本技术涉及芯片，尤其涉及一种射频芯片测试系统。
背景技术：
1、射频芯片在设计完成后，需要对芯片进行测试，以判断射频芯片是否满足设计要求。由于射频芯片通常是包括多个端口的，在测试的时候，每个端口都需要进行相应的测试，在相关测试系统中，由于测试系统只支持单个端口的测试，因此在射频芯片测试时需要测完一个端口后需要手动更换射频线接到第二个端口依次测试，这样就造成了测试效率较低，且由于在手动更换射频线的时候，容易引入一些其他的干扰因素，使得测试结果不准确。
2、因此，为了解决上述问题，本实用新型提供了一种测试效率及稳定性均较高的射频芯片测试系统。
技术实现思路
1、本实用新型提供了一种射频芯片测试系统，旨在解决现有测试链路测试效率较低及测试稳定性较差的问题。
2、为了解决上述技术问题，本实用新型提供了一种射频芯片测试系统，包括：测试信号输入端、第一测试模块、测试板、控制模块、第二测试模块和测试信号输出端，其中，所述第一测试模块的第一端与所述测试信号输入端连接，所述第二测试模块的第二端与所述测试板的输入端连接，所述第一测试模块包括m条前级测试通道，所述m条前级测试通道用于接收所述测试信号输入端输入的第一射频信号，并将所述第一射频信号输入至所述测试板的输入端，m≥2；所述第二测试模块的第一端与所述测试板的输出端连接，所述第二测试模块的第二端与所述测试信号输出端连接，所述第二测试模块包括n条后级测试通道，所述n条后级测试通道用于接收所述测试板的输出端的第二射频信号，并将所述第二射频信号输入至所述测试信号输出端，n≥2；所述控制模块与所述第一测试模块和所述第二测试模块的控制端连接，用于控制所述第一测试模块和所述第二测试模块切换到对应的前级测试通道和后级测试通道。
3、进一步地，所述第一测试模块包括第一多路切换开关，所述第一多路切换开关的动端与所述测试信号输入端连接，所述第一多路切换开关的不动端与所述测试板的输入端连接，所述第一多路切换开关的不动端和所述测试板的输入端之间形成所述m条前级测试通道。
4、进一步地，所述第一测试模块包括依次连接的第一多路切换开关、滤波单元、第一阻抗匹配单元、第二多路切换开关、第一耦合单元、第三多路切换开关，所述第一多路切换开关的不动端与所述测试信号输入端连接，所述第三多路切换开关的不动端与所述测试板的输入端连接，所述第一多路切换开关、所述滤波单元、所述第一阻抗匹配单元、所述第二多路切换开关、所述第一耦合单元和所述第三多路切换开关形成m条前级测试通道。
5、进一步地，所述滤波单元包括环形器及带通滤波器，所述环形器的第一端与所述第一多路切换开关的不动端连接，所述环形器的第二端与所述带通滤波器的第一端连接，所述带通滤波器的第二端与所述第二多路切换开关的不动端连接。
6、进一步地，所述第一阻抗匹配单元包括第一双工器及第一负载，所述第一双工器的第一端与所述滤波单元的第二端连接，所述第一双工器的第二端与所述第一负载连接，所述第一双工器的第三端与所述第二多路切换开关的一个不动端连接。
7、进一步地，所述射频芯片测试系统还包括第一功率计，所述第一耦合单元包括第一低互调耦合器，所述第一低互调耦合器的第一端与所述第二多路切换开关的动端连接，所述第一低互调耦合器的第二端与所述第三多路切换开关的动端连接，所述第一低互调耦合器的第三端与所述第一功率计连接。
8、进一步地，所述第二测试模块包括的依次连接的第四多路切换开关、衰减单元、第五多路切换开关、第二阻抗匹配单元和第六多路切换开关，所述第四多路切换开关的不动端与所述测试板的输出端连接，所述第六多路切换开关的动端与所述测试信号输出端连接，所述第四多路切换开关、所述衰减单元、所述第五多路切换开关、所述第二阻抗匹配单元和所述第六多路切换开关形成所述n条后级测试通道。
9、进一步地，所述第二阻抗匹配单元包括第二双工器及第二负载，所述第二双工器的第一端与所述第五多路切换开关的不动端连接，所述第二双工器的第二端与所述第二负载连接，所述第二双工器的第三端与所述第六多路切换开关的不动端连接。
10、进一步地，所述射频芯片测试系统还包括第二耦合单元，所述第二耦合单元包括第二低互调耦合器，所述第二低互调耦合器的第一端连接至所述衰减单元和所述第五多路切换开关的动端之间。
11、进一步地，所述射频芯片测试系统还包括第二功率计，所述第二功率计与所述第二低互调耦合器的第二端连接。
12、本实用新型所公开的射频芯片测试系统，通过控制模块控制第一测试模块和第二测试模块切换到对应的前级测试通道和后级测试通道，利用第一测试模块中的多条前级测试通道和第二测试模块中的多条后级测试通道替代人工手动更换射频线选择测试端的操作，提高了测试效率及测试稳定性。本实用新型所公开的射频芯片测试系统解决了现有测试系统测试效率较低及测试稳定性较差的问题。
1.一种射频芯片测试系统，其特征在于，包括测试信号输入端、第一测试模块、测试板、控制模块、第二测试模块和测试信号输出端，其中，
2.根据权利要求1所述的射频芯片测试系统，其特征在于，所述第一测试模块包括第一多路切换开关，所述第一多路切换开关的动端与所述测试信号输入端连接，所述第一多路切换开关的不动端与所述测试板的输入端连接，所述第一多路切换开关的不动端和所述测试板的输入端之间形成所述m条前级测试通道。
3.根据权利要求1所述的射频芯片测试系统，其特征在于，所述第一测试模块包括依次连接的第一多路切换开关、滤波单元、第一阻抗匹配单元、第二多路切换开关、第一耦合单元、第三多路切换开关，所述第一多路切换开关的不动端与所述测试信号输入端连接，所述第三多路切换开关的不动端与所述测试板的输入端连接，所述第一多路切换开关、所述滤波单元、所述第一阻抗匹配单元、所述第二多路切换开关、所述第一耦合单元和所述第三多路切换开关形成m条前级测试通道。
4.根据权利要求3所述的射频芯片测试系统，其特征在于，所述滤波单元包括环形器及带通滤波器，所述环形器的第一端与所述第一多路切换开关的不动端连接，所述环形器的第二端与所述带通滤波器的第一端连接，所述带通滤波器的第二端与所述第二多路切换开关的不动端连接。
5.根据权利要求3所述的射频芯片测试系统，其特征在于，所述第一阻抗匹配单元包括第一双工器及第一负载，所述第一双工器的第一端与所述滤波单元的第二端连接，所述第一双工器的第二端与所述第一负载连接，所述第一双工器的第三端与所述第二多路切换开关的一个不动端连接。
6.根据权利要求3所述的射频芯片测试系统，其特征在于，所述射频芯片测试系统还包括第一功率计，所述第一耦合单元包括第一低互调耦合器，所述第一低互调耦合器的第一端与所述第二多路切换开关的动端连接，所述第一低互调耦合器的第二端与所述第三多路切换开关的动端连接，所述第一低互调耦合器的第三端与所述第一功率计连接。
7.根据权利要求1-6任一项所述的射频芯片测试系统，其特征在于，所述第二测试模块包括的依次连接的第四多路切换开关、衰减单元、第五多路切换开关、第二阻抗匹配单元和第六多路切换开关，所述第四多路切换开关的不动端与所述测试板的输出端连接，所述第六多路切换开关的动端与所述测试信号输出端连接，所述第四多路切换开关、所述衰减单元、所述第五多路切换开关、所述第二阻抗匹配单元和所述第六多路切换开关形成所述n条后级测试通道。
8.根据权利要求7所述的射频芯片测试系统，其特征在于，所述第二阻抗匹配单元包括第二双工器及第二负载，所述第二双工器的第一端与所述第五多路切换开关的不动端连接，所述第二双工器的第二端与所述第二负载连接，所述第二双工器的第三端与所述第六多路切换开关的不动端连接。
9.根据权利要求8所述的射频芯片测试系统，其特征在于，所述射频芯片测试系统还包括第二耦合单元，所述第二耦合单元包括第二低互调耦合器，所述第二低互调耦合器的第一端连接至所述衰减单元和所述第五多路切换开关的动端之间。
10.根据权利要求9所述的射频芯片测试系统，其特征在于，所述射频芯片测试系统还包括第二功率计，所述第二功率计与所述第二低互调耦合器的第二端连接。