一种新型IC测试板锁紧机构的制作方法

本技术涉及集成电路测试，特别是涉及一种新型ic测试板锁紧机构。

背景技术：

1、集成电路自动测试系统(ate，automatic test equipment)的测试头与受测设备(dut，device under test)之间的通信，需要通过ic测试板作为媒介。其中，通常使用插针插孔连接器等电连接装置对测试头和ic测试板进行电连接。随着测试需求的不断提高，测试头与ic测试板之间的电连接装置数量也不断增多，连接时所需要的锁紧力达到了数千牛，需要使用专用机构进行锁紧。

2、现有的集成电路自动测试系统中，通常使用能将水平运动转化为垂直运动的斜楔机构来完成ic测试板的下压锁紧。但是，斜楔机构动作时，对ic测试板不仅会产生垂直的锁紧力，还会产生一个有害的水平分力，降低锁紧时的精度。所述水平分力通常由定位柱抵消，而定位柱受外力，不仅容易松动，降低定位精度，受力超过强度极限时，甚至会断裂。因此，亟需设计一种新型ic测试板锁紧机构来解决以上问题。

技术实现思路

1、本实用新型提供一种新型ic测试板锁紧机构，能够解决现有技术中ic测试板与测试头连接锁紧时锁紧机构会对ic测试板产生水平分力的问题。

2、测试头与ic测试板上设置有电连接装置，一种新型ic测试板锁紧机构包括：装配于ic测试板上的框架结构，所述框架结构相对的两侧倾斜地设置有第一限位导轨、装配于测试头上的锁紧模块与面板，所述锁紧模块设置有驱动机构，所述驱动机构设置有至少两组数量相等的第一滑块，两组所述第一滑块用于做相向运动或相离运动并与所述第一限位导轨对应配合。

3、进一步地，所述框架结构上设置有定位孔，所述面板上设置有对应的定位柱。

4、进一步地，所述锁紧模块呈“回”字型，所述面板居中设置于所述锁紧模块中间开口，所述锁紧模块和所述面板都是独立地、可拆卸地装配于测试头上。

5、进一步地，所述驱动机构包括：正反牙丝杆、活动板，所述活动板设置有丝杆螺母，用于啮合于所述正反牙丝杆左旋螺纹段或右旋螺纹段上，所述活动板具有垂直部，所述第一滑块水平地设置于所述垂直部上；

6、所述锁紧模块水平地设置有第二滑块，所述垂直部上水平地设置有第二限位导轨，所述第二滑块与所述第二限位导轨对应配合。

7、进一步地，所述第一滑块为第一凸轮从动轴承，所述第二滑块为第二凸轮从动轴承。

8、进一步地，所述正反牙丝杆设置有轴承，装配于所述锁紧模块，所述正反牙丝杆端部设置有把手，用于驱动所述正反牙丝杆旋转。

9、进一步地，所述锁紧模块两侧相对地设置有两组所述驱动机构，两组所述驱动机构通过联动机构以实现同步运动。

10、进一步地，所述联动机构为同步带机构。

11、进一步地，所述框架结构两侧相对设置有把手。

12、进一步地，所述锁紧模块两侧相对设置有把手。

13、本实用新型技术方案的其他特征和优点将在后续的说明与附图中加以阐述。

技术特征：

1.一种新型ic测试板锁紧机构，其特征在于，包括：装配于ic测试板上的框架结构，所述框架结构相对的两侧倾斜地设置有第一限位导轨、装配于测试头上的锁紧模块与面板，所述锁紧模块设置有驱动机构，所述驱动机构设置有至少两组数量相等的第一滑块，两组所述第一滑块用于做相向运动或相离运动并与所述第一限位导轨对应配合。

2.根据权利要求1所述的新型ic测试板锁紧机构，其特征在于，所述框架结构上设置有定位孔，所述面板上设置有对应的定位柱。

3.根据权利要求1所述的新型ic测试板锁紧机构，其特征在于，所述锁紧模块呈“回”字型，所述面板居中设置于所述锁紧模块中间开口，所述锁紧模块和所述面板都是独立地、可拆卸地装配于测试头上。

4.根据权利要求1所述的新型ic测试板锁紧机构，其特征在于，所述驱动机构包括：正反牙丝杆、活动板，所述活动板设置有丝杆螺母，用于啮合于所述正反牙丝杆左旋螺纹段或右旋螺纹段上，所述活动板具有垂直部，所述第一滑块水平地设置于所述垂直部上；

5.根据权利要求4所述的新型ic测试板锁紧机构，其特征在于，所述第一滑块为第一凸轮从动轴承，所述第二滑块为第二凸轮从动轴承。

6.根据权利要求4所述的新型ic测试板锁紧机构，其特征在于，所述正反牙丝杆设置有轴承，装配于所述锁紧模块，所述正反牙丝杆端部设置有把手，用于驱动所述正反牙丝杆旋转。

7.根据权利要求1所述的新型ic测试板锁紧机构，其特征在于，所述锁紧模块两侧相对地设置有两组所述驱动机构，两组所述驱动机构通过联动机构以实现同步运动。

8.根据权利要求7所述的新型ic测试板锁紧机构，其特征在于，所述联动机构为同步带机构。

9.根据权利要求1所述的新型ic测试板锁紧机构，其特征在于，所述框架结构两侧相对设置有把手。

10.根据权利要求1所述的新型ic测试板锁紧机构，其特征在于，所述锁紧模块两侧相对设置有把手。

技术总结
本技术涉及一种新型IC测试板锁紧机构，包括装配于IC测试板上的框架结构，所述框架结构相对的两侧倾斜地设置有第一限位导轨、装配于测试头上的锁紧模块与面板，所述锁紧模块设置有驱动机构，所述驱动机构设置有至少两组数量相等的第一滑块，两组所述第一滑块用于做相向运动或相离运动并与所述第一限位导轨对应配合。本技术提供的一种新型IC测试板锁紧机构，便于拆卸，可用于IC测试板1与测试头3的连接锁紧，并消除锁紧动作对IC测试板1产生的水平分力，有利于提高IC测试板1与测试头3对接锁紧时的精度与稳定性。

技术研发人员：张朝霖,冼贞明,林建杜
受保护的技术使用者：厦门芯泰达集成电路有限公司
技术研发日：20230508
技术公布日：2024/1/15