一种便于定位的集成电路检测用检测镜的制作方法

本技术属于检测设备，尤其涉及一种便于定位的集成电路检测用检测镜。

背景技术：

1、检测设备是一种对零件进行生产加工检测的一种设备，保证生产的合格性，通过对电路板进行放大观察外观检测完整性，根据不用规格的零件可对检测仪的检测高度随时进行调整，然而现有的检测设备调节高度时，是通过螺栓进行旋转固定，然而通过螺栓固定长时间使用会出现松动的情况，导致探测杆落下，损坏设备的同时会对电路板造成损坏，为了可以稳定固定探测杆，从而提出一种便于定位的集成电路检测用检测镜，在对探测杆进行安装固定时，便于工作人员进行操作和使用，防止探测杆掉落。

技术实现思路

1、针对现有技术存在的问题，本实用新型提供了一种便于定位的集成电路检测用检测镜，具备对探测杆稳定固定的优点，解决了现有现有的检测设备调节高度时，是通过螺栓进行旋转固定，然而通过螺栓固定长时间使用会出现松动的情况，导致探测杆落下，损坏设备的同时会对电路板造成损坏，为了可以稳定固定探测杆，从而提出一种便于定位的集成电路检测用检测镜，在对探测杆进行安装固定时，便于工作人员进行操作和使用，防止探测杆掉落的问题。

2、本实用新型是这样实现的，一种便于定位的集成电路检测用检测镜，包括放置板、支柱、探测杆和定位块，所述放置板的顶部与支柱的底部固定连接，所述支柱套设于探测杆的表面，所述支柱的顶部与定位块的底部固定连接，所述定位块的内部开设有定位腔，所述定位腔的内部设有调节机构和定位机构，所述调节机构的右侧贯穿至定位块的右侧，所述定位机构与探测杆配合使用。

3、作为本实用新型优选的，所述调节机构包括移动杆、固定柱、弯杆和横杆，所述移动杆的右侧贯穿至定位块的右侧，所述移动杆的左侧贯穿至定位块的内部，所述移动杆的顶部与固定柱的底部固定连接，所述固定柱的顶部贯穿至弯杆的顶部，所述弯杆通过转轴活动连接于定位腔的内部，所述弯杆与横杆配合使用，所述横杆通过第一转轴活动连接于定位腔的内部，所述横杆与定位机构配合使用，通过设置调节机构，能够使在对其探测杆进行调节时，便于工作人员进行操作，增加其便利性。

4、作为本实用新型优选的，所述定位机构包括移动柱、连接杆、定位杆和拉簧，所述移动柱的顶部贯穿至横杆的顶部，所述移动柱的底部与连接杆的顶部固定连接，所述连接杆的后侧与拉簧的前侧固定连接，所述拉簧的后侧与定位腔的内壁固定连接，所述连接杆的后侧与定位杆的前侧固定连接，所述定位杆的后侧贯穿至探测杆的内部，通过设置定位机构，能够使在对探测杆进行调节固定时，使其稳定固定在支柱的表面，防止在使用时掉落。

5、作为本实用新型优选的，所述探测杆的表面开设有固定槽，所述固定槽的数量为若干且均匀分布在探测杆的表面，通过设置固定槽，能够使定位杆在进行插接固定时，准确的插入到固定槽的内部。

6、作为本实用新型优选的，所述定位腔的内部开设有限制槽，所述限制槽与连接杆配合使用，通过设置限制槽，能够使连接杆按照限制槽提供的移动轨迹进行移动。

7、作为本实用新型优选的，所述横杆的顶部开设有行程槽，所述行程槽与移动柱配合使用，通过设置行程槽，能够限制移动柱的移动方向及行程，保证结构的正常使用。

8、作为本实用新型优选的，所述弯杆的顶部开设有滑动槽，所述滑动槽与固定柱配合使用，通过设置滑动槽，能够使固定柱在移动时，限制其移动方向及行程，防止超出行程造成结构损坏。

9、与现有技术相比，本实用新型的有益效果如下：

10、1、本实用新型通过设置放置板、支柱、探测杆、定位块、调节机构和定位机构的配合使用，通过对调节机构和定位机构的调整，在对探测杆进行调整时，便于工作人员进行操作和使用，防止在使用时掉落造成零件损坏，达到了现有的检测设备调节高度时，是通过螺栓进行旋转固定，然而通过螺栓固定长时间使用会出现松动的情况，导致探测杆落下，损坏设备的同时会对电路板造成损坏，为了可以稳定固定探测杆，从而提出一种便于定位的集成电路检测用检测镜，在对探测杆进行安装固定时，便于工作人员进行操作和使用，防止探测杆掉落的效果。

11、2、本实用新型通过设置调节机构和定位机构，能够使在对探测杆进行调整固定时，方便工作人员进行操作，可根据零件大小随时对探测杆进行调整。

技术特征：

1.一种便于定位的集成电路检测用检测镜，包括放置板(1)、支柱(2)、探测杆(3)和定位块(4)，其特征在于：所述放置板(1)的顶部与支柱(2)的底部固定连接，所述支柱(2)套设于探测杆(3)的表面，所述支柱(2)的顶部与定位块(4)的底部固定连接，所述定位块(4)的内部开设有定位腔(5)，所述定位腔(5)的内部设有调节机构(6)和定位机构(7)，所述调节机构(6)的右侧贯穿至定位块(4)的右侧，所述定位机构(7)与探测杆(3)配合使用。

2.如权利要求1所述的一种便于定位的集成电路检测用检测镜，其特征在于：所述调节机构(6)包括移动杆(601)、固定柱(602)、弯杆(603)和横杆(604)，所述移动杆(601)的右侧贯穿至定位块(4)的右侧，所述移动杆(601)的左侧贯穿至定位块(4)的内部，所述移动杆(601)的顶部与固定柱(602)的底部固定连接，所述固定柱(602)的顶部贯穿至弯杆(603)的顶部，所述弯杆(603)通过转轴活动连接于定位腔(5)的内部，所述弯杆(603)与横杆(604)配合使用，所述横杆(604)通过第一转轴活动连接于定位腔(5)的内部，所述横杆(604)与定位机构(7)配合使用。

3.如权利要求2所述的一种便于定位的集成电路检测用检测镜，其特征在于：所述定位机构(7)包括移动柱(701)、连接杆(702)、定位杆(703)和拉簧(704)，所述移动柱(701)的顶部贯穿至横杆(604)的顶部，所述移动柱(701)的底部与连接杆(702)的顶部固定连接，所述连接杆(702)的后侧与拉簧(704)的前侧固定连接，所述拉簧(704)的后侧与定位腔(5)的内壁固定连接，所述连接杆(702)的后侧与定位杆(703)的前侧固定连接，所述定位杆(703)的后侧贯穿至探测杆(3)的内部。

4.如权利要求3所述的一种便于定位的集成电路检测用检测镜，其特征在于：所述探测杆(3)的表面开设有固定槽(8)，所述固定槽(8)的数量为若干且均匀分布在探测杆(3)的表面。

5.如权利要求3所述的一种便于定位的集成电路检测用检测镜，其特征在于：所述定位腔(5)的内部开设有限制槽(9)，所述限制槽(9)与连接杆(702)配合使用。

6.如权利要求3所述的一种便于定位的集成电路检测用检测镜，其特征在于：所述横杆(604)的顶部开设有行程槽(10)，所述行程槽(10)与移动柱(701)配合使用。

7.如权利要求2所述的一种便于定位的集成电路检测用检测镜，其特征在于：所述弯杆(603)的顶部开设有滑动槽(11)，所述滑动槽(11)与固定柱(602)配合使用。

技术总结
本技术公开了一种便于定位的集成电路检测用检测镜，包括放置板、支柱、探测杆和定位块，放置板的顶部与支柱的底部固定连接，支柱套设于探测杆的表面，支柱的顶部与定位块的底部固定连接，定位块的内部开设有定位腔。本技术通过设置放置板、支柱、探测杆、定位块、调节机构和定位机构的配合使用，达到了现有的检测设备调节高度时，是通过螺栓进行旋转固定，然而通过螺栓固定长时间使用会出现松动的情况，导致探测杆落下，损坏设备的同时会对电路板造成损坏，为了可以稳定固定探测杆，从而提出一种便于定位的集成电路检测用检测镜，在对探测杆进行安装固定时，便于工作人员进行操作和使用，防止探测杆掉落的效果。

技术研发人员：向国清
受保护的技术使用者：深圳市芯远半导体有限公司
技术研发日：20230523
技术公布日：2024/1/15