本发明属于测高仪，具体涉及高精度数显测高仪。
背景技术：
1、目前高精度数显测高仪的精度与国外的相差较大，且在测量稳定性上也有一定的差距。
技术实现思路
1、本发明旨在提供高精度数显测高仪，解决现有高精度数显测高仪精度与国外相差较大的技术问题。
2、为解决上述技术问题，本发明采用以下技术方案：
3、高精度数显测高仪，包括气浮运动底座，气浮运动底座上固定有高精度直线导轨，所述高精度直线导轨上安装有测力可调滑架，所述气浮运动底座上还设置有计算机控制系统和位移控制单元，位移控制单元用于驱动测力可调滑架在高精度直线导轨上移动；
4、测力可调滑架包括主滑架和副滑架，主滑架与副滑架均可沿高精度直线导轨上下滑动，且副滑架位于主滑架的外侧，副滑架上设置有缺口，主滑架上设置有v型导槽；
5、在副滑架的下端右侧设置有测力调节杆，测力调节杆为l型结构，测力调节杆的拐角处通过第一回转轴承转动安装在副滑架上，测力调节杆的上端安装有滚动轴承，滚动轴承位于v型导槽内，且滚动轴承的外圈与v型导槽的内壁相接触，测力调节杆的下端安装有测力弹簧悬挂柱，副滑架的下端左侧设置有测力弹簧安装件，测力弹簧安装件与测力弹簧悬挂柱之间连接有测力弹簧；在测力调节杆的上部设置有第一磁性吸条，副滑架上固定有第二磁性吸条，第一磁性吸条与第二磁性吸条相互吸引；
6、主滑架上安装有容栅测量系统，测力调节杆的上端还安装有位移传感器，位移传感器与容栅测量系统连接，主滑架的下端固定有测针；主滑架上还设置有双向测力系统和高精度补偿系统，容栅测量系统、双向测力系统和高精度补偿系统均与计算机控制系统连接。
7、优选的，主滑架的左右两侧、副滑架的左右两侧均设置有滚珠轴承，测高仪的立柱的左右两侧均设置有滑轨槽，主滑架左右两侧的滚珠轴承、副滑架左右两侧的滚珠轴承均滚动连接在滑轨槽内。
8、优选的，主滑架的侧壁设置有限位孔，在副滑架上固定有限位螺栓，限位螺栓位于限位孔。
9、优选的，测力弹簧安装件包括调节块和调节螺栓，副滑架的下部左侧开设有矩形槽，所述调节块可在矩形槽内移动，矩形槽的侧壁开设有穿孔，调节块上开设有螺纹孔，所述调节螺栓穿设在穿孔中，且调节螺栓螺纹连接在调节块上，测力弹簧的端部连接在调节块上。
10、优选的，在副滑架上还安装有平衡调节杆，平衡调节杆为l型结构，平衡调节杆的拐角处通过第二回转轴承转动安装在副滑架的上部右侧，在主滑架的下端左侧设置有平衡弹簧悬挂柱，平衡调节杆的左端与平衡弹簧悬挂柱之间连接有平衡弹簧，在副滑架的上部螺纹安装有平衡调节顶丝，平衡调节杆的右端固定有挡柱，平衡调节顶丝的端部与挡柱顶压接触。
11、与现有技术相比，本发明的有益效果是：本发明采用高精度的容栅测量系统、高精密直线导轨、高精度的补偿系统、测力可调滑架、高性能的计算机控制系统技术，实现各种高度参数的高精度测量；通过高精密的直线导轨保证测量时行走的直线度及稳定性，采用高精度容栅测量系统实时采集测量中的长度方向坐标，由计算机控制系统将采集到的测量数据与测力可调滑架通过阿贝误差进行数据修正合同，按照相关的被测参数算法进行分析从而得到对应的精确测量值。
1.高精度数显测高仪，其特征在于：包括气浮运动底座，气浮运动底座上固定有高精度直线导轨，所述高精度直线导轨上安装有测力可调滑架，所述气浮运动底座上还设置有计算机控制系统和位移控制单元，位移控制单元用于驱动测力可调滑架在高精度直线导轨上移动；
2.根据权利要求1所述的高精度数显测高仪，其特征在于：主滑架的左右两侧、副滑架的左右两侧均设置有滚珠轴承，测高仪的立柱的左右两侧均设置有滑轨槽，主滑架左右两侧的滚珠轴承、副滑架左右两侧的滚珠轴承均滚动连接在滑轨槽内。
3.根据权利要求2所述的高精度数显测高仪，其特征在于：主滑架的侧壁设置有限位孔，在副滑架上固定有限位螺栓，限位螺栓位于限位孔。
4.根据权利要求3所述的高精度数显测高仪，其特征在于：测力弹簧安装件包括调节块和调节螺栓，副滑架的下部左侧开设有矩形槽，所述调节块可在矩形槽内移动，矩形槽的侧壁开设有穿孔，调节块上开设有螺纹孔，所述调节螺栓穿设在穿孔中，且调节螺栓螺纹连接在调节块上，测力弹簧的端部连接在调节块上。
5.根据权利要求4所述的高精度数显测高仪，其特征在于：在副滑架上还安装有平衡调节杆，平衡调节杆为l型结构，平衡调节杆的拐角处通过第二回转轴承转动安装在副滑架的上部右侧，在主滑架的下端左侧设置有平衡弹簧悬挂柱，平衡调节杆的左端与平衡弹簧悬挂柱之间连接有平衡弹簧，在副滑架的上部螺纹安装有平衡调节顶丝，平衡调节杆的右端固定有挡柱，平衡调节顶丝的端部与挡柱顶压接触。