一种集成电路测试座的制作方法

本技术涉及集成电路检测装置相关，特别涉及一种集成电路测试座。

背景技术：

1、集成电路在生产或者使用前常需要进行测试作业，通常将集成电路芯片的引脚插入到测试座的定位卡槽中，利用卡槽中的测试弹簧和探针与芯片的引脚电性连接，并将测试座与计算机连接，以进行测试作业。

2、现有的测试座一般由一个测试底座和一个盖板组成，在测试时需要将集成电路芯片的引脚插入到测试座的定位卡槽中，测试完成后需要人工将电路芯片取下，由于电路芯片的引脚和定位卡槽都呈竖直状态，引脚在拆卸的过程中容易因施力不均从而使得引脚发生损坏，从而降低该测试座对集成电路器件的测试效率，并使得被测试器件无法加入后续加工过程。

技术实现思路

1、本实用新型的目的在于提供一种集成电路测试座，以解决上述背景技术中提出的问题。

2、为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种集成电路测试座，包括底座，其顶端通过合页转动连接有盖板，所述盖板的顶端设置有散热机构；

3、所述底座的顶端开设有检测槽，所述检测槽的内部设置有顶出机构；

4、所述顶出机构包括有顶出板、连接杆、压缩弹簧和定位件，所述检测槽内壁的底端开设有顶出槽，所述顶出板与顶出槽的内腔滑动穿插连接，所述顶出槽内壁的底端开设有两个连接槽，两个所述连接杆的一端均与顶出板连接，两个所述连接杆的另一端分别与两个连接槽的内腔滑动穿插连接，所述压缩弹簧位于连接槽的内部，所述定位件设置于底座的一边侧，所述定位件与连接杆相互配合。

5、优选的，所述压缩弹簧的一端与连接杆固定连接，所述压缩弹簧的另一端与连接槽的内壁固定连接。

6、优选的，所述连接杆的两侧均固定连接有限位块，所述连接槽内壁的两侧均开设有限位槽，所述限位块与限位槽的内腔滑动穿插连接。

7、优选的，所述顶出板包括有板体、遮挡板和滑块，所述板体的底端与两个连接杆的顶端固定连接，所述板体的顶端开设有两个滑槽，两个所述滑块分别与两个滑槽的内腔滑动穿插连接，所述滑槽内壁的底端开设有两个定位槽，所述滑块与定位槽的内腔滑动穿插连接，两个所述遮挡板分别固定连接于两个滑块的顶端。

8、优选的，所述定位件包括有定位杆、定位板和限位板，两个所述连接槽内壁的一边侧均开设有通槽，所述定位杆与通槽的内腔滑动穿插连接，两个所述定位杆均与定位板固定连接，所述连接杆的一边侧开设有定位孔，所述定位杆与定位孔的内腔滑动穿插连接，所述限位板通过转轴与底座转动连接，所述限位板与定位板相互配合。

9、优选的，所述散热机构包括有散热板和散热片，所述散热板嵌设于盖板的底端，多个所述散热片等距固定连接于散热板的顶端，多个所述散热片均嵌设于盖板的内部。

10、优选的，所述底座的顶端嵌设有铁片，所述盖板与底座相对的一侧嵌设有磁铁，所述磁铁与铁片相互配合。

11、本实用新型的技术效果和优点：

12、本实用新型利用顶出板、连接杆、压缩弹簧和定位件相配合的设置方式，通过定位件使得连接杆带动顶出板收纳在顶出槽的内部，此时可将集成电路芯片放置在检测槽的内部，并进行检测，在检测完成后只需通过解除定位件对连接杆的定位，即可在压缩弹簧的弹性作用力下使得顶出板将检测后的集成电路芯片竖直顶出，无需人工接触即可取下，解决了集成电路器件在测试后拔出的过程中引脚容易损坏的弊端，确保了该测试座对集成电路器件的测试效率。

技术特征：

1.一种集成电路测试座，包括：

2.根据权利要求1所述的一种集成电路测试座，其特征在于，所述压缩弹簧(33)的一端与连接杆(32)固定连接，所述压缩弹簧(33)的另一端与连接槽的内壁固定连接。

3.根据权利要求1所述的一种集成电路测试座，其特征在于，所述连接杆(32)的两侧均固定连接有限位块(4)，所述连接槽内壁的两侧均开设有限位槽，所述限位块(4)与限位槽的内腔滑动穿插连接。

4.根据权利要求1所述的一种集成电路测试座，其特征在于，所述顶出板(31)包括有板体(311)、遮挡板(312)和滑块(313)，所述板体(311)的底端与两个连接杆(32)的顶端固定连接，所述板体(311)的顶端开设有两个滑槽，两个所述滑块(313)分别与两个滑槽的内腔滑动穿插连接，所述滑槽内壁的底端开设有两个定位槽，所述滑块(313)与定位槽的内腔滑动穿插连接，两个所述遮挡板(312)分别固定连接于两个滑块(313)的顶端。

5.根据权利要求1所述的一种集成电路测试座，其特征在于，所述定位件(34)包括有定位杆(341)、定位板(342)和限位板(343)，两个所述连接槽内壁的一边侧均开设有通槽，所述定位杆(341)与通槽的内腔滑动穿插连接，两个所述定位杆(341)均与定位板(342)固定连接，所述连接杆(32)的一边侧开设有定位孔，所述定位杆(341)与定位孔的内腔滑动穿插连接，所述限位板(343)通过转轴与底座(1)转动连接，所述限位板(343)与定位板(342)相互配合。

6.根据权利要求1所述的一种集成电路测试座，其特征在于，所述散热机构(5)包括有散热板(51)和散热片(52)，所述散热板(51)嵌设于盖板(2)的底端，多个所述散热片(52)等距固定连接于散热板(51)的顶端，多个所述散热片(52)均嵌设于盖板(2)的内部。

7.根据权利要求1所述的一种集成电路测试座，其特征在于，所述底座(1)的顶端嵌设有铁片(6)，所述盖板(2)与底座(1)相对的一侧嵌设有磁铁(7)，所述磁铁(7)与铁片(6)相互配合。

技术总结
本技术公开了一种集成电路测试座，包括底座，底座的顶端开设有检测槽，检测槽的内部设置有顶出机构，顶出机构包括有顶出板、连接杆、压缩弹簧和定位件，检测槽内壁的底端开设有顶出槽，顶出板与顶出槽的内腔连接，顶出槽内壁的底端开设有两个连接槽，两个连接杆的一端均与顶出板连接，两个连接杆的另一端分别与两个连接槽的内腔滑动穿插连接，压缩弹簧位于连接槽的内部。本技术利用顶出板、连接杆、压缩弹簧和定位件相配合的设置方式，可将检测后的集成电路芯片竖直顶出，无需人工接触即可取下，解决了集成电路器件在测试后拔出的过程中引脚容易损坏的弊端，确保了该测试座对集成电路器件的测试效率。

技术研发人员：史伟,钦礼辉,梁天宇
受保护的技术使用者：徐州领测半导体科技有限公司
技术研发日：20230510
技术公布日：2024/1/15