一种芯片老化板测试物料收料装置的制作方法

本技术涉及老化测试，具体涉及一种芯片老化板测试物料收料装置。

背景技术：

1、在现有技术中，对于带垂直引脚的半导体器件在老化测试后批量取放回收难度过高，造成半导体器件管装回收的生产效率很低。传统的管出装置，半导体产品进行批量老化测试后进行管装回收，当料管收料完成后，传统的管出装置无法让料管整齐有序进行堆叠，在影响设备整体美观性的同时加大了人工成本。

技术实现思路

1、为了克服现有技术的不足，本实用新型提供一种芯片老化板测试物料收料装置，满料管通过顶管气缸被顶管板顶起，并与挡板上的止回机构配合，使得满料管整齐叠放在收料管仓内，解决料管收集麻烦且无法整齐有序的堆叠，以及人工成本高的问题。

2、本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是：一种芯片老化板测试物料收料装置，包括底板，进料组件，移管组件，侧推组件以及推管组件，所述底板的上方设有第一支撑板和第二支撑板，所述第一支撑板和第二支撑板上均设置有挡板，所述挡板的底部设有止回机构；

3、所述进料组件包括夹持轨道，所述夹持轨道与所述第一支撑板之间设置有导轨，所述导轨的下方设有与所述第一支撑板连接的分料计数组件；

4、所述移管组件包括与底板固定连接的两个滑轨，还包括滑动连接于所述滑轨上的移管固定板，所述移管固定板上还设有移管气缸，所述移管气缸与所述挡板之间设有顶管板；

5、所述侧推组件包括与挡板固定连接的顶板，所述顶板的底部设有滑动连接的侧推气缸，所述侧推气缸的一端设有位于挡板下方的侧推压制板；

6、所述推管组件包括位于所述第二支撑板底部的推管板，所述推管板设置有固定连接的后撑板，还设置有用于推动后撑板的推管气缸。

7、所述止回机构包括止回块，所述止回块上设有斜角，所述挡板的下方设有卡槽及插销孔，所述卡槽的顶部设有用于顶住所述斜角的卡块螺丝，所述止回块与所述卡槽间设有穿过所述插销孔的固定销。

8、所述固定销与所述插销孔之间有间隙。

9、所述第一支撑板和第二支撑板上均设置有四块间隔布置且相互平行的挡板，所述挡板与所述第一支撑板和第二支撑板之间围成用于装管的收料管仓和空料管仓。

10、所述进料组件还包括固定板和电机，所述固定板位于底板的上方，所述电机位于所述固定板的一侧。

11、所述夹持轨道上设置有与固定板连接的翻转臂，还设置有吹气嘴和吸气嘴。

12、所述底板上设有用于驱动移管固定板的伸缩杆，还设置有安装所述伸缩杆的凹槽，与卡接在所述移管固定板两侧的移管卡板。

13、所述分料计数组件包括交替伸缩的一号气缸和二号气缸。

14、所述导轨的一端与所述分料计数组件之间设有出料口，所述导轨的另一端与所述夹持轨道之间设有进料口。

15、所述顶管板的底部设有垂直伸缩的顶管气缸。

16、本实用新型的有益效果是：提供一种芯片老化板测试物料收料装置，满料管通过顶管气缸被顶管板顶起，并与挡板上的止回机构配合，使得满料管整齐叠放在收料管仓内，解决料管收集麻烦且无法整齐有序的堆叠，以及人工成本高的问题。

技术特征：

1.一种芯片老化板测试物料收料装置，其特征在于，包括底板，进料组件，移管组件，侧推组件以及推管组件，所述底板的上方设有第一支撑板和第二支撑板，所述第一支撑板和第二支撑板上均设置有挡板，所述挡板的底部设有止回机构；

2.根据权利要求1所述的一种芯片老化板测试物料收料装置，其特征在于，所述止回机构包括止回块，所述止回块上设有斜角，所述挡板的下方设有卡槽及插销孔，所述卡槽的顶部设有用于顶住所述斜角的卡块螺丝，所述止回块与所述卡槽间设有穿过所述插销孔的固定销。

3.根据权利要求2所述的一种芯片老化板测试物料收料装置，其特征在于，所述固定销与所述插销孔之间有间隙。

4.根据权利要求1所述的一种芯片老化板测试物料收料装置，其特征在于，所述第一支撑板和第二支撑板上均设置有四块间隔布置且相互平行的挡板，所述挡板与所述第一支撑板和第二支撑板之间围成用于装管的收料管仓和空料管仓。

5.根据权利要求1所述的一种芯片老化板测试物料收料装置，其特征在于，所述进料组件还包括固定板和电机，所述固定板位于底板的上方，所述电机位于所述固定板的一侧。

6.根据权利要求5所述的一种芯片老化板测试物料收料装置，其特征在于，所述夹持轨道上设置有与固定板连接的翻转臂，还设置有吹气嘴和吸气嘴。

7.根据权利要求1所述的一种芯片老化板测试物料收料装置，其特征在于，所述底板上设置有用于驱动移管固定板的伸缩杆，还设置有安装所述伸缩杆的凹槽，与卡接在所述移管固定板两侧的移管卡板。

8.根据权利要求1所述的一种芯片老化板测试物料收料装置，其特征在于，所述分料计数组件包括交替伸缩的一号气缸和二号气缸。

9.根据权利要求1所述的一种芯片老化板测试物料收料装置，其特征在于，所述导轨的一端与所述分料计数组件之间设有出料口，所述导轨的另一端与所述夹持轨道之间设有进料口。

10.根据权利要求1所述的一种芯片老化板测试物料收料装置，其特征在于，所述顶管板的底部设有垂直伸缩的顶管气缸。

技术总结
本技术公开了一种芯片老化板测试物料收料装置，涉及老化测试技术领域，包括底板，进料组件，移管组件，侧推组件以及推管组件，所述底板上设有第一支撑板和第二支撑板，所述两支撑板上均设有挡板且底部设有止回机构，所述进料组件包括夹持轨道，所述夹持轨道与所述第一支撑板之间设有导轨，所述导轨的下方设有分料计数组件，所述移管组件包括两个滑轨，还包括滑动于滑轨上的移管固定板，所述侧推组件包括与挡板连接的顶板，所述推管组件包括推管板，所述推管板设有固定连接的后撑板，还设有用于推动后撑板的推管气缸，本技术所述的一种芯片老化板测试物料收料装置，解决料管收集麻烦且无法整齐有序的堆叠，以及人工成本高的问题。

技术研发人员：周秋香,任建新,万克壮
受保护的技术使用者：深圳市浦洛电子科技有限公司
技术研发日：20230807
技术公布日：2024/3/24