一种轴承套圈厚度变动量测量工装的制作方法

本技术属于轴承装备测量工装，具体涉及一种轴承套圈厚度变动量测量工装。

背景技术：

1、特大型轴承厚度变动量的测量现采用了一种厚度表架测量装置进行检测，具体的结构见图1，此测量装置在测量过程中，表尖测点与支点之间的连线很难保证通过轴承径向平面的最大中心直径处，从而导致测量值不准确性，见图2。图2中a图的测量装置在测量过程中表尖点与支点连线通过轴承径向平面的圆心，此时所测值不存在误差；而图2中b图的测量装置在测量过程中表尖点与支点连线没有通过轴承径向平面的圆心，此时所测值就大于a图所测值，有测量误差的存在。因此需要一种更加准确的轴承厚度变动的测量工装。

技术实现思路

1、根据上述现有技术存在的缺陷，本实用新型的目的是提供一种测量效率高，测量结果准确的轴承套圈厚度变动量测量工装。

2、为实现上述目的，本实用新型所采用的技术方案为：一种轴承套圈厚度变动量测量工装，包括支架，所述支架置于轴承套圈端面上，支架上同一高度处设置第一测量点、第二测量点和测量支点，第一测量点、第二测量点和测量支点位于同一直线上；所述的测量支点支撑在轴承套圈内径表面或外径表面上，第一测量点和第二测量点与轴承套圈内径表面或外径表面相接触，所述第一测量点与测量支点对应设置测量轴承套圈内径或外径，所述第二测量点与测量支点对应设置测量轴承套圈厚度。

3、进一步的，所述第一测量点、第二测量点和测量支点所在的直线穿过轴承套圈径向平面的圆心。

4、进一步的，所述支架通过两个支撑点支撑在轴承套圈端面上，两个支撑点的高度相同。

5、进一步的，所述两个支撑点中，至少一个支撑点滑动设置在支架上并通过锁紧件锁紧。

6、进一步的，所述支架包括水平设置的测量尺和垂直于测量尺的若干连接座，第一测量点、第二测量点和测量支点设置在连接座上。

7、进一步的，所述若干连接座滑动设置在测量尺上并通过螺栓锁紧。

8、进一步的，所述第一测量点通过第一测量表进行测量，第二测量点通过第二测量表进行测量。

9、进一步的，所述轴承套圈为轴承内圈，第一测量点与测量支点分别与轴承内圈的内径表面接触，第一测量点与测量支点的连线经过轴承内圈径向平面的圆心；第二测量点与轴承内圈的外径表面的滚道接触。

10、进一步的，所述轴承套圈为轴承外圈，第一测量点与测量支点分别与轴承外圈的外径表面接触，第一测量点与测量支点的连线经过轴承外圈径向平面的圆心；第二测量点与轴承外圈的内径表面的滚道接触。

11、本实用新型的有益效果为：本实用新型可以通过第一测量点、第二测量点和测量支点的组合使用实现对轴承套圈单一直径尺寸偏差及单一径向平面内直径变动量的测量以及轴承套圈厚度变动量的测量，通过对径向平面内直径的控制，使一测量点、第二测量点和测量支点所做在直线于轴承套圈径向平面的最大直径处重合，进而保证轴承套圈厚度变动量的精准测量。

技术特征：

1.一种轴承套圈厚度变动量测量工装，其特征在于：包括支架，所述支架置于轴承套圈端面上，支架上同一高度处设置第一测量点、第二测量点和测量支点，第一测量点、第二测量点和测量支点位于同一直线上；所述的测量支点支撑在轴承套圈内径表面或外径表面上，第一测量点和第二测量点与轴承套圈内径表面或外径表面相接触，所述第一测量点与测量支点对应设置测量轴承套圈内径或外径，所述第二测量点与测量支点对应设置测量轴承套圈厚度。

2.根据权利要求1所述的一种轴承套圈厚度变动量测量工装，其特征在于：所述第一测量点、第二测量点和测量支点所在的直线穿过轴承套圈径向平面的圆心。

3.根据权利要求1所述的一种轴承套圈厚度变动量测量工装，其特征在于：所述支架通过两个支撑点支撑在轴承套圈端面上，两个支撑点的高度相同。

4.根据权利要求3所述的一种轴承套圈厚度变动量测量工装，其特征在于：所述两个支撑点中，至少一个支撑点滑动设置在支架上并通过锁紧件锁紧。

5.根据权利要求1所述的一种轴承套圈厚度变动量测量工装，其特征在于：所述支架包括水平设置的测量尺和垂直于测量尺的若干连接座，第一测量点、第二测量点和测量支点设置在连接座上。

6.根据权利要求5所述的一种轴承套圈厚度变动量测量工装，其特征在于：所述若干连接座滑动设置在测量尺上并通过螺栓锁紧。

7.根据权利要求1所述的一种轴承套圈厚度变动量测量工装，其特征在于：所述第一测量点通过第一测量表进行测量，第二测量点通过第二测量表进行测量。

8.根据权利要求1-7中任意一项所述的一种轴承套圈厚度变动量测量工装，其特征在于：所述轴承套圈为轴承内圈，第一测量点与测量支点分别与轴承内圈的内径表面接触，第一测量点与测量支点的连线经过轴承内圈径向平面的圆心；第二测量点与轴承内圈的外径表面的滚道接触。

9.根据权利要求1-7中任意一项所述的一种轴承套圈厚度变动量测量工装，其特征在于：所述轴承套圈为轴承外圈，第一测量点与测量支点分别与轴承外圈的外径表面接触，第一测量点与测量支点的连线经过轴承外圈径向平面的圆心；第二测量点与轴承外圈的内径表面的滚道接触。

技术总结
本技术属于轴承装备测量工装技术领域，具体涉及一种轴承套圈厚度变动量测量工装，包括支架，所述支架置于轴承套圈端面上，支架上同一高度处设置第一测量点、第二测量点和测量支点，第一测量点、第二测量点和测量支点位于同一直线上；所述的测量支点支撑在轴承套圈内径表面或外径表面上，第一测量点和第二测量点与轴承套圈内径表面或外径表面相接触，所述第一测量点与测量支点对应设置测量轴承套圈内径或外径，所述第二测量点与测量支点对应设置测量轴承套圈厚度。本技术可以实现对轴承套圈单一直径尺寸偏差及单一径向平面内直径变动量的测量以及轴承套圈厚度变动量的测量，进而保证轴承套圈厚度变动量的精准测量。

技术研发人员：赵熙伟,杨君,钟华,张俊生,刘宏伟,刘仁虎,吴琼,王有强,常伟,吴欢,高秀娥,闫蕊,张放,张昭,宋恭亮
受保护的技术使用者：瓦房店轴承集团国家轴承工程技术研究中心有限公司
技术研发日：20230621
技术公布日：2024/1/15