一种焊缝缺陷检测装置的制作方法

本技术涉及焊缝检测，具体涉及一种焊缝缺陷检测装置。

背景技术：

1、焊缝缺陷检测是指对焊接成果进行质量检测，目的是保证焊接结构的完整性、可靠性、安全性和实用性，超声波探伤属于焊缝无损检测中的一种，因此得到广泛使用。

2、现有的超声波焊缝探伤装置在使用时，大多需要检测人员手持探头在焊缝表面及周边进行滑动探测，无法做到脱手操作，而且探头不被固定容易位移，会影响检测精度。

技术实现思路

1、为此，本实用新型提供一种焊缝缺陷检测装置，通过设置检测机构，以解决上述背景技术中提到的问题。

2、为了实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种焊缝缺陷检测装置，包括托板，所述托板顶部一侧固定连接有支撑板，所述支撑板一侧设有焊缝检测仪，所述焊缝检测仪通过探头线连接有斜探头，所述托板顶部设有检测机构；

3、所述检测机构包括倒u形的支架、矩形块、t形的活动件，所述支架底部两端分别与托板顶部两端固定连接，所述支架的内顶壁开设有t字形的滑槽，所述矩形块的顶部两侧均一体成型有滑块，所述矩形块及滑块通过滑槽与支架滑动连接，所述矩形块底端开设有活动槽，所述活动件通过活动槽与矩形块滑动连接，所述矩形块两侧还开设有与活动槽相通的通槽，所述活动件顶部两端分别通过两个通槽与矩形块滑动连接，所述活动槽内设有弹簧，所述弹簧的顶部和底部分别与活动槽的内顶壁和活动件的顶部固定连接，所述活动件底部与斜探头的顶部连接，所述检测机构还包括驱动组件。

4、优选的，所述驱动组件包括减速电机与螺纹杆，所述减速电机安装在支架的一端顶部且输出轴与螺纹杆一端固定连接。

5、优选的，所述螺纹杆两端分别通过轴承与支架顶部两端活动连接，所述螺纹杆贯穿矩形块顶部且与矩形块螺纹连接。

6、优选的，所述活动件底端开设有安装槽，所述安装槽内顶壁固定连接有磁块a。

7、优选的，所述斜探头顶部粘结有磁块b，所述磁块b插入到安装槽内并与磁块a相互吸附。

8、优选的，所述支架一侧开设有竖槽，所述探头线从竖槽中穿过。

9、优选的，所述托板顶部一侧固定连接有工具盒，所述工具盒顶部开口。

10、优选的，所述支撑板一侧底部固定连接有角板，所述焊缝检测仪位于两个角板上。

11、本实用新型实施例具有如下优点：

12、1、本实用新型通过设置检测机构，可在减速电机的驱动下，带动斜探头进行匀速移动探伤，使检测人员解放双手，更便于进行操作，提高检测效率。

13、2、本实用新型通过设置磁性连接的斜探头，可便于快速拆装及更换，同时斜探头被弹簧紧压在工件表面，可防止出现位移的情况，有效提高检测精度。

技术特征：

1.一种焊缝缺陷检测装置，包括托板(1)，其特征在于：所述托板(1)顶部一侧固定连接有支撑板(2)，所述支撑板(2)一侧设有焊缝检测仪(3)，所述焊缝检测仪(3)通过探头线(18)连接有斜探头(4)，所述托板(1)顶部设有检测机构；

2.根据权利要求1所述的一种焊缝缺陷检测装置，其特征在于：所述驱动组件包括减速电机(11)与螺纹杆(12)，所述减速电机(11)安装在支架(5)的一端顶部且输出轴与螺纹杆(12)一端固定连接。

3.根据权利要求2所述的一种焊缝缺陷检测装置，其特征在于：所述螺纹杆(12)两端分别通过轴承与支架(5)顶部两端活动连接，所述螺纹杆(12)贯穿矩形块(6)顶部且与矩形块(6)螺纹连接。

4.根据权利要求1所述的一种焊缝缺陷检测装置，其特征在于：所述活动件(7)底端开设有安装槽，所述安装槽内顶壁固定连接有磁块a(13)。

5.根据权利要求4所述的一种焊缝缺陷检测装置，其特征在于：所述斜探头(4)顶部粘结有磁块b(14)，所述磁块b(14)插入到安装槽内并与磁块a(13)相互吸附。

6.根据权利要求1所述的一种焊缝缺陷检测装置，其特征在于：所述支架(5)一侧开设有竖槽(15)，所述探头线(18)从竖槽(15)中穿过。

7.根据权利要求1所述的一种焊缝缺陷检测装置，其特征在于：所述托板(1)顶部一侧固定连接有工具盒(16)，所述工具盒(16)顶部开口。

8.根据权利要求1所述的一种焊缝缺陷检测装置，其特征在于：所述支撑板(2)一侧底部固定连接有角板(17)，所述焊缝检测仪(3)位于两个角板(17)上。

技术总结
本技术公开了一种焊缝缺陷检测装置，其技术方案是：包括托板，托板顶部一侧固定连接有支撑板，支撑板一侧设有焊缝检测仪，焊缝检测仪通过探头线连接有斜探头，托板顶部设有检测机构，检测机构包括倒U形的支架、矩形块、T形的活动件，支架底部两端分别与托板顶部两端固定连接，支架的内顶壁开设有T字形的滑槽，矩形块的顶部两侧均一体成型有滑块，矩形块及滑块通过滑槽与支架滑动连接，矩形块底端开设有活动槽，活动件通过活动槽与矩形块滑动连接，一种焊缝缺陷检测装置的有益效果是：本技术通过设置检测机构，可在减速电机的驱动下，带动斜探头进行匀速移动探伤，使检测人员解放双手，更便于进行操作，提高检测效率。

技术研发人员：罗建华,师晓科,刘佳华,刘怀志,何李超
受保护的技术使用者：深圳市华拓半导体技术有限公司
技术研发日：20230517
技术公布日：2024/1/14