压接测试设备的制作方法

本申请涉及芯片制造，特别是涉及一种压接测试设备。

背景技术：

1、随着芯片制造技术的不断发展，芯片的测试技术也成为电子产业中保证芯片生产品质以及加速芯片生产流程的重要技术。用于测试芯片的压接测试设备通常装设于机架上，机架具有上端板和下端板，待测试的芯片放置于机架的下端板上。而压接测试设备包括动力机构、下压机构和容置台。容置台装设于下端板，且容置台用于放置芯片或者其他电子元件，动力机构能够驱动下压机构朝向容置台移动以压接芯片，或者，动力机构能够驱动下压机构远离容置台移动。并且，现有的压接测试设备采用一套动力机构控制下压机构的移动，当下压机构从朝向容置台移动变为远离容置台移动时，动力机构需要重新调节自身的动力输出方向，如此，会导致动力机构的动力响应较慢，进而导致压接测试设备的测试精度下降。

技术实现思路

1、基于此，有必要提供一种压接测试设备，以解决现有的动力机构响应较慢导致压接测试设备的测试精度下降的问题。

2、本申请提供的压接测试设备装设于机架上，机架具有上端板和下端板，压接测试设备包括压接驱动器、分离驱动器、传动机构、下压机构和容置台。压接驱动器、分离驱动器、传动机构和下压机构均装设于上端板，容置台装设于下端板，且容置台用于放置电子元件。压接驱动器和分离驱动器分别连接传动机构，且压接驱动器和分离驱动器通过传动机构连接下压机构。压接驱动器能够驱动传动机构带动下压机构朝向靠近容置台的方向移动，以使下压机构能够压接电子元件；分离驱动器能够驱动传动机构带动下压机构朝向远离容置台的方向移动，以使下压机构能够远离电子元件。

3、在其中一个实施例中，传动机构包括缸体和活塞，活塞的头部可活动地连接缸体，活塞的杆部连接下压机构。压接驱动器连接活塞的无杆端，且压接驱动器能够驱动活塞带动下压机构朝向靠近容置台的方向移动。分离驱动器连接活塞的有杆端，且分离驱动器能够驱动活塞带动下压机构朝向远离容置台的方向移动。可以理解的是，通过设置缸体和活塞，降低了传动机构的设置难度，并且，有利于压接驱动器和分离驱动器分别通过传动机构输出动力。

4、在其中一个实施例中，压接驱动器和分离驱动器均为压缩气体动力源；或者，压接驱动器和分离驱动器均为液体动力源；或者，压接驱动器和分离驱动器均为驱动电机动力源。

5、在其中一个实施例中，压接测试设备还包括晃动调节机构，晃动调节机构一端连接传动机构，另一端连接下压机构，晃动调节机构能够调节下压机构相对传动机构的水平位置。可以理解的是，如此设置，有利于提高压接测试设备的压接精度。

6、在其中一个实施例中，晃动调节机构包括第一调节件、第二调节件和滚动件，第一调节件一端连接传动机构，另一端朝向靠近下压机构的方向延伸，第二调节件一端连接下压机构，另一端朝向靠近传动机构的方向延伸，第二调节件套设于第一调节件的外侧。第一调节件靠近下压机构的一端朝向靠近第二调节件的内壁凸出形成环形的第一承载台。第二调节件靠近传动机构的一端朝向靠近第一调节件的内壁凸出形成环形的第二承载台。多个滚动件的两端分别滚动连接第一承载台和第二承载台，以使第二承载台能够通过滚动件挂设于第一承载台。并且，第一承载台和第二调节件的内壁间隔设置，第二承载台和第一调节件的外壁间隔设置，以使第二承载台能够通过滚动件调节相对第一承载台的水平位置。可以理解的是，如此设置，有利于提高下压机构相对传动机构水平移动的灵活性。

7、在其中一个实施例中，多个晃动调节机构沿着预设圆周方向均匀分布于传动机构和下压机构之间。可以理解的是，如此设置，有利于提高下压机构和传动机构的连接稳定性。

8、在其中一个实施例中，压接测试设备还包括弹性复位机构，弹性复位机构一端连接传动机构，另一端连接下压机构，当下压机构通过晃动调节机构相对传动机构从初始预设位置移动至第一预设位置时，弹性复位机构具有推动下压机构从第一预设位置朝向初始预设位置移动复位的趋势。可以理解的是，通过设置弹性复位机构，取代了对下压机构进行手动复位的操作，一方面，大大降低了操作人员的工作负荷，另一方面，也大大提高了下压机构的复位精度。

9、在其中一个实施例中，弹性复位机构包括压缩弹簧、推动块、分力球和固定块，压缩弹簧一端连接于下压机构，另一端连接推动块，以推动推动块具有朝向靠近传动机构移动的趋势，固定块连接传动机构，且固定块背离传动机构的一端设有圆锥形槽，且圆锥形槽从靠近传动机构的一端至远离传动机构的一端呈扩张状，分力球一端可活动地设于圆锥形槽内，另一端滚动连接推动块。当下压机构通过晃动调节机构相对传动机构从初始预设位置移动至第一预设位置时，下压机构能够带动分力球从圆锥形槽的中心移动至圆锥形槽的侧壁处，以使圆锥形槽的侧壁具有推动分力球带动下压机构从第一预设位置朝向初始位置移动复位的趋势。可以理解的是，当下压机构压接完成时，可使圆锥型槽推动分力球完成自动复位，也即，下压机构自动复位，从而大大提高了下压机构的复位便捷性和复位精度。

10、在其中一个实施例中，弹性复位机构还包括移动套环，移动套环的外圈连接下压机构，移动套环的内圈套设于分力球的外侧并与分力球沿着压缩弹簧的轴向活动配合。可以理解的是，通过设置移动套环，确保分力球不会脱离圆锥型槽，保证了分力球的装配稳定性。

11、在其中一个实施例中，传动机构还包括传动板，传动板设于传动机构靠近下压机构的一端，晃动调节机构通过传动板连接传动机构，且弹性复位机构通过传动板连接传动机构。如此，提高了晃动调节机构和弹性复位机构的装配稳定性。

12、与现有技术相比，本申请提供的压接测试设备，当需要下压机构压接电子元件或者增大下压机构对电子元件的压力时，压接驱动器能够直接驱动传动机构带动下压机构朝向靠近容置台的方向移动，以使下压机构能够压接电子元件。当需要下压机构远离电子元件或者减小下压机构对电子元件的压力时，分离驱动器能够直接驱动传动机构带动下压机构朝向远离容置台的方向移动，以使下压机构能够远离电子元件。如此，大大提高了压接测试设备的响应速度，进而提高了压接测试设备的测试精度。

技术特征：

1.一种压接测试设备，所述压接测试设备装设于机架(100)上，机架(100)具有上端板(110)和下端板(120)，其特征在于，所述压接测试设备包括压接驱动器、分离驱动器、传动机构(200)、下压机构(300)和容置台(400)；

2.根据权利要求1所述的压接测试设备，其特征在于，所述传动机构(200)包括缸体(210)和活塞(220)，所述活塞(220)的头部可活动地连接所述缸体(210)，所述活塞(220)的杆部连接所述下压机构(300)；

3.根据权利要求2所述的压接测试设备，其特征在于，所述压接驱动器和所述分离驱动器均为压缩气体动力源；

4.根据权利要求1所述的压接测试设备，其特征在于，还包括晃动调节机构(500)，所述晃动调节机构(500)一端连接所述传动机构(200)，另一端连接所述下压机构(300)，所述晃动调节机构(500)能够调节所述下压机构(300)相对所述传动机构(200)的水平位置。

5.根据权利要求4所述的压接测试设备，其特征在于，晃动调节机构(500)包括第一调节件(510)、第二调节件(520)和滚动件(530)，所述第一调节件(510)一端连接所述传动机构(200)，另一端朝向靠近所述下压机构(300)的方向延伸，所述第二调节件(520)一端连接所述下压机构(300)，另一端朝向靠近所述传动机构(200)的方向延伸，所述第二调节件(520)套设于所述第一调节件(510)的外侧；

6.根据权利要求4所述的压接测试设备，其特征在于，多个所述晃动调节机构(500)沿着预设圆周方向均匀分布于所述传动机构(200)和所述下压机构(300)之间。

7.根据权利要求4所述的压接测试设备，其特征在于，还包括弹性复位机构(600)，所述弹性复位机构(600)一端连接所述传动机构(200)，另一端连接所述下压机构(300)，当所述下压机构(300)通过所述晃动调节机构(500)相对所述传动机构(200)从初始预设位置移动至第一预设位置时，所述弹性复位机构(600)具有推动所述下压机构(300)从第一预设位置朝向初始预设位置移动复位的趋势。

8.根据权利要求7所述的压接测试设备，其特征在于，所述弹性复位机构(600)包括压缩弹簧(610)、推动块(620)、分力球(630)和固定块(640)，所述压缩弹簧(610)一端连接于所述下压机构(300)，另一端连接所述推动块(620)，以推动所述推动块(620)具有朝向靠近所述传动机构(200)移动的趋势，所述固定块(640)连接所述传动机构(200)，且所述固定块(640)背离所述传动机构(200)的一端设有圆锥形槽(641)，且所述圆锥形槽(641)从靠近所述传动机构(200)的一端至远离所述传动机构(200)的一端呈扩张状，所述分力球(630)一端可活动地设于所述圆锥形槽(641)内，另一端滚动连接所述推动块(620)；

9.根据权利要求8所述的压接测试设备，其特征在于，所述弹性复位机构(600)还包括移动套环(650)，所述移动套环(650)的外圈连接所述下压机构(300)，所述移动套环(650)的内圈套设于所述分力球(630)的外侧并与所述分力球(630)沿着所述压缩弹簧(610)的轴向活动配合。

10.根据权利要求7所述的压接测试设备，其特征在于，所述传动机构(200)还包括传动板(230)，所述传动板(230)设于所述传动机构(200)靠近所述下压机构(300)的一端，所述晃动调节机构(500)通过所述传动板(230)连接所述传动机构(200)，且所述弹性复位机构(600)通过所述传动板(230)连接所述传动机构(200)。

技术总结
本申请涉及一种压接测试设备，该压接测试设备装设于机架上，压接测试设备包括压接驱动器、分离驱动器、传动机构、下压机构和容置台。压接驱动器、分离驱动器、传动机构和下压机构均装设于上端板，容置台装设于下端板，且容置台用于放置电子元件。压接驱动器和分离驱动器分别连接传动机构，且压接驱动器和分离驱动器通过传动机构连接下压机构。压接驱动器能够驱动传动机构带动下压机构朝向靠近容置台的方向移动，以使下压机构能够压接电子元件；分离驱动器能够驱动传动机构带动下压机构朝向远离容置台的方向移动，以使下压机构能够远离电子元件。本申请提供的压接测试设备，解决了现有的动力机构响应较慢导致压接测试设备的测试精度下降的问题。

技术研发人员：徐铭阳,陆人杰
受保护的技术使用者：杭州长川科技股份有限公司
技术研发日：20230317
技术公布日：2024/1/15