开合爪快夹式芯片测试座的制作方法

本申请涉及芯片测试的，尤其是涉及一种开合爪快夹式芯片测试座。

背景技术：

1、芯片测试座是用于芯片封装前检测的关键检测装置，其主要用于核查芯片的电气性能。

2、常规的芯片测试座一般都是包括用于放置芯片、plc检测电路板、检测探针的底座以及设置在底座上用于按压芯片以使得芯片、plc检测电路板、检测探针接通的按压机构，目前的按压机构多是铰接在底座的一侧，在使用时操作人员将按压机构翻转一定角度，露出底座上的芯片放置槽，将芯片放在底座上，然后操作人员再将按压机构翻转回来，使得按压机构的另一侧卡扣固定在底座上即可对芯片进行检测过程。

3、但是以上检测方式效率十分低下，并且十分依赖操作人员的熟练度，随着自动化程度的不断发展，目前对于芯片检测的自动化探索和改进也应不断跟进。

技术实现思路

1、为了解决上述技术问题，本申请提供一种开合爪快夹式芯片测试座，其可以配合机械手等自动化机构，实现快速取放芯片，提高检测效率的作用。

2、为达到上述目的，本实用新型的技术方案如下：

3、一种开合爪快夹式芯片测试座，包括：

4、底座，所述底座上开有用于放置芯片的放置槽；

5、至少一个可转动地配置在底座上的固定爪，所述固定爪翻转过程至少具备两个动作，动作一，所述固定爪的端部抵接固定芯片边缘，动作二，所述固定爪的端部远离芯片周侧在竖直方向的覆盖空间以使得芯片可被取出；

6、常闭复位机构，所述常闭复位机构包括弹性件用于固定爪实现动作一，

7、解锁件，所述解锁件用于改变弹性件的弹力以使得固定爪实现动作二。

8、实现上述技术方案，采用固定爪开合以及弹性件实现对于芯片的压紧固定以及解锁松开，芯片的常闭固定依靠弹性件的弹力，第一，如果是人工操作，只需要操作解锁件使得弹性件解开对芯片的固定实现动作二即可方便地将芯片取出，省去了传统地利用卡扣连接实现锁紧，有效提高了检测效率，第二，利用该结构应用在自动化领域中，也可以增设其它机构控制解锁件实现弹性件的解锁状态，自动化时的匹配度较高。

9、作为本申请的其中一个可选实施例，所述固定爪包括与芯片接触的抵接端以及与解锁件接触的操作端，所述弹性件包括竖直设置在底座上的弹簧，所述弹簧抵接解锁件以使得操作端翘起带动抵接端抵接芯片。

10、作为本申请的其中一个可选实施例，所述固定爪至少对称设有两个，所述解锁件包括水平置于底座上方的解锁板，所述解锁板上开有用于避让芯片取放的避让槽，所述解锁板分别与两个操作端连接。

11、实现上述技术方案，解锁板和对称设置的固定爪使得芯片压紧和解锁过程更加稳定。

12、作为本申请的其中一个可选实施例，所述底座上开有调节槽，所述固定爪上设有固定轴，所述固定轴滑动在调节槽内以使得固定爪可以靠近或者远离放置槽，所述操作端上贯穿并转动配置有调节轴，所述解锁板上竖直设有解锁块，所述解锁块上设有配对组件与调节轴连接以使得解锁板升降时带动固定爪靠近或者远离放置槽。

13、实现上述技术方案，解锁板在升降时能够使得开合爪转动的同时靠近或者远离放置擦，从而使得固定爪可以利用较小的转动角即实现与放置槽的脱离，提高操作便捷性和灵活性。

14、作为本申请的其中一个可选实施例，所述配对组件包括水平开设在解锁块上的横槽以及开设在底座侧壁上的倾斜槽，所述倾斜槽的倾斜方向为由下至上逐渐靠近放置槽设置，所述横槽的高度略大于调节轴的外径。

15、实现上述技术方案，提出了一种配对组件的具体结构，当解锁板带动解锁块下移时，横槽用于带动调节轴下移，倾斜槽用于迫使调节轴远离放置槽移动，从而实现调节轴带动操作端一边下移一边远离放置槽完成固定爪的解锁过程。

16、作为本申请的其中一个可选实施例，所述倾斜槽上还设有竖直槽，所述竖直槽与倾斜槽顶部连通，所述调节轴滑动在竖直槽内。

17、实现上述技术方案，竖直槽使得在解锁块初始移动时可以将调节轴带动先下移部分，从而使得固定爪先转动，然后再在倾斜槽内移动，从而实现先转动，再在转动的同时远离放置槽。

18、作为本申请的其中一个可选实施例，所述解锁板上设有导向件，所述底座上设有与导向件滑动配合的导向槽。

19、作为本申请的其中一个可选实施例，所述底座的底面设有支腿，所述支腿螺纹配合在底座上

20、综上所述，本申请包括以下至少一种有益技术效果：

21、1.芯片的常闭固定依靠弹性件的弹力，如果是人工操作，只需要操作解锁件使得弹性件解开对芯片的固定实现动作二即可方便地将芯片取出，省去了传统地利用卡扣连接实现锁紧，有效提高了检测效率，并且利用该结构应用在自动化领域中，也可以增设其它机构控制解锁件实现弹性件的解锁状态，自动化时的匹配度较高；

22、2.通过将固定爪设置成转动的同时还可以沿着调节槽移动，从而使得固定爪的避让过程更加流畅，提高操作的便捷性。

技术特征：

1.一种开合爪快夹式芯片测试座，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的开合爪快夹式芯片测试座，其特征在于：所述固定爪(2)包括与芯片接触的抵接端(21)以及与解锁件(4)接触的操作端(22)，所述弹性件(3)包括竖直设置在底座(1)上的弹簧，所述弹簧抵接解锁件(4)以使得操作端(22)翘起带动抵接端(21)抵接芯片。

3.根据权利要求2所述的开合爪快夹式芯片测试座，其特征在于：所述固定爪(2)至少对称设有两个，所述解锁件(4)包括水平置于底座(1)上方的解锁板，所述解锁板上开有用于避让芯片取放的避让槽(41)，所述解锁板分别与两个操作端(22)连接。

4.根据权利要求3所述的开合爪快夹式芯片测试座，其特征在于：所述底座(1)上开有调节槽(12)，所述固定爪(2)上设有固定轴(23)，所述固定轴(23)滑动在调节槽(12)内以使得固定爪(2)可以靠近或者远离放置槽(11)，所述操作端(22)上贯穿并转动配置有调节轴(5)，所述解锁板上竖直设有解锁块(42)，所述解锁块(42)上设有配对组件与调节轴(5)连接以使得解锁板升降时带动固定爪(2)靠近或者远离放置槽(11)。

5.根据权利要求4所述的开合爪快夹式芯片测试座，其特征在于：所述配对组件包括水平开设在解锁块(42)上的横槽(61)以及开设在底座(1)侧壁上的倾斜槽(62)，所述倾斜槽(62)的倾斜方向为由下至上逐渐靠近放置槽(11)设置，所述横槽(61)的高度略大于调节轴(5)的外径。

6.根据权利要求5所述的开合爪快夹式芯片测试座，其特征在于：所述倾斜槽(62)上还设有竖直槽，所述竖直槽与倾斜槽(62)顶部连通，所述调节轴(5)滑动在竖直槽内。

7.根据权利要求1-6任意一项所述的开合爪快夹式芯片测试座，其特征在于：所述解锁件(4)上设有导向件(71)，所述底座(1)上设有与导向件(71)滑动配合的导向槽(72)。

8.根据权利要求7所述的开合爪快夹式芯片测试座，其特征在于：所述底座(1)的底面设有支腿(8)，所述支腿(8)螺纹配合在底座(1)上。

技术总结
本申请涉及一种开合爪快夹式芯片测试座，其包括：底座，所述底座上开有用于放置芯片的放置槽；至少一个可转动地配置在底座上的固定爪，所述固定爪翻转过程至少具备两个动作，动作一，所述固定爪的端部抵接固定芯片边缘，动作二，所述固定爪的端部远离芯片周侧在竖直方向的覆盖空间以使得芯片可被取出；常闭复位机构，所述常闭复位机构包括弹性件用于固定爪实现动作一，解锁件，所述解锁件用于改变弹性件的弹力以使得固定爪实现动作二。芯片的常闭固定依靠弹性件的弹力，省去了传统地利用卡扣连接实现锁紧，有效提高了检测效率，自动化时的匹配度较高。

技术研发人员：柳慧敏,彭善金
受保护的技术使用者：苏州京工机械科技有限公司
技术研发日：20230719
技术公布日：2024/3/21