一种检测晶体用的暗室的制作方法

本申请属于晶体检测装置领域，尤其指一种检测晶体用的暗室。

背景技术：

1、进行晶体表面划痕污垢检测时，由于晶体大多数是透明的，在自然光条件下难以观测，常用的是方式是用暗室隔绝自然光，在暗室中进行检测。但暗室通风性差，长时间待在暗室中检测，容易造成检测人员身体不适情况。

技术实现思路

1、为了解决现有技术不足，本申请实施例提供一种能够通风性能较强的一种检测晶体用的暗室。

2、为实现上述的目的，本申请实施例采用如下的技术方案：

3、本申请提供了一种检测晶体用的暗室，其包括检测舱体、遮光舱体和通风机构，检测舱体包括检测舱体底板，检测舱体底板上贯穿有多个通风孔，检测舱体的相对的两个内壁分别设有一个通风孔，检测舱体的一侧设有检测开口，遮光舱体连接至检测舱体的检测开口，遮光舱体与检测舱体连通设置，遮光舱体包括一能够容纳操作人员的腔体，通风机构设置于通风孔内。

4、进一步地，遮光舱体的侧壁上设有进气孔，侧壁的内侧或外侧设有能够遮蔽进气孔的遮光件。

5、进一步地，遮光件设置有开口，遮光件设置在遮光舱体内侧时开口朝向上方，遮光件设置在遮光舱体外侧时开口朝向下方。

6、进一步地，遮光件上设有吸光涂层。

7、进一步地，通风机构包括用于排出气体的导风扇和用于覆盖抽风孔的挡光装置，导风扇设于通风孔处，挡光装置设置于导风扇位于检测舱体内部的一侧，挡光装置还包括容纳导风扇的容纳空间，挡光装置的侧壁贯穿设置有通孔，通孔和容纳空间连通。

8、进一步地，挡光装置内部设置有吸声件。

9、进一步地，挡光装置内设置有发热装置。

10、进一步地，发热装置上方设置防火罩。

11、进一步地，检测舱体底板表面设置为雾面。

12、进一步地，检测舱体的内部和遮光舱体的内部设有吸光层或设置吸光件。

13、本申请实施例通过在暗室底板上设置通风孔，在暗室内壁上设置通风机构，通过通风孔配合通风机构带动暗室内的空气流动，实现改善暗室通风性的效果。

技术特征：

1.一种检测晶体用的暗室，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的暗室，其特征在于：

3.根据权利要求2所述的暗室，其特征在于：

4.根据权利要求2所述的暗室，其特征在于：

5.根据权利要求1所述的暗室，其特征在于：

6.根据权利要求5所述的暗室，其特征在于：

7.根据权利要求5所述的暗室，其特征在于：

8.根据权利要求7所述的暗室，其特征在于：

9.根据权利要求1所述的暗室，其特征在于：

10.根据权利要求1所述的暗室，其特征在于：

技术总结
本技术属于晶体检测装置领域。本申请公开了一种检测晶体用的暗室，其包括检测舱体、遮光舱体和通风机构，检测舱体包括检测舱体底板，检测舱体底板上贯穿有多个通风孔，检测腔的相对的两个内壁分别设有一个抽风孔，检测舱体的一侧设有检测开口，遮光舱体连接至检测舱体的检测开口，遮光舱体与检测舱体连通设置，遮光舱体包括一能够容纳操作人员的腔体，抽风系机构设置于抽风孔。本申请实施例通过在暗室底板上设置的通风孔配合通风机构带动暗室内的空气流动，实现改善暗室通风性的效果。

技术研发人员：刘苏慷,武兴,张志峰,刘彪,陈国炜
受保护的技术使用者：宁夏晶环新材料科技有限公司
技术研发日：20230731
技术公布日：2024/3/4