一种基于铅尺的电子组件测量校正装置的制作方法

本技术涉及电子组件测量领域，尤其是涉及一种基于铅尺的电子组件测量校正装置。

背景技术：

1、作为各种元器件的载体与电路信号传输的枢纽，电子组件已经成为电子信息产品的最为重要而关键的部分，其质量的好坏与可靠性水平决定了整机设备的质量与可靠性，而各元件尺寸的大小也进一步决定电子信息产品的质量，因此，无损快速批量在线检测电子组件缺陷判定是否合格显得尤为重要。

2、现有授权公告号为cn210749246u的中国专利提供了一种医用x射线半值层测量装置，所述测量装置包括底座和安装于底座上的外套管；升降杆底端插入外套管中，顶端固定有与升降杆垂直的第二托架；所述第二托架一端变宽形成托盘，托盘中部形成方形孔；所述托盘中部四周边沿形成内陷部，内陷部的高度低于托盘上表面；所述内陷部的一组对边上均设有活动托板；所述活动托板的两侧形成第一条形孔，锁紧螺钉穿过第一条形孔将活动托板固定在内陷部上。

3、但是现有的x射线无射线平板探测器模块的进一步提高准确性，仅有人眼观测，而射线存在辐射，人员不易靠近，必须在特定的环境测试检查并且人眼观测，误差较大，而在后续的电子组件使用中，微小误差会带来很大的事故，故而有待改善。

技术实现思路

1、针对现有技术存在的不足，本实用新型的目的在于提供一种基于铅尺的电子组件测量校正装置，其具有对电子组件精确判定缺陷的优势。

2、为实现上述目的，本实用新型提供了如下技术方案：

3、一种基于铅尺的电子组件测量校正装置，包括箱体，其特征在于：所述箱体底部装有底板，所述底板向上方依次装有射线源、龙门结构一、测量模块、龙门结构二。

4、通过采用上述技术方案，一种基于铅尺的电子组件测量校正装置主要分四个模块，分别是射线源、龙门结构一、测量模块、龙门结构二，这四个模块在实际测量时处于同一垂直线上，方便成像测量。

5、进一步地，所述龙门结构一包括亚克力板电机一与亚克力板电机二，所述亚克力板电机一外安装有亚克力传送带，所述亚克力传送带中间设有亚克力板夹层。

6、通过采用上述技术方案，亚克力板电机一驱动亚克力传送带，亚克力板电机二另一个亚克力传送带，两个亚克力传送带结构一致。

7、进一步地，所述亚克力传送带顶部装有压板。

8、通过采用上述技术方案，亚克力传送带有上下两层，亚克力板在做准备工作时将亚克力板放入亚克力传送带的亚克力板夹层内，而确认亚克力板传送至指定位置后，压板向下压，以此来固定亚克力板。

9、进一步地，所述测量模块包括直角铅尺，所述直角铅尺边缘处标有刻度。

10、通过采用上述技术方案，通过直角铅尺的刻度来测量不同元件的尺寸大小以及焊点尺寸，以此在校正时来判断该元件尺寸是否与射线平板探测器所测量数据一致。

11、进一步地，所述龙门结构二包括龙门从轴一与龙门从轴二，所述龙门从轴一与所述龙门从轴二上方装有龙门从轴三，所述龙门从轴三上装有成像装置。

12、通过采用上述技术方案，成像装置固定在龙门从轴三上，可以通过龙门从轴三进行横向的移动，龙门从轴三左右两端安有龙门从轴一与龙门从轴二，龙门从轴三可以在龙门从轴一与龙门从轴二进行纵向的移动，以此来调整直到与射线源、龙门结构二至同一垂直线，确保直角铅尺能垂直的测量待测电子组件，减少误差。

13、进一步地，所述成像装置上方装有滑动框，所述滑动框底部装有射线平板探测器，所述射线平板探测器左侧装有光学相机。

14、通过采用上述技术方案，为减少射线平板探测器在拍摄元件时，因为角度问题而产生误差，特在射线平板探测器左侧装有光学相机，光学相机辅助拍摄，并且射线平板探测器与光学相机安装在同一水平线上，射线平板探测器顶部是滑动框，使得射线平板探测器能平稳滑动到指定位置进行拍摄。

15、综上所述，本实用新型具有以下有益效果：

16、1、通过对比射线平板探测器拍摄得出的尺寸与直角铅尺直接测量得出的尺寸，两个数据对相辅相成，能更安全且快捷的确认射线平板探测器测量值是否正确。

17、2、直角铅尺是利用可拆卸胶暂时固定在亚克力板子上，能提高模具的利用率，减少材料成本。

技术特征：

1.一种基于铅尺的电子组件测量校正装置，包括箱体(2)，其特征在于：所述箱体(2)底部装有底板(22)，所述底板(22)向上方依次装有射线源(3)、龙门结构一(6)、测量模块(27)、龙门结构二(9)。

2.根据权利要求1所述的一种基于铅尺的电子组件测量校正装置，其特征在于：所述龙门结构一(6)包括亚克力板电机一(14)与亚克力板电机二(15)，所述亚克力板电机一(14)外安装有亚克力传送带(16)，所述亚克力传送带(16)中间设有亚克力板夹层(7)。

3.根据权利要求2所述的一种基于铅尺的电子组件测量校正装置，其特征在于：所述亚克力传送带(16)顶部装有压板(12)。

4.根据权利要求1所述的一种基于铅尺的电子组件测量校正装置，其特征在于：所述测量模块(27)包括直角铅尺(1)，所述直角铅尺(1)边缘处标有刻度(28)。

5.根据权利要求1所述的一种基于铅尺的电子组件测量校正装置，其特征在于：所述龙门结构二(9)包括龙门从轴一(11)与龙门从轴二(24)，所述龙门从轴一(11)与所述龙门从轴二(24)上方装有龙门从轴三(10)，所述龙门从轴三(10)上装有成像装置(8)。

6.根据权利要求5所述的一种基于铅尺的电子组件测量校正装置，其特征在于：所述成像装置(8)上方装有滑动框(26)，所述滑动框(26)底部装有射线平板探测器(25)，所述射线平板探测器(25)左侧装有光学相机(30)。

技术总结
本技术公开了一种基于铅尺的电子组件测量校正装置，涉及电子组件测量领域；旨在解决仅使用射线平板动态器无法确认电子组件尺寸的问题或者在标定后，使用射线平板动态器采图后软件测量的结果与铅尺测量的结果是否一致无法确认，其技术方案要点是人员在可避开射线源情况下将直角铅尺利用可拆卸胶水暂时固定在亚克力板上方，通过多次对比射线平板探测器测量出的尺寸值与直角铅尺测量的尺寸值，无明显过失误差时，多次测量取平均值用以减少偶然误差，以此来进行电动汽车必备的IGBT和MOSFET等功率器件、电子组件、机电一体化产品的各方面尺寸的测量与检测。

技术研发人员：孙勇
受保护的技术使用者：苏州谱睿源电子有限公司
技术研发日：20230712
技术公布日：2024/1/15