一种集成电路测试装置的制作方法

本技术涉及集成电路检测，特别涉及一种集成电路测试装置。

背景技术：

1、集成电路板是载装集成电路的一个载体。目前集成电路板在出厂前都需要进检测，来验证是否合格。

2、经过检索，中国专利网公开了一种集成电路测试装置，公开号为cn210639244u，虽然能够对不同规格的集成电路板检测，但是该对比文件在对集成电路板进行固定时比较的繁琐，并且通过设置定位机构、固定槽、固定块和第二螺杆在对集成电路板进行固定，螺纹配合在长期使用时易发生磨损，其使用寿命较短。

技术实现思路

1、本实用新型要解决的技术问题是提供一种集成电路测试装置，以解决背景技术中所提出的该对比文件在对集成电路板进行固定时比较的繁琐，并且通过设置定位机构、固定槽、固定块和第二螺杆在对集成电路板进行固定，螺纹配合在长期使用时易发生磨损，其使用寿命较短。

2、为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：

3、一种集成电路测试装置，包括：

4、底座；

5、所述底座的左、右两侧外壁上均固定有连接耳一，所述连接耳一顶部安装有龙门架，所述龙门架内顶部安装有测试仪，所述测试仪通过弹性线连接有测试笔；

6、所述底座顶部开设有滑槽，所述滑槽内对称滑动连接有两个滑块，两个滑块顶部均固定有连接板，所述连接板顶部固定有l型板，所述l型板顶部开设有穿孔，所述穿孔内活动穿设有连接杆，所述连接杆一端固定有拉条，所述连接杆另一端固定有固定板。

7、作为本实用新型的进一步方案，所述连接杆外壁设有压缩弹簧，所述压缩弹簧一端与固定板固定，所述压缩弹簧另一端与l型板固定。

8、作为本实用新型的进一步方案，所述固定板底部安装有软垫一。

9、作为本实用新型的进一步方案，所述底座顶部安装有软垫二。

10、作为本实用新型的进一步方案，还包括清灰机构，所述清灰机构包括开设于底座顶部的安装槽，所述安装槽内设有粘胶板。

11、作为本实用新型的进一步方案，所述粘胶板左、右两侧外壁上均固定有连接耳二，所述连接耳二顶部开设有螺纹孔一，所述底座顶部开设有与螺纹孔一相配合的螺纹孔二。

12、作为本实用新型的进一步方案，所述螺纹孔一、螺纹孔二内螺纹连接有固定螺栓。

13、与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

14、本实用新型在压缩弹簧的弹力作用下会驱使连接杆在l型板上的穿孔内进行下降运动，待连接杆一端的固定板与集成电路板抵接后，即可对集成电路板进行固定，相比较现有的，本实用新型通过改变对集成电路板的固定方式，使得在对集成电路板进行固定时更加的简单方便，并且本实用新型所采取的固定方式整体的磨损程度较小，使用寿命较长。

15、本实用新型通过在底座顶部开设有安装槽，并且在安装槽内设有粘胶板，在对集成电路板进行检测之前，可以将集成电路板贴合在粘胶板表面，在粘胶板的作用下会对集成电路板上的灰尘进行清理，从而避免了灰尘影响到集成电路板的检测精度或检测效率。

技术特征：

1.一种集成电路测试装置，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置，其特征在于，所述连接杆(113)外壁设有压缩弹簧(117)，所述压缩弹簧(117)一端与固定板(115)固定，所述压缩弹簧(117)另一端与l型板(111)固定。

3.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置，其特征在于，所述固定板(115)底部安装有软垫一(116)。

4.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置，其特征在于，所述底座(101)顶部安装有软垫二(107)。

5.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置，其特征在于，还包括清灰机构(200)，所述清灰机构(200)包括开设于底座(101)顶部的安装槽(202)，所述安装槽(202)内设有粘胶板(203)。

6.根据权利要求5所述的一种集成电路测试装置，其特征在于，所述粘胶板(203)左、右两侧外壁上均固定有连接耳二(204)，所述连接耳二(204)顶部开设有螺纹孔一(205)，所述底座(101)顶部开设有与螺纹孔一(205)相配合的螺纹孔二(206)。

7.根据权利要求6所述的一种集成电路测试装置，其特征在于，所述螺纹孔一(205)、螺纹孔二(206)内螺纹连接有固定螺栓(201)。

技术总结
本技术公开了一种集成电路测试装置，涉及集成电路检测技术领域，包括底座；所述底座的左、右两侧外壁上均固定有连接耳一，所述连接耳一顶部安装有龙门架，所述龙门架内顶部安装有测试仪，所述测试仪通过弹性线连接有测试笔；所述底座顶部开设有滑槽，所述滑槽内对称滑动连接有两个滑块，两个滑块顶部均固定有连接板，所述连接板顶部固定有L型板，所述L型板顶部开设有穿孔，所述穿孔内活动穿设有连接杆，所述连接杆一端固定有拉条，所述连接杆另一端固定有固定板，本技术通过改变对集成电路板的固定方式，使得在对集成电路板进行固定时更加的简单方便，并且本技术所采取的固定方式整体的磨损程度较小，使用寿命较长。

技术研发人员：马航,郭秋贺
受保护的技术使用者：深圳市上一品科技有限公司
技术研发日：20230705
技术公布日：2024/1/15