一种显微光谱测量装置的制作方法

本技术属于光谱测量设备，特别涉及一种显微光谱测量装置。

背景技术：

1、在生产过程中，可以在气体、液体、固体和多相混合物中执行光谱测量以获得与生产过程有关或者与作为过程的产物而形成的物质有关的知识，尤其是其数量和质量，通过光谱测量，也可以获得与过程的离析物和添加剂的浓度相关的测量值。

2、现有光谱测量装置在进行物质的光谱测量时，需要人工将物质放置于光源与光谱仪之间的反射路径上，也就使得可检测物质只能够是存在一定体积、可以肉眼所观察到的物质，存在较大的使用局限性，无法适应微量物质的光谱测量作业。

3、如何设计一种显微光谱测量装置，如何增加装置适用范围，成为急需解决的问题。

技术实现思路

1、鉴于以上所述现有技术的缺点，本实用新型的目的在于提供一种显微光谱测量装置，用于解决现有技术中光谱测量装置只能够适用于大体积物质光谱测量的问题。

2、为实现上述目的，本实用新型提供一种显微光谱测量装置，包括显微组件和测量组件；

3、所述显微组件包括自上而下依次连接的目镜、镜筒和物镜以及位于物镜正下方的载物台；

4、所述测量组件包括第一光纤接头和第二光纤接头；

5、所述第一光纤接头安装在镜筒的顶部，所述镜筒的顶部对应第一光纤接头开设有光孔；

6、所述第二光纤接头安装在第二分光器的一侧；所述第二分光器连通、连接在镜筒底端与物镜顶端之间，所述第二分光器的内部设置有分光镜，所述第二分光器的侧壁上开设有与第二光纤接头对应的光孔。

7、通过采用这种技术方案：以显微镜组件为基础，在镜筒的顶部设置第一光纤接头用于连接光谱仪，在镜筒与物镜之间设置第二分光器，在不影响镜筒和物镜之间图像传递的同时，与用于连接光源的第二光纤接头形成配合，实现显微组件和测量组件的配合，显微组件可以精准定位位于载物台上的物质，随后光源可以由第二光纤接头导入，在第二分光器内部分光镜的作用下由物镜导出并照在物质上，物质反射光再经由物镜和镜筒后传导至与第一光纤接头连接的光谱仪，获取检测数据，完成物质的光谱检测，解决现有光谱测量装置无法适用于肉眼无法观察到的物质的光谱测量的问题，增加了光谱测量装置的适用范围。

8、于本实用新型的一实施例中，所述镜筒连接在立架的顶端，所述立架的底端固定在底台上；

9、所述立架上固定有托台，所述托台上设置有平面调节台，所述平面调节台与载物台连接；

10、通过采用这种技术方案：增设立架使得各组件连接形成整体，并通过底台提供整体支撑，保证整体结构的稳定性；增设托台和平面调节台提供载物台的连接位置，并为载物台平面位置调整提供前提条件。

11、于本实用新型的一实施例中，所述平面调节台包括沿x轴方向滑动连接在托台上的第一滑台，所述第一滑台的y轴方向上滑动连接有第二滑台，所述第二滑台与载物台固定；

12、通过采用这种技术方案：通过第一滑台和第二滑台配合形成平面移动机构，实现载物台在托台上的位置可调，可以配合改变物质位置进行定位，配合快速获取物质的光谱数据。

13、于本实用新型的一实施例中，所述第一光纤接头与镜筒之间安装有第一分光器，所述第一分光器的内部设置有分光镜，所述第一分光器的一侧安装有工业相机，且所述第一分光器的侧壁上对应工业相机开设有光孔；

14、通过采用这种技术方案：通过设置第一分光器实现光线的分光，从而使得工业相机获取到相应的图像，增加了图像记录的功能。

15、于本实用新型的一实施例中，所述第一光纤接头通过第一平面调节架安装在第一分光器的顶部；

16、所述第一平面调节架包括在第一分光器顶部沿x轴方向滑动的第一镂空架，所述第一镂空架的y轴方向滑动连接有第二镂空架，所述第二镂空架与第一光纤接头固定；

17、通过采用这种技术方案：通过第一镂空架和第二镂空架配合，在不影响光线传导的同时，实现第一光纤接头位置的可调，从而方便改变获取光线的位置，以确保与第一光纤接头连接的光谱仪能够获取到相应的光信息。

18、于本实用新型的一实施例中，所述第二光纤接头安装在第二平面调节架上，所述第二平面调节架的结构与第一平面调节架的结构相同；

19、通过采用这种技术方案：使得第二光纤接头具备位置可调性，可以以此来改变光源的射入位置。

20、于本实用新型的一实施例中，所述第二光纤接头与第二分光器之间设置有直透镜。

21、通过采用这种技术方案：确保光源射入光为平行光，避免出现光线偏移影响光谱检测的问题。

22、有益效果

23、本实用新型结构中，将显微组件与既有测量组件配合，可以在对物质定位后进行相应的光谱检测作业，不仅可以适用于一般物质的光谱测量，还能够适用于微量物质的光谱测量，具有较高的适用范围；连接光源和连接光谱仪的光纤接头都具备平面调节功能，配合载物台自身的移动功能，能够适应不同种类光谱分析；推广应用具有良好的经济效益和社会效益。

技术特征：

1.一种显微光谱测量装置，其特征在于：包括显微组件和测量组件；

2.根据权利要求1所述的一种显微光谱测量装置，其特征在于：所述镜筒(4)连接在立架(2)的顶端，所述立架(2)的底端固定在底台(1)上；

3.根据权利要求2所述的一种显微光谱测量装置，其特征在于：所述平面调节台(13)包括沿x轴方向滑动连接在托台(12)上的第一滑台，所述第一滑台的y轴方向上滑动连接有第二滑台，所述第二滑台与载物台(14)固定。

4.根据权利要求1所述的一种显微光谱测量装置，其特征在于：所述第一光纤接头(9)与镜筒(4)之间安装有第一分光器(6)，所述第一分光器(6)的内部设置有分光镜，所述第一分光器(6)的一侧安装有工业相机(7)，且所述第一分光器(6)的侧壁上对应工业相机(7)开设有光孔。

5.根据权利要求4所述的一种显微光谱测量装置，其特征在于：所述第一光纤接头(9)通过第一平面调节架(8)安装在第一分光器(6)的顶部；

6.根据权利要求1所述的一种显微光谱测量装置，其特征在于：所述第二光纤接头(11)安装在第二平面调节架(10)上，所述第二平面调节架(10)的结构与第一平面调节架(8)的结构相同。

7.根据权利要求1所述的一种显微光谱测量装置，其特征在于：所述第二光纤接头(11)与第二分光器(16)之间设置有直透镜(15)。

技术总结
本技术提供一种显微光谱测量装置，包括显微组件和测量组件；所述显微组件包括自上而下依次连接的目镜、镜筒和物镜以及位于物镜正下方的载物台；所述测量组件包括第一光纤接头和第二光纤接头；所述第一光纤接头安装在镜筒的顶部，所述镜筒的顶部对应第一光纤接头开设有光孔；所述第二光纤接头安装在第二分光器的一侧；所述第二分光器连通、连接在镜筒底端与物镜顶端之间，所述第二分光器的内部设置有分光镜。本技术结构中，将显微组件与既有测量组件配合，可以在对物质定位后进行相应的光谱检测作业，不仅可以适用于一般物质的光谱测量，还能够适用于微量物质的光谱测量，具有较高的适用范围。

技术研发人员：付延文,裴婵
受保护的技术使用者：上海闻奕光电科技有限公司
技术研发日：20230424
技术公布日：2024/1/15