一种半导体检测装置的制作方法

本技术涉及一种检测装置，尤其涉及一种半导体检测装置。

背景技术：

1、半导体是指一种导电性可受控制，范围可从绝缘体至导体之间的材料。无论从科技或是经济发展的角度来看，半导体的重要性都是非常巨大的。今日大部分的电子产品，如计算机、移动电话或是数字录音机当中的核心单元都和半导体有着极为密切的关连。为保证半导体的稳定性，对半导体进行抽样检测是很有必要的。

2、中国专利公告号为cn217766712u公开了一种半导体芯片检测装置，包括顶部向内凹陷一内槽的机箱以及固设在机箱背部的支撑架和设于机箱顶部的承载部，所述机箱的内槽中转动有一丝杆a，且丝杆a的一端与外接驱动装置进行同轴连接，在丝杆a的杆体上设有滑座a，并在滑座a的座体上设有用以推进承载部进行横向移动的调节部，支撑架上设有进行电性测试的检测部和进行定位的激光定位仪。该实用新型在半导体测试前需先进行上料，测试完成后再将半导体取下，取下半导体后再进行上料，这样的上下料过程需耗费一定的时间，降低了工作效率。

3、为解决上述现有技术中存在的问题，亟需设计一种高效率的半导体检测装置。

技术实现思路

1、本实用新型为了克服现有的半导体检测装置在半导体的上下料过程中需耗费一定的时间，降低了工作效率的缺点，本实用新型要解决的技术问题是提供一种高效率的半导体检测装置。

2、为了解决上述技术问题，本实用新型提供了这样一种半导体检测装置，包括有底座、安装盘、电机、连接杆、放置盘和固定轴，底座上固定式地安装有安装盘，安装盘上开设有一导向槽，安装盘内设置有电机，电机的输出轴通过联轴器与安装在安装盘上方的连接杆连接，连接杆分为四端，各端均连接有一放置盘，放置盘下安装有固定轴，且固定轴位于导向槽内。

3、优选地，还包括有滑动杆、夹块和压缩弹簧，放置盘侧壁滑动式地安装有对称的滑动杆，滑动杆上连接有夹块，且夹块位于放置盘上，滑动杆上绕装有压缩弹簧，压缩弹簧一端连接放置盘侧壁，另一端连接夹块。

4、优选地，还包括有导向杆、楔形块和复位弹簧，放置盘的侧壁上固定式地安装有对称的导向杆，导向杆位于滑动杆的上方，导向杆上滑动式地安装有楔形块，导向杆上绕装有复位弹簧，复位弹簧一端与楔形块连接，另一端与放置盘侧壁连接。

5、优选地，还包括有收集框，安装盘上固定式地安装有收集框，收集框与检测机构以安装盘中心为圆心成90度角。

6、优选地，还包括有支架、电动推杆、推动块和顶杆，收集框上通过支架安装有电动推杆，电动推杆的推头连接有推动块和对称的顶杆，推动块位于放置盘上，顶杆一端与电动推杆连接，另一端与楔形块的顶端接触。

7、优选地，还包括有固定件，检测机构上安装有便于更换检测头的固定件。

8、本实用新型的有益效果是：1、通过电机带动连接杆连接的4个放置盘做间断性的以安装盘中心为圆心做90度转动，将放置盘逐个转动至检测机构下进行检测，检测过程中可在其余放置盘上补充半导体，节约了上料时间，提高了工作效率，达到高效率检测的效果。

9、2、通过电机带动放置盘90度转动至收集框上方，电动推杆带动顶杆推动楔形块向下移动卡接在滑动杆上，将滑动杆带出使得夹块离开半导体，同时电动推杆带动推动块将半导体推入到收集框内，完成自动下料，节约了下料时间，提高了工作效率，达到高效率检测的效果。

技术特征：

1.一种半导体检测装置，包括有底座（1）、安装盘（2）和电机（3），底座（1）上固定式地安装有安装盘（2），安装盘（2）上开设有一导向槽（201），安装盘（2）内设置有电机（3），其特征在于，还包括有连接杆（4）、放置盘（5）和固定轴（501），电机（3）的输出轴通过联轴器与安装在安装盘（2）上方的连接杆（4）连接，连接杆（4）分为四端，各端均连接有一放置盘（5），放置盘（5）下安装有固定轴（501），且固定轴（501）位于导向槽（201）内。

2.根据权利要求1所述的一种半导体检测装置，其特征在于，还包括有滑动杆（6）、夹块（7）和压缩弹簧（8），放置盘（5）侧壁滑动式地安装有对称的滑动杆（6），滑动杆（6）上连接有夹块（7），且夹块（7）位于放置盘（5）上，滑动杆（6）上绕装有压缩弹簧（8），压缩弹簧（8）一端连接放置盘（5）侧壁，另一端连接夹块（7）。

3.根据权利要求2所述的一种半导体检测装置，其特征在于，还包括有导向杆（9）、楔形块（10）和复位弹簧（11），放置盘（5）的侧壁上固定式地安装有对称的导向杆（9），导向杆（9）位于滑动杆（6）的上方，导向杆（9）上滑动式地安装有楔形块（10），导向杆（9）上绕装有复位弹簧（11），复位弹簧（11）一端与楔形块（10）连接，另一端与放置盘（5）侧壁连接。

4.根据权利要求3所述的一种半导体检测装置，其特征在于，还包括有收集框（17），安装盘（2）上固定式地安装有收集框（17），收集框（17）与检测机构以安装盘（2）中心为圆心成90度角。

5.根据权利要求4所述的一种半导体检测装置，其特征在于，还包括有支架（13）、电动推杆（14）、推动块（15）和顶杆（16），收集框（17）上通过支架（13）安装有电动推杆（14），电动推杆（14）的推头连接有推动块（15）和对称的顶杆（16），推动块（15）位于放置盘（5）上，顶杆（16）一端与电动推杆（14）连接，另一端与楔形块（10）的顶端接触。

6.根据权利要求5所述的一种半导体检测装置，其特征在于，还包括有固定件（12），检测机构上安装有便于更换检测头的固定件（12）。

技术总结
本技术涉及一种检测装置，尤其涉及一种半导体检测装置。本技术提供了这样一种半导体检测装置，包括有底座、安装盘、电机、连接杆、放置盘和固定轴等；底座上固定式地安装有安装盘，安装盘上开设有一导向槽，安装盘内设置有电机，电机的输出轴通过联轴器与安装在安装盘上方的连接杆连接，连接杆分为四端，各端均连接有一放置盘，放置盘下安装有固定轴，且固定轴位于导向槽内。通过电机带动连接杆连接的4个放置盘做间断性的以安装盘中心为圆心做90度转动，将放置盘逐个转动至检测机构下进行检测，检测过程中可在其余放置盘上补充半导体，节约了上料时间，提高了工作效率，达到高效率检测的效果。

技术研发人员：陈实,胡旺安,张峰峰,程浩
受保护的技术使用者：深圳市宸悦存储电子科技有限公司
技术研发日：20230329
技术公布日：2024/1/12