一种摩托车仪表转速测试装置的制作方法

文档序号:37133189发布日期:2024-02-26 16:38阅读:7来源:国知局
一种摩托车仪表转速测试装置的制作方法

本技术涉及仪表测试,尤其涉及一种摩托车仪表转速测试装置。


背景技术:

1、测试设备在对摩托车仪表进行转速测试时,需要将仪表上对应转速的插头插接在测试设备上的接口上,通电后对仪表盘进行测试,为了测试的准确性,仪表上的插头与测试设备上的接口,两者连接的较为紧密,测试完成后不易将插头拔出,需要人为的拉动插头上下晃动着向外侧拉动,容易导致测试设备接口与插头连接相连接的结构造成损伤,在大力拉扯插头时,还容易对插头以及插头上连接的电线造成损伤,从而减少仪表上的插头与测试设备接口内部结构的使用寿命。


技术实现思路

1、针对现有技术的不足,本实用新型提供了一种摩托车仪表转速测试装置,解决了仪表上的插头与测试设备上的接口连接的较为紧密,测试完成后不易将插头拔出的技术问题,达到了扳动扳手推杆自动向外侧推动插头的目的。

2、为解决上述技术问题,本实用新型提供了如下技术方案:一种摩托车仪表转速测试装置,包括测试设备和仪表盘,所述测试设备与仪表盘之间设有快速固定的快拆机构,所述仪表盘上通过电线连接有插头,所述测试设备上开设有与插头配合使用的接口,接口背面设置有便于插头拔出的推出机构。

3、推出机构包括固定在测试设备侧面上的圆柱,圆柱内部设有空腔一和空腔二,空腔一内滑动连接有顶杆,顶杆左侧固定有两个滑动在接口内部的推杆,推杆安装在空腔二内,所述顶杆侧面开设有锯齿槽,且顶杆上的锯齿槽内啮合有齿轮,齿轮上固定有转动连接在空腔一上的转轴。

4、进一步地,所述快拆机构包括固定在仪表盘下端面的套筒,套筒上开设有l型的卡槽,所述测试设备上开设有与套筒相适配的筒槽,筒槽内固定有销轴,销轴上固定有两个限位杆。

5、进一步地,所述套筒内固定有用于加强对销轴固定的弹簧一。

6、进一步地,所述顶杆上套装有弹簧二,且顶杆上固定有垫片,所述弹簧二安装在垫片与空腔一的内壁之间。

7、进一步地,所述垫片安装在齿轮左侧,所述转轴外侧套装固定有扳手。

8、进一步地,所述插头两端固定有两个与推杆配合使用的挡板。

9、借由上述技术方案,本实用新型提供了一种摩托车仪表转速测试装置,至少具备以下有益效果:

10、1、本实用新型由于推出机构的设置,通过向左侧扳动扳手,能够快速将插头向接口外侧推出,无需用力拉扯插头上的电线,减少电线与插头以及接口内的结构受损,增加插头与测试设备的使用寿命。

11、2、本实用新型由于快拆机构的设置,通过将仪表盘上的套筒对准筒槽内的销轴,可快速将仪表盘固定在测试设备上,防止仪表盘晃动影响转速测试,并且能够快速将仪表盘安装拆卸,节约时间。



技术特征:

1.一种摩托车仪表转速测试装置,包括测试设备(1)和仪表盘(2),其特征在于:所述测试设备(1)与仪表盘(2)之间设有快速固定的快拆机构(3),所述仪表盘(2)上通过电线连接有插头(4),所述测试设备(1)上开设有与插头(4)配合使用的接口(5),接口(5)背面设置有便于插头(4)拔出的推出机构(6);

2.根据权利要求1所述的一种摩托车仪表转速测试装置,其特征在于:所述快拆机构(3)包括固定在仪表盘(2)下端面的套筒(301),套筒(301)上开设有l型的卡槽(302),所述测试设备(1)上开设有与套筒(301)相适配的筒槽,筒槽内固定有销轴(303),销轴(303)上固定有两个限位杆(304)。

3.根据权利要求2所述的一种摩托车仪表转速测试装置,其特征在于:所述套筒(301)内固定有用于加强对销轴(303)固定的弹簧一(305)。

4.根据权利要求1所述的一种摩托车仪表转速测试装置,其特征在于:所述顶杆(604)上套装有弹簧二(607),且顶杆(604)上固定有垫片,所述弹簧二(607)安装在垫片与空腔一(602)的内壁之间。

5.根据权利要求4所述的一种摩托车仪表转速测试装置,其特征在于:所述垫片安装在齿轮(606)左侧,所述转轴外侧套装固定有扳手(608)。

6.根据权利要求1所述的一种摩托车仪表转速测试装置,其特征在于:所述插头(4)两端固定有两个与推杆(605)配合使用的挡板(401)。


技术总结
本技术涉及仪表测试技术领域,解决了仪表上的插头与测试设备上的接口连接的较为紧密,测试完成后不易将插头拔出的技术问题,尤其涉及一种摩托车仪表转速测试装置,包括测试设备和仪表盘,测试设备与仪表盘之间设有快拆机构,仪表盘上通过电线连接有插头,测试设备上开设有接口,接口背面设置有推出机构,推出机构包括固定在测试设备侧面上的圆柱,圆柱内部设有空腔一和空腔二,空腔一内滑动连接有顶杆,顶杆左侧固定有两个滑动在接口内部的推杆,推杆安装在空腔二内,顶杆侧面开设有锯齿槽。本技术能够快速将插头向接口外侧推出,减少电线与插头以及接口内的结构受损,增加插头与测试设备的使用寿命。

技术研发人员:许华丽,许增长,秦秧红,陆俊坤,陆俊莱
受保护的技术使用者:台州安瑞达机电科技有限公司
技术研发日:20230719
技术公布日:2024/2/25
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