一种半导体芯片用测试装置的制作方法

本技术涉及半导体芯片测试，特别涉及一种半导体芯片用测试装置。

背景技术：

1、半导体测试是在有缺陷的电子元件进入市场或组装成电子产品之前进行识别和丢弃的预测方法。随着半导体电子技术的进步，半导体测试已成为保证质量的关键工业过程。除半导体元件外，pcb，ic半导体试验通常是在老化条件下进行的。半导体试验是对半导体器件施加电应力和热应力，尽快突出固有故障。

2、经检索公开号为cn115308568a的中国专利，公开了一种半导体芯片的自动化测试设备，包括：机箱，机箱的上部设置有操作台且两侧设置有安装架，安装架呈l型结构设置且安装架内侧设置有卷盘安装机构，卷盘安装机构包括连接柱且连接柱与安装架之间转动连接，连接柱的内部设置有安装槽且安装槽的四周设置有活动槽，活动槽的内部设置有调节杆且调节杆通过转轴与活动槽之间转动连接，调节杆的侧面设置有弧形板且弧形板通过螺栓与调节杆之间固定连接，操作台的上部设置有支撑架且支撑架的内部设置有第二滑动槽，第二滑动槽的内部设置有第二电机且第二电机的动力输出端设置有第二螺杆，第二螺杆的表面设置有第二滑动块且第二滑动块的侧面设置有安装板，安装板的下部设置有驱动器且驱动器的动力输出端设置有夹持机构，夹持机构的两侧设置有第三电机且第三电机的动力输出端设置有第三螺杆，第三螺杆的表面设置有第三滑动块，第三滑动块的下部设置有夹杆，第三滑动块设置有两组并相互对称分布，夹杆的内部设置有伸缩槽且伸缩槽的内部设置有弹簧柱，弹簧柱的侧面设置有夹板且夹板通过弹簧柱与伸缩槽之间伸缩连接，操作台的内部设置有转动电机且转动电机的上部设置有转盘，转盘的表面设置有固定槽且固定槽设置有若干组并呈圆周分布，操作台的上部设置有固定架且固定架位于转盘两侧，固定架的下部设置有检测装置且检测装置与固定槽之间相对应，操作台的上部设置有传送机构且传送机构的中部设置有用于取料的通孔。

3、上述中的现有技术方案存在以下不足：测试设备是比较重的，当需要挪动时，需要多人进行抬动，费时费力，而且一旦歪倒，对设备内的元器件会造成震荡，导致设备损坏，实用性不高。

技术实现思路

1、针对现有技术中的上述不足，本实用新型提供了一种半导体芯片用测试装置，以解决上述背景技术中提出的问题。

2、为了达到上述实用新型目的，本实用新型采用的技术方案为一种半导体芯片用测试装置，包括底箱，所述底箱的上侧外壁上固定连接有连接箱，所述连接箱的下侧内壁四角处分别固定连接有阻尼器，所述阻尼器的伸缩端固定连接有芯片测试机，所述阻尼器的外侧套设有减震弹簧，所述减震弹簧的一端与连接箱的下侧内壁固定连接且另一端与芯片测试机固定连接，所述底箱的内部设有移动组件，所述底箱的下侧壁上设有调节组件。

3、作为改进：所述移动组件包括固定连接在底箱一侧内壁上的支撑架，所述支撑架上安装有伺服电机，所述底箱的两侧内壁之间转动连接有两个呈对称分布的双向螺杆，所述双向螺杆靠近伺服电机的一端部固定连接有从动齿轮，所述伺服电机的输出轴端固定连接有主动齿轮，所述主动齿轮与从动齿轮之间通过设有齿带进行传动。

4、作为改进：所述移动组件还包括螺纹连接在双向螺杆上的两个移动块，所述底箱的两侧内壁之间滑动连接有活动板，所述移动块的下侧壁上铰接有连杆，所述连杆的另一端与活动板的上侧壁铰接在一起，所述活动板的下侧壁上四角处分别固定连接有万向轮。

5、作为改进：所述调节组件包括分别固定连接在底箱下侧壁上四角处的固定套筒，所述固定套筒的下侧壁上通过开设有螺纹孔螺纹连接有螺纹杆，所述螺纹杆的上端延伸至固定套筒的内部并固定连接有限位块，所述螺纹杆的下端固定连接有支撑腿。

6、作为改进：所述支撑腿的下端固定连接有橡胶防滑垫。

7、作为改进：所述底箱的一侧外壁上安装有蓄电池，所述伺服电机与蓄电池电性连接。

8、与现有技术相比，本实用新型具有如下有益效果：

9、1.伺服电机的输出轴带动主动齿轮转动，经过齿带的传动，从动齿轮带动双向螺杆转动，双向螺杆转动时两个移动块会相互靠近，在连杆的作用下，活动板会下降，万向轮接触地面并将底箱撑起，从而可以进行移动芯片测试机，省时省力，利用调节组件可以使芯片测试机在不同高度的地面上调节成水平，防止因芯片测试机倾斜导致测试结果不准等问题。

10、2.移动时，减震弹簧可以为芯片测试机提供减震缓冲，阻尼器可以抑制减震弹簧吸震后反弹的震荡和吸收路面冲击的能量，使芯片测试机快速稳定下来，保护其内部的元器件，更加实用。

技术特征：

1.一种半导体芯片用测试装置，包括底箱(1)，其特征在于：所述底箱(1)的上侧外壁上固定连接有连接箱(2)，所述连接箱(2)的下侧内壁四角处分别固定连接有阻尼器(2.1)，所述阻尼器(2.1)的伸缩端固定连接有芯片测试机(3)，所述阻尼器(2.1)的外侧套设有减震弹簧(2.2)，所述减震弹簧(2.2)的一端与连接箱(2)的下侧内壁固定连接且另一端与芯片测试机(3)固定连接，所述底箱(1)的内部设有移动组件(4)，所述底箱(1)的下侧壁上设有调节组件(5)。

2.根据权利要求1所述的一种半导体芯片用测试装置，其特征在于：所述移动组件(4)包括固定连接在底箱(1)一侧内壁上的支撑架(4.1)，所述支撑架(4.1)上安装有伺服电机(4.2)，所述底箱(1)的两侧内壁之间转动连接有两个呈对称分布的双向螺杆(4.3)，所述双向螺杆(4.3)靠近伺服电机(4.2)的一端部固定连接有从动齿轮(4.31)，所述伺服电机(4.2)的输出轴端固定连接有主动齿轮(4.21)，所述主动齿轮(4.21)与从动齿轮(4.31)之间通过设有齿带(4.22)进行传动。

3.根据权利要求2所述的一种半导体芯片用测试装置，其特征在于：所述移动组件(4)还包括螺纹连接在双向螺杆(4.3)上的两个移动块(4.4)，所述底箱(1)的两侧内壁之间滑动连接有活动板(4.5)，所述移动块(4.4)的下侧壁上铰接有连杆(4.6)，所述连杆(4.6)的另一端与活动板(4.5)的上侧壁铰接在一起，所述活动板(4.5)的下侧壁上四角处分别固定连接有万向轮(4.7)。

4.根据权利要求1所述的一种半导体芯片用测试装置，其特征在于：所述调节组件(5)包括分别固定连接在底箱(1)下侧壁上四角处的固定套筒(5.1)，所述固定套筒(5.1)的下侧壁上通过开设有螺纹孔(5.11)螺纹连接有螺纹杆(5.2)，所述螺纹杆(5.2)的上端延伸至固定套筒(5.1)的内部并固定连接有限位块(5.5)，所述螺纹杆(5.2)的下端固定连接有支撑腿(5.3)。

5.根据权利要求4所述的一种半导体芯片用测试装置，其特征在于：所述支撑腿(5.3)的下端固定连接有橡胶防滑垫(5.4)。

6.根据权利要求2所述的一种半导体芯片用测试装置，其特征在于：所述底箱(1)的一侧外壁上安装有蓄电池(6)，所述伺服电机(4.2)与蓄电池(6)电性连接。

技术总结
一种半导体芯片用测试装置，包括底箱。本技术与现有技术相比优点在于：伺服电机的输出轴带动主动齿轮转动，经过齿带的传动，从动齿轮带动双向螺杆转动，双向螺杆转动时两个移动块会相互靠近，在连杆的作用下，活动板会下降，万向轮接触地面并将底箱撑起，从而可以进行移动芯片测试机，省时省力，利用调节组件可以使芯片测试机在不同高度的地面上调节成水平，防止因芯片测试机倾斜导致测试结果不准等问题，移动时，减震弹簧可以为芯片测试机提供减震缓冲，阻尼器可以抑制减震弹簧吸震后反弹的震荡和吸收路面冲击的能量，使芯片测试机快速稳定下来，保护其内部的元器件，更加实用。

技术研发人员：彭劲松
受保护的技术使用者：江苏爱矽半导体科技有限公司
技术研发日：20230609
技术公布日：2024/1/15