双列式直插光电耦合器测试夹具的制作方法

本申请属于光电耦合器测试设备，尤其是涉及双列式直插光电耦合器测试夹具。

背景技术：

1、光电耦合器在完成生产组装后，会根据使用环境与要求，对产品进行机械冲击和振动试验，来验证产品的弹力系数是否符合设计要求。现有的光电耦合器进行机械冲击和振动试验用治具多采用专用夹角，在进行新产品开发的过程中，产品的型号规格比较多，对每个型号的光电耦合器都设计制作专用夹具会拉长产品的开发进程，增加实验测试的成本。

技术实现思路

1、本实用新型要解决的技术问题是：为解决现有技术中的不足，从而提供双列式直插光电耦合器测试夹具，旨在通过改进夹具结构来提高治具的通用性，满足多种规格的光电耦合器测试装夹。

2、本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是：

3、双列式直插光电耦合器测试夹具，包括：

4、产品底座，所述产品底座包括两侧的底座本体和多个条形块，所述条形块两侧设置有引脚容纳槽，所述引脚容纳槽设置为条形槽，所述条形槽用于容纳耦合器的引脚；

5、盖板，所述盖板设置在产品底座上方，所述盖板用于封盖压装产品。

6、优选地，本实用新型的双列式直插光电耦合器测试夹具，所述盖板上螺接有第一固定螺栓，所述第一固定螺栓用于锁紧盖板和底座本体。

7、优选地，本实用新型的双列式直插光电耦合器测试夹具，多个所述条形块的宽度尺寸不一致。

8、优选地，本实用新型的双列式直插光电耦合器测试夹具，两个所述条形块之间的间距能调整。

9、优选地，本实用新型的双列式直插光电耦合器测试夹具，所述产品底座的底面上设置有多个第一螺纹孔。

10、优选地，本实用新型的双列式直插光电耦合器测试夹具，所述条形块上设置有第二沉头孔，所述条形块可拆卸的连接在产品底座的底面。

11、优选地，本实用新型的双列式直插光电耦合器测试夹具，还包括台体基座，所述产品底座连接在台体基座上。

12、优选地，本实用新型的双列式直插光电耦合器测试夹具，所述产品底座上还设置有第一沉头孔，所述第一沉头孔内设置有第二固定螺栓，所述第二固定螺栓用于将底座锁紧连接在台体基座上。

13、本实用新型的有益效果是：

14、本实用新型设计的通用型夹具，适配多种型号的双列直插光电耦合器的机械冲击与振动，可以实现x,y,z三个方向的试验，其结构简洁，成本低廉，可靠性高，便于安装和操作，同时整体体积较小，便于在搬运和装卸，因此大大提高了工作的效率，降低了试验中产生的不良率。

技术特征：

1.双列式直插光电耦合器测试夹具，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的双列式直插光电耦合器测试夹具，其特征在于，所述盖板(2)上螺接有第一固定螺栓(1)，所述第一固定螺栓(1)用于锁紧盖板(2)和底座本体。

3.根据权利要求1所述的双列式直插光电耦合器测试夹具，其特征在于，多个所述条形块(52)的宽度尺寸不一致。

4.根据权利要求1所述的双列式直插光电耦合器测试夹具，其特征在于，两个所述条形块(52)之间的间距能调整。

5.根据权利要求4所述的双列式直插光电耦合器测试夹具，其特征在于，所述产品底座(5)的底面上设置有多个第一螺纹孔。

6.根据权利要求5所述的双列式直插光电耦合器测试夹具，其特征在于，所述条形块(52)上设置有第二沉头孔，所述条形块(52)可拆卸的连接在产品底座(5)的底面。

7.根据权利要求1-6任一项所述的双列式直插光电耦合器测试夹具，其特征在于，还包括台体基座(6)，所述产品底座(5)连接在台体基座(6)上。

8.根据权利要求7所述的双列式直插光电耦合器测试夹具，其特征在于，所述产品底座(5)上还设置有第一沉头孔，所述第一沉头孔内设置有第二固定螺栓，所述第二固定螺栓用于将底座(5)锁紧连接在台体基座(6)上。

技术总结
本申请涉及双列式直插光电耦合器测试夹具，包括：产品底座，所述产品底座包括两侧的底座本体和多个条形块，所述条形块两侧设置有引脚容纳槽，所述引脚容纳槽设置为条形槽，所述条形槽用于容纳耦合器的引脚。盖板，所述盖板设置在产品底座上方，所述盖板用于封盖压装产品。本技术设计的通用型夹具，适配多种型号的双列直插光电耦合器的机械冲击与振动，可以实现X,Y,Z三个方向的试验，其结构简洁，成本低廉，可靠性高，便于安装和操作，同时整体体积较小，便于在搬运和装卸，因此大大提高了工作的效率，降低了试验中产生的不良率。

技术研发人员：毛祺,王忆雯,朱彥祺
受保护的技术使用者：苏州半导体总厂有限公司
技术研发日：20230701
技术公布日：2024/1/15