一种可进行水平校准的电子分析天平的制作方法

本技术涉及电子分析天平，具体为一种可进行水平校准的电子分析天平。

背景技术：

1、电子分析天平在长时间的使用下很容易出现偏差，这样就需要对电子分析天平进行水平校准，而现有的电子分析天平上具有水平仪，需要水平装置对其进行对比，进而观察电子分析天平上具有水平仪的偏差，进行调零

2、中国专利公告号cn209764224u中公开了一种可进行水平校准的电子分析天平，通过电子分析天平本体、找平装置、底座和支撑装置的配合使用，通过调整支撑装置观察找平装置上气泡水平仪进行找平，然后将电子分析天平本体放置到找平板上，拧动找平板，使找平板与电子分析天平本体紧密贴合，观察电子分析天平本体上水平仪与气泡水平仪的偏差，然后将电子分析天平本体上水平仪进行清零，进而对电子分析天平本体进行水平校准，通过拧动螺杆，使螺杆的上端与电子分析天平本体紧密贴合，调整电子分析天平本体上水平仪与气泡水平仪均处于零点，能够观察出电子分析天平的倾斜程度。

3、上述申请中的电子分析天平在进行水平校准时，需要通过使用找平装置进行辅助，通过采用旋转的方式，对支撑装置进行调节，保证找平装置的平稳，随后将电子分析天平放置于找平装置的顶部，随后对电子分析天平进行校准，但是上述申请中的支撑装置底部空间狭小，因此在进行调节时，稳定效果较差，因此需要耗费较多的时间针对找平装置进行校准，因此存在一定的局限性。

技术实现思路

1、本实用新型的目的在于提供了一种可进行水平校准的电子分析天平，以解决上述背景技术中提出的问题。

2、为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种可进行水平校准的电子分析天平，包括底板和电子分析天平本体，所述电子分析天平本体位于底板的上方，所述底板的顶部安装有升降组件，所述电子分析天平本体的外壁安装有夹紧组件。

3、所述升降组件由转动单元和连接单元组成，转动单元位于底板的顶部，连接单元位于转动单元的外壁。

4、优选的，转动单元包括螺纹杆一、套筒和圆环，所述螺纹杆一安装于底板的顶部，所述套筒套设于螺纹杆一的外壁，所述圆环套设于螺纹杆一的外壁。

5、优选的，所述螺纹杆一的底端与底板的顶部转动连接，螺纹杆一可以在底板的顶部进行旋转，所述套筒的内壁与螺纹杆一的内壁固定连接，套筒旋转时，可以带动螺纹杆一进行旋转，所述螺纹杆一的外壁与圆环的内壁适配，当螺纹杆一旋转时，圆环便会在螺纹的作用下进行移动。

6、优选的，连接单元包括支板、固定杆和水平仪，所述支板设置于底板的上方，所述固定杆设置于底板的上方，所述水平仪安装于支板的内部。

7、优选的，所述固定杆的一端与支板的外壁固定连接，所述固定杆远离支板的一端与圆环的外壁固定连接，圆环进行高度调节时，会通过固定杆带动支板进行调节。

8、优选的，所述夹紧组件包括框架、夹板和螺纹杆二，所述框架固定连接于支板的顶部，所述夹板安装于框架的内部，所述螺纹杆二安装于框架的外壁。

9、优选的，所述夹板的底部与支板的顶部抵接，并与支板的顶部滑动连接，夹板可以在支板的顶部进行滑动，所述螺纹杆二的一端贯穿框架的外壁，并与夹板的外壁转动连接，所述螺纹杆二的外壁与框架被贯穿的内壁适配，可以通过旋转螺纹杆二，完成对夹板的调节。

10、本实用新型提供了一种可进行水平校准的电子分析天平，该可进行水平校准的电子分析天平具备以下有益效果：

11、1、该可进行水平校准的电子分析天平，通过设置螺纹杆一、套筒和圆环，通过旋转套筒，使得螺纹杆一进行旋转，圆环在螺纹的作用下通过固定杆带动支板进行移动，从而对支板进行调节，操作简单方便。

12、2、该可进行水平校准的电子分析天平，通过设置夹板和螺纹杆二，将电子分析天平放置于支板的顶部后，旋转螺纹杆二，使得螺纹杆二在螺纹的作用下推动夹板进行移动，并对电子分析天平进行夹紧，此时便可以对电子分析天平进行校准操作，保证了电子分析天平校准时的稳定。

技术特征：

1.一种可进行水平校准的电子分析天平，包括底板(1)和电子分析天平本体(2)，所述电子分析天平本体(2)位于底板(1)的上方，其特征在于：所述底板(1)的顶部安装有升降组件(3)，所述电子分析天平本体(2)的外壁安装有夹紧组件(4)；

2.根据权利要求1所述的一种可进行水平校准的电子分析天平，其特征在于：转动单元包括螺纹杆一(301)、套筒(302)和圆环(303)，所述螺纹杆一(301)安装于底板(1)的顶部，所述套筒(302)套设于螺纹杆一(301)的外壁，所述圆环(303)套设于螺纹杆一(301)的外壁。

3.根据权利要求2所述的一种可进行水平校准的电子分析天平，其特征在于：所述螺纹杆一(301)的底端与底板(1)的顶部转动连接，所述套筒(302)的内壁与螺纹杆一(301)的内壁固定连接，所述螺纹杆一(301)的外壁与圆环(303)的内壁适配。

4.根据权利要求1所述的一种可进行水平校准的电子分析天平，其特征在于：连接单元包括支板(304)、固定杆(305)和水平仪(306)，所述支板(304)设置于底板(1)的上方，所述固定杆(305)设置于底板(1)的上方，所述水平仪(306)安装于支板(304)的内部。

5.根据权利要求4所述的一种可进行水平校准的电子分析天平，其特征在于：所述固定杆(305)的一端与支板(304)的外壁固定连接，所述固定杆(305)远离支板(304)的一端与圆环(303)的外壁固定连接。

6.根据权利要求1所述的一种可进行水平校准的电子分析天平，其特征在于：所述夹紧组件(4)包括框架(401)、夹板(402)和螺纹杆二(403)，所述框架(401)固定连接于支板(304)的顶部，所述夹板(402)安装于框架(401)的内部，所述螺纹杆二(403)安装于框架(401)的外壁。

7.根据权利要求6所述的一种可进行水平校准的电子分析天平，其特征在于：所述夹板(402)的底部与支板(304)的顶部抵接，并与支板(304)的顶部滑动连接，所述螺纹杆二(403)的一端贯穿框架(401)的外壁，并与夹板(402)的外壁转动连接，所述螺纹杆二(403)的外壁与框架(401)被贯穿的内壁适配。

技术总结
本技术涉及电子分析天平技术领域，且公开了一种可进行水平校准的电子分析天平，包括底板和电子分析天平本体，电子分析天平本体位于底板的上方，底板的顶部安装有升降组件，电子分析天平本体的外壁安装有夹紧组件，升降组件由转动单元和连接单元组成。该可进行水平校准的电子分析天平，通过设置螺纹杆一、套筒和圆环，通过旋转套筒，使得螺纹杆一进行旋转，圆环在螺纹的作用下通过固定杆带动支板进行移动，从而对支板进行调节，操作简单方便，通过设置夹板和螺纹杆二，将电子分析天平放置于支板的顶部后，旋转螺纹杆二，使得螺纹杆二在螺纹的作用下推动夹板进行移动，并对电子分析天平进行夹紧，此时便可以对电子分析天平进行校准操作。

技术研发人员：王顾刚
受保护的技术使用者：广州格卢瑞生命科学有限公司
技术研发日：20230612
技术公布日：2024/1/15