一种便于拆装的H3TRB实验工装的制作方法

本技术涉及测试工装，特别是一种便于拆装的h3trb实验工装。

背景技术：

1、在做h3trb(high temperature and high humidity reverse bias)又称高温高湿反偏测试实验时，igbt模块安装需要用螺丝将测试线固定在模块的主端子上。现有的实验工装具有结构简单，成本较低的优点。但存在以下问题，在测试过程中，冷压端子与测试线容易断开，导致测试中途失败。在实验完成后，在用内六角扳手拧下螺丝时，由于主端子受力不均，容易致使模块的主端子与主体断开。

技术实现思路

1、有鉴于此，本实用新型提供了一种便于拆装的h3trb实验工装，以解决上述技术问题。

2、一种便于拆装的h3trb实验工装，其包括一个底座，四个一端设置在所述底座上的支柱，以及一个与所述支柱另一端连接的探针组件，所述底座包括一个底座主体，以及多个间隔对称设置在所述底座主体上的定位孔，所述探针组件包括一个pcb板，四个分别设置在所述pcb板拐角处的锁紧螺母，多个设置在所述pcb板上的抵接探针，至少两个设置在所述pcb板上的辅助探针，以及多个设置在所述pcb板上的香蕉插头母座，所述pcb板上嵌入设置有第一传导片、第二传导片以及第三传导片，所述抵接探针包括一个抵接主体，一个设置于所述抵接主体朝向所述底座端部上的抵接活动端，以及一个套设在所述抵接主体上且两端分别与所述pcb板以及抵接活动端连接的弹性件，所述辅助探针朝向所述底座的一端为多段式弹性伸缩结构，所述香蕉插头母座贯穿设置于所述pcb板上，所述香蕉插头母座的插入端背向所述底座设置。

3、进一步地，多个所述定位孔为盲孔。

4、进一步地，所述支柱的外形为六边形。

5、进一步地，所述锁紧螺母的数量与所述支柱的数量相同。

6、进一步地，所述抵接探针贯穿设置于所述pcb板上。进一步地，所述辅助探针贯穿设置于所述pcb板上。

7、进一步地，所述抵接探针在自然状态下的长度小于所述支柱的长度。

8、进一步地，所述辅助探针在自然状态下的长度小于所述支柱的长度。

9、与现有技术相比，本实用新型提供的一种便于拆装的h3trb实验工装通过所述抵接探针与被测模块直接抵触，并且通过所述辅助探针与被测模块上的辅助端子抵接。不易损坏，且所述抵接探针与辅助探针与被测模块接触稳定，测试过程安全性更高。并且所述抵接探针与辅助探针代替传统的接线方式，有效的避免了因拆卸模块带来的损坏模块的主端子的问题。使用所述香蕉插头母座，使得测试线连接更加方便。

技术特征：

1.一种便于拆装的h3trb实验工装，其特征在于：所述便于拆装的h3trb实验工装包括一个底座，四个一端设置在所述底座上的支柱，以及一个与所述支柱另一端连接的探针组件，所述底座包括一个底座主体，以及多个间隔对称设置在所述底座主体上的定位孔，所述探针组件包括一个pcb板，四个分别设置在所述pcb板拐角处的锁紧螺母，多个设置在所述pcb板上的抵接探针，至少两个设置在所述pcb板上的辅助探针，以及多个设置在所述pcb板上的香蕉插头母座，所述pcb板上嵌入设置有第一传导片、第二传导片以及第三传导片，所述抵接探针包括一个抵接主体，一个设置于所述抵接主体朝向所述底座端部上的抵接活动端，以及一个套设在所述抵接主体上且两端分别与所述pcb板以及抵接活动端连接的弹性件，所述辅助探针朝向所述底座的一端为多段式弹性伸缩结构，所述香蕉插头母座贯穿设置于所述pcb板上，所述香蕉插头母座的插入端背向所述底座设置。

2.如权利要求1所述的便于拆装的h3trb实验工装，其特征在于：多个所述定位孔为盲孔。

3.如权利要求1所述的便于拆装的h3trb实验工装，其特征在于：所述支柱的外形为六边形。

4.如权利要求1所述的便于拆装的h3trb实验工装，其特征在于：所述锁紧螺母的数量与所述支柱的数量相同。

5.如权利要求1所述的便于拆装的h3trb实验工装，其特征在于：所述抵接探针贯穿设置于所述pcb板上。

6.如权利要求1所述的便于拆装的h3trb实验工装，其特征在于：所述辅助探针贯穿设置于所述pcb板上。

7.如权利要求1所述的便于拆装的h3trb实验工装，其特征在于：所述抵接探针在自然状态下的长度小于所述支柱的长度。

8.如权利要求1所述的便于拆装的h3trb实验工装，其特征在于：所述辅助探针在自然状态下的长度小于所述支柱的长度。

技术总结
一种便于拆装的H3TRB实验工装，其包括底座，支柱，以及探针组件。所述底座包括底座主体，以及定位孔。所述探针组件包括PCB板，四锁紧螺母，抵接探针，辅助探针，以及香蕉插头母座。所述香蕉插头母座贯穿设置于所述PCB板上，所述香蕉插头母座的插入端背向所述底座设置。该便于拆装的H3TRB实验工装通过所述抵接探针与被测模块直接抵触，并且通过所述辅助探针与被测模块上的辅助端子抵接。不易损坏，且所述抵接探针与辅助探针与被测模块接触稳定，测试过程安全性更高。并且所述抵接探针与辅助探针代替传统的接线方式，有效的避免了因拆卸模块带来的损坏模块的主端子的问题。使用所述香蕉插头母座，使得测试线连接更加方便。

技术研发人员：王成吉,丁鹏,梁剑
受保护的技术使用者：赛晶亚太半导体科技（浙江）有限公司
技术研发日：20230506
技术公布日：2024/1/15