803)，所述矩形槽(801)的内部设置有用于限位板(802)连接的连接组件。

6.根据权利要求5所述的导热硅胶片低干扰性测试装置，其特征在于，所述连接组件包括固定在矩形槽(801)内部的多个套管(901)，各个所述套管(901)上滑动连接有滑杆(902)，所述滑杆(902)的另一端有限位板(802)相固定，各个所述套管(901)的侧壁上套设有弹簧(903)，所述弹簧(903)的两端分别与限位板(802)及矩形槽(801)的内壁相连接。

技术总结
本技术公开了导热硅胶片低干扰性测试装置，包括测试箱，还包括开设在测试箱内部的安装槽，所述测试箱的内部在安装槽的分割作用下形成第一测试腔及第二测试腔，所述安装槽上通过升降组件及导向组件滑动连接有安装框，所述安装框上开设有方形槽，所述方形槽上通过限位组件限位安装有测试导热硅胶片，所述测试箱上设置有用于对测试导热硅胶片低干扰性测试的测试组件。本技术的导热硅胶片低干扰性测试装置，通过第一电磁辐射测量仪及第二电磁辐射测量仪测量的数值差计算出安装框上测试导热硅胶片对电磁辐射的低干扰性性能，完成测试，整个检测操作简单、实施便捷，便于测试装置对测试导热硅胶片低干扰性性能的快速测试。

技术研发人员：梁学森
受保护的技术使用者：华中技术（深圳）有限公司
技术研发日：20230317
技术公布日：2024/1/15