一种微型片式元器件测试及老化共用夹具的制作方法

本技术涉及一种微型片式元器件测试及老化共用夹具。

背景技术：

1、当微型片式电子元器件，如0201、01005封装的片式元器件，应用在需高可靠性能的领域中，需对微型元器件进行老化和测试，要求夹具的成本不能太高，使用寿命较长。

2、现在已有对采用端电极封装的微型2电极元器件采用的老化和测试共用夹具，基本采用将元器件竖直放入夹具中，夹具中的接触电极分别接触元器件的两个端面的电极部分，这种夹具对于采用底部2电极的微型元器件就不适合，这种元器件的端面上没有可供这种夹具内部触点进行接触的端面电极。

3、现有另一种技术采用在夹具底部装上高精度微型弹片的办法对底部电极封装的微型元器件底部电极进行接触，这种结构的成本较高，用于测试还能够接受，因为用于测试的夹具不需要较多的测试通道，使用的夹具数量较少。但用于老化时，采用的夹具数量较大，这种结构的成本就过高了，不适合老化与测试共用的夹具。

技术实现思路

1、本实用新型的目的在于，克服现有技术中存在的缺陷，提供一种微型片式元器件测试及老化共用夹具，采用低成本金属体结构构成夹具内部的接触电极，大幅降低微型片式元器件的测试与老化共用夹具的成本，使用寿命较长，可用于底部电极封装的微型片式二极管，包括tvs二极管，以及其它的同类封装的电子元器件。

2、为实现上述目的，本实用新型的技术方案是设计一种微型片式元器件测试及老化共用夹具，包括载盒主体，载盒主体上设有若干个电子元器件的定位槽，载盒主体上设有位于定位槽处的与电子元器件适配的电极接触件，电极接触件上设有与电子元器件的底部两电极相接触的接触部，载盒主体上还设有通过连接电路与电极接触件相连的测试触点。二极管很微小，尺寸最大都是0.3×0.6mm，甚至有更小的如0.2×0.4mm；不像电容是大尺寸，其以弹性针（测试时）为主；小型化则要求自带微小触点，本方案通过电镀凸点或金属丝的方式满足小型化测试及老化装夹要求。不以探针为主，采用要么电镀凸点要么金属丝的方式。

3、进一步的技术方案是，载盒主体包括由上至下依次设置的底板、电路板及载盒本体；

4、测试触点设置在载盒本体上，用于与外部测试装置或老化装置形成连接；连接电路也设置在载盒本体上；

5、所述定位槽设置在底板上且贯穿底板设置。现有技术中单个的有测试座，但其以人工为主（可以满足测试的装夹要求，但满足不了老化的装夹要求，因为老化需要固定；本方案靠加工组合，不是现有技术的拼装结构；由于是一体设置也即直接在载盒上设置定位槽，整体结构其精度是确定的。

6、进一步的技术方案是，电极接触件为设置在电路板其面向底板的一面上的至少一个凸起，所述接触部为用于保证接触良率的电镀凸点。由于尺寸小（0.3×0.6mm，其电极宽0.2mm），如果采用探针形式，探针0.1mm很难做{探针做焊点不好做} ，而弹性丝可以做到；凸点也可以做到那么小。

7、另一种技术方案为，电路板上设置与定位槽配套的若干对过孔，所述电极接触件包括穿过过孔的两根金属丝，穿过过孔的金属丝端部与载盒本体上的连接电路焊接相连。金属丝的设置好控制接触面积，类比于缩小式的弹片，便于与电子元器件的电极接触。

8、进一步的技术方案为，定位槽呈矩形阵列布置且相邻定位槽的间距相等，定位槽位置上与测试装置或老化装置所用弹性压头阵列的布置位置相对应。

9、进一步的技术方案为，金属丝采用磷铜或铍铜材质制成；电子元器件的底面尺寸为0.3×0.6mm，电子元器件上的电极的宽度为0.2mm；载盒主体上设有用于表示载盒编号的标识层。磷铜和铍铜具有导电、耐磨性，有一定刚性可以保证弹性。还可以在电子元器件的上表面上设有标识，方便自动外观检；而如果通过吸头将电子元器件拿起来，电子元器件的下表面就又看到了，便于外观检；本方案通过上一次工装（无需多次更换上工装装夹），使得电子元器件的外观保护得好。

10、进一步的技术方案为，电极接触件为穿过过孔的两根金属丝。

11、另一种技术方案为，电极接触件包括用于提供弹性力的金属丝以及用于提供接触力的非弹性丝，金属丝与非弹性丝固定相连且金属丝面向定位槽设置，非弹性丝面向载盒本体设置。由于金属丝两端是不需要受力的；设置成上面有弹性，下面没弹性以分别用于提供接触力和弹性力。

12、本实用新型的优点和有益效果在于：本方案通过电镀凸点或金属丝的方式满足小型化测试及老化装夹要求。不以探针为主，采用要么电镀凸点要么金属丝的方式。

13、现有技术中单个的有测试座，但其以人工为主（可以满足测试的装夹要求，但满足不了老化的装夹要求，因为老化需要固定；本方案靠加工组合，不是现有技术的拼装结构；由于是一体设置也即直接在载盒上设置定位槽，整体结构其精度是确定的。

14、金属丝的设置好控制接触面积，类比于缩小式的弹片，便于与电子元器件的电极接触。

15、磷铜和铍铜具有导电、耐磨性，有一定刚性可以保证弹性。还可以在电子元器件的上表面上设有标识，方便自动外观检；而如果通过吸头将电子元器件拿起来，电子元器件的下表面就又看到了，便于外观检；本方案通过上一次工装（无需多次更换上工装装夹），使得电子元器件的外观保护得好。

技术特征：

1.一种微型片式元器件测试及老化共用夹具，其特征在于，包括载盒主体，载盒主体上设有若干个电子元器件的定位槽，载盒主体上设有位于定位槽处的与电子元器件适配的电极接触件，电极接触件上设有与电子元器件的底部两电极相接触的接触部，载盒主体上还设有通过连接电路与电极接触件相连的测试触点。

2.根据权利要求1所述的一种微型片式元器件测试及老化共用夹具，其特征在于，所述载盒主体包括由上至下依次设置的底板、电路板及载盒本体；

3.根据权利要求2所述的一种微型片式元器件测试及老化共用夹具，其特征在于，所述电极接触件为设置在电路板其面向底板的一面上的至少一个凸起，所述接触部为用于保证接触良率的电镀凸点。

4.根据权利要求2所述的一种微型片式元器件测试及老化共用夹具，其特征在于，所述电路板上设置与定位槽配套的若干对过孔，所述电极接触件包括穿过过孔的两根金属丝，穿过过孔的金属丝端部与载盒本体上的连接电路焊接相连。

5.根据权利要求3或4所述的一种微型片式元器件测试及老化共用夹具，其特征在于，所述定位槽呈矩形阵列布置且相邻定位槽的间距相等，定位槽位置上与测试装置或老化装置所用弹性压头阵列的布置位置相对应。

6.根据权利要求4所述的一种微型片式元器件测试及老化共用夹具，其特征在于，所述金属丝采用磷铜或铍铜材质制成；电子元器件的底面尺寸为0.3×0.6mm，电子元器件上的电极的宽度为0.2mm；载盒主体上设有用于表示载盒编号的标识层。

7.根据权利要求4所述的一种微型片式元器件测试及老化共用夹具，其特征在于，所述电极接触件为穿过过孔的两根金属丝。

8.根据权利要求4所述的一种微型片式元器件测试及老化共用夹具，其特征在于，所述电极接触件包括用于提供弹性力的金属丝以及用于提供接触力的非弹性丝，金属丝与非弹性丝固定相连且金属丝面向定位槽设置，非弹性丝面向载盒本体设置。

技术总结
本技术公开了一种微型片式元器件测试及老化共用夹具，包括载盒主体，载盒主体上设有若干个电子元器件的定位槽，载盒主体上设有位于定位槽处的与电子元器件适配的电极接触件，电极接触件上设有与电子元器件的底部两电极相接触的接触部，载盒主体上还设有通过连接电路与电极接触件相连的测试触点。本技术采用低成本金属体结构构成夹具内部的接触电极，大幅降低微型片式元器件的测试与老化共用夹具的成本，使用寿命较长，可用于底部电极封装的微型片式二极管，包括TVS二极管，以及其它的同类封装的电子元器件。

技术研发人员：熊焰明
受保护的技术使用者：江苏伊施德创新科技有限公司
技术研发日：20230417
技术公布日：2024/1/15