一种芯片测试调试装置的制作方法

本技术属于芯片测试设备，具体涉及一种芯片测试调试装置。

背景技术：

1、随着以触控识别为代表的生物识别技术的飞速发展，电子设备几乎都配备触控识别功能，一般采用电容式或电阻式来实现触控识别，触控芯片测试用于芯片的按压测试；

2、经查公开(公告)号：cn208206681u公开了一种触控芯片的批量按压测试装置，此技术公开了“包括装置本体，所述装置本体包括底座，所述底座分为定位层、吸附层和控制层，所述定位层、所述吸附层和所述控制层由上而下依次排列，所述定位层内设有若干定位槽，所述定位槽的深度与待测芯片的厚度相当等技术内容；仿手指按压在待测芯片的表面，模拟人的手指进行按压动作，仿手指底部内侧的压力传感器实时监测实际压力值等技术效果”；

3、虽然该设计能够模拟人的手指进行按压动作，仿手指底部内侧的压力传感器实时监测实际压力值，并且批量进行检测，但是在实际的使用过程中，在对不同批次的芯片进行批量检测时，装置不方便加装多余真空管用于固定芯片，无法根据使用需求灵活调整单次测试的芯片数量，实用性较差；

4、为解决上述问题，本申请中提出一种芯片测试调试装置。

技术实现思路

1、为解决上述背景技术中提出的问题。本实用新型提供了一种芯片测试调试装置，具有根据生产需求进行加装真空管，装置可根据不同批次的芯片，调节真空管的数量，可以根据使用需求灵活调整单次测试的芯片数量的特点。

2、为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种芯片测试调试装置，包括若干组真空管，还包括设置在所述真空管一侧的连接组件；

3、所述连接组件包括设置在所述真空管一侧的长板以及固定在所述长板顶部的第二固定板和滑动连接在所述长板内部的移动块，所述移动块的顶部两组均开设有第一螺纹槽组。

4、作为本实用新型一种芯片测试调试装置优选的，第一螺纹槽组上方设置有第一连接板，所述第一连接板的顶部开设有若干组第二螺纹槽组，第一螺纹槽组与所述第二螺纹槽组通过第一固定螺母固定连接，所述第二固定板的顶部两侧开设有第三螺纹槽组，所述第二固定板的顶部开设有若干个组第四螺纹槽组，第三螺纹槽组与第四螺纹槽组通过第二固定螺母固定连接，所述长板的表面开设有两组条形槽，所述条形槽内部滑动连接有旋转滑动栓头，所述移动块的顶部开设有与所述旋转滑动栓头相适配的第一通孔，所述真空管的的外表面固定有移动板，所述移动板靠近所述长板一端开设有与所述旋转滑动栓头相适配的第二通孔，所述旋转滑动栓头的顶部外表面开设有螺纹，所述旋转滑动栓头的顶部螺纹连接有栓头螺纹帽。

5、作为本实用新型一种芯片测试调试装置优选的，所述移动块远离所述真空管的一侧固定有伸缩杆，所述长板远离所述真空管的顶部一端固定有伸缩座，所述伸缩杆远离所述移动块的一端固定在所述伸缩座的内部。

6、作为本实用新型一种芯片测试调试装置优选的，其中一组所述长板的底部固定连接有顶升电机，所述顶升电机的底部固定连接有减速电机，所述减速电机的底部固定连接有安装主架。

7、作为本实用新型一种芯片测试调试装置优选的，还包括设置在所述真空管底部的放置工装组件，所述放置工装组件包括设置在所述真空管底部的底架以及固定在所述底架顶部的电动转盘和转动连接在所述电动转盘输出端的旋转盘。

8、作为本实用新型一种芯片测试调试装置优选的，所述旋转盘的顶部环形阵列开设有若干组工装槽。

9、作为本实用新型一种芯片测试调试装置优选的，所述底架的输入轴连接有伺服电机，所述安装主架的外壁固定在所述底架的内壁上。

10、与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

11、通过设置的连接组件，装置根据生产需求进行加装真空管，装置可根据不同批次的芯片，调节真空管的数量，可以根据使用需求灵活调整单次测试的芯片数量，真空管的位置可进行调节，通过设置的放置工装组件，可对芯片的位置进行调节，从而适应后续的上料和下料步骤。

技术特征：

1.一种芯片测试调试装置，包括若干组真空管(1)，其特征在于：还包括设置在所述真空管(1)一侧的连接组件(2)；

2.根据权利要求1所述的芯片测试调试装置，其特征在于：所述移动块(24)远离所述真空管(1)的一侧固定有伸缩杆(29)，所述长板(21)远离所述真空管(1)的顶部一端固定有伸缩座(28)，所述伸缩杆(29)远离所述移动块(24)的一端固定在所述伸缩座(28)的内部。

3.根据权利要求1所述的芯片测试调试装置，其特征在于：其中一组所述长板(21)的底部固定连接有顶升电机(205)，所述顶升电机(205)的底部固定连接有减速电机(206)，所述减速电机(206)的底部固定连接有安装主架(25)。

4.根据权利要求3所述的芯片测试调试装置，其特征在于：还包括设置在所述真空管(1)底部的放置工装组件(3)，所述放置工装组件(3)包括设置在所述真空管(1)底部的底架(35)以及固定在所述底架(35)顶部的电动转盘(34)和转动连接在所述电动转盘(34)输出端的旋转盘(31)。

5.根据权利要求4所述的芯片测试调试装置，其特征在于：所述旋转盘(31)的顶部环形阵列开设有若干组工装槽(32)。

6.根据权利要求4所述的芯片测试调试装置，其特征在于：所述底架(35)的输入轴连接有伺服电机(33)，所述安装主架(25)的外壁固定在所述底架(35)的内壁上。

技术总结
本技术属于芯片测试设备技术领域，尤其为一种芯片测试调试装置，包括若干组真空管，还包括设置在所述真空管一侧的连接组件；所述连接组件包括设置在所述真空管一侧的长板以及固定在所述长板顶部的第二固定板和滑动连接在所述长板内部的移动块，所述移动块的顶部两组均开设有第一螺纹槽组，所述第一连接板的顶部开设有若干组第二螺纹槽组，第一螺纹槽组与所述第二螺纹槽组通过第一固定螺母固定连接，通过设置的连接组件，装置根据生产需求进行加装真空管，装置可根据不同批次的芯片，调节真空管的数量，真空管的位置可进行调节，通过设置的放置工装组件，可对芯片的位置进行调节，从而适应后续的上料和下料步骤。

技术研发人员：秦健,张强,陈华平,周毅,王成涛
受保护的技术使用者：深圳海关玩具检测技术中心
技术研发日：20230523
技术公布日：2024/1/15