一种ITO玻璃电测治具的制作方法

本技术涉及触摸屏，更具体地说，涉及一种ito玻璃电测治具。

背景技术：

1、现有g-g结构的触摸屏制作过程中，在ito玻璃绑定fpc前会对ito玻璃的性能进行检测，会用到一种模拟ito玻璃绑定fpc的工具进行检测，现有的方法是fpc在ito玻璃下面，在检测过程中会通过加压的方式，把ito玻璃的pin脚与fpc的pin脚导通，实现检测ito玻璃的导电线路是否有串连与开路的问题。现有的方法fpc容易折伤，不但会损耗fpc而且更换fpc影响生产效率。因此，需要提出一种更好的技术方案来解决检测过程中fpc出现折伤的情况。

技术实现思路

1、本实用新型提出一种ito玻璃电测治具，旨在解决现有技术中在检测过程中出现的fpc出现折伤的情况。

2、具体的，本实用新型的技术方案为：一种ito玻璃电测治具，包括卡位槽和加压块，卡位槽用于放置ito玻璃，加压块下方设置fpc，加压块下压于ito玻璃，ito玻璃的pin脚能够与fpc的pin脚一一对应压在一起；其中，加压块与ito玻璃接触处的边缘相对于ito玻璃的边缘内缩。

3、作为优选的技术方案，加压块包括第一块和第二块，第一块与第二块垂直设置，第二块下方设置fpc。

4、作为优选的技术方案，加压块下方设有双面粘，fpc通过双面粘固定于加压块上。

5、作为优选的技术方案，ito玻璃的pin脚的厚度是0.3～0.35um。

6、作为优选的技术方案，ito玻璃置于卡位槽，ito玻璃的导电层朝向上方。

7、作为优选的技术方案，卡位槽中设有定位块，定位块能够用于进一步定位卡住ito玻璃。

8、作为优选的技术方案，加压块连接机械手臂，机械手臂带动加压块上下运动。

9、作为优选的技术方案，卡位槽其中一个槽边敞开。

10、作为优选的技术方案，卡位槽设有pcb测试板，fpc与pcb测试板连接。

11、作为优选的技术方案，还包括控制单元，控制单元能够用于控制电测治具的整体运行。

12、本实用新型相对于现有技术取得了以下技术效果：本实用新型技术方案将fpc设计在电测治具的加压块上且加压块比ito玻璃边缘内缩，这样就不会导致ito玻璃边缘的fpc受到两边力的挤压而导致折断(如图3)，这种设计不但可以使fpc上的pin脚避开ito玻璃边缘的外力影响，而且相对原来的设计，本技术方案检测时ito玻璃的导电层是向上的，可以避开导电层接触到检测治具，避免造成划伤ito玻璃的导电层的隐患。

技术特征：

1.一种ito玻璃电测治具，其特征在于，包括卡位槽和加压块，所述卡位槽用于放置所述ito玻璃，所述加压块下方设置fpc，所述加压块下压于所述ito玻璃，所述ito玻璃的pin脚能够与所述fpc的pin脚一一对应压在一起；其中，所述加压块与所述ito玻璃接触处的边缘相对于所述ito玻璃的边缘内缩。

2.根据权利要求1所述的一种ito玻璃电测治具，其特征在于，所述加压块包括第一块和第二块，所述第一块与所述第二块垂直设置，所述第二块下方设置所述fpc。

3.根据权利要求2所述的一种ito玻璃电测治具，其特征在于，所述加压块下方设有双面粘，fpc通过所述双面粘固定于所述加压块上。

4.根据权利要求1所述的一种ito玻璃电测治具，其特征在于，所述ito玻璃的pin脚的厚度是0.3～0.35um。

5.根据权利要求1所述的一种ito玻璃电测治具，其特征在于，所述ito玻璃置于所述卡位槽，所述ito玻璃的导电层朝向上方。

6.根据权利要求1所述的一种ito玻璃电测治具，其特征在于，所述卡位槽中设有定位块，所述定位块能够用于进一步定位卡住所述ito玻璃。

7.根据权利要求1所述的一种ito玻璃电测治具，其特征在于，所述加压块连接机械手臂，所述机械手臂带动所述加压块上下运动。

8.根据权利要求1所述的一种ito玻璃电测治具，其特征在于，所述卡位槽其中一个槽边敞开。

9.根据权利要求1所述的一种ito玻璃电测治具，其特征在于，所述卡位槽设有pcb测试板，所述fpc与所述pcb测试板连接。

10.根据权利要求1-9任一项所述的一种ito玻璃电测治具，其特征在于，还包括控制单元，所述控制单元能够用于控制所述电测治具的整体运行。

技术总结
本技术涉及一种ITO玻璃电测治具，包括卡位槽和加压块，卡位槽用于放置ITO玻璃，加压块下方设置FPC，加压块下压于ITO玻璃，ITO玻璃的PIN脚能够与FPC的PIN脚一一对应压在一起；其中，加压块与ITO玻璃接触处的边缘相对于ITO玻璃的边缘内缩。FPC的PI层厚度是13～15um，ITO玻璃的PIN脚的厚度是0.3～0.35um。ITO玻璃置于卡位槽，ITO玻璃的导电层朝向上方。本技术将FPC设计在电测治具的加压块上且加压块比ITO玻璃边缘内缩，这样就不会导致ITO玻璃边缘的FPC受到两边力的挤压而导致折断，而且相对原来的设计，本技术方案检测时ITO玻璃的导电层是向上的，可以避开导电层接触到检测治具，避免造成划伤ITO玻璃的导电层。

技术研发人员：刘链谋
受保护的技术使用者：信利光电股份有限公司
技术研发日：20230531
技术公布日：2024/2/1