一种用于评估纳米磁性微球凝集性的薄片皿的制作方法

文档序号:36580398发布日期:2023-12-30 15:32阅读:59来源:国知局
一种用于评估纳米磁性微球凝集性的薄片皿的制作方法

本技术涉及体外诊断试剂及设备,具体涉及一种用于评估纳米磁性微球凝集性的薄片皿。


背景技术:

1、用于体外诊断试剂的纳米磁性微球在制造过程中可能会发生凝集现象。因为纳米磁性微球凝集会对试剂性能造成影响,所以在品质管理上,检查纳米磁性微球是否有凝集至关重要。纳米磁性微球凝集度的评估,目前一般用粒度分析仪等检测或用显微镜直接观察两种方法。这两种方法不仅设备价格高昂,而且通过显微镜的微观视野来判断也会造成较大误差。


技术实现思路

1、本实用新型的目的是提供一种用于评估纳米磁性微球凝集性的薄片皿,以解决现有技术的不足。

2、本实用新型采用以下技术方案:

3、一种用于评估纳米磁性微球凝集性的薄片皿,包括薄片皿本体,所述薄片皿本体的内部中空,薄片皿本体的顶端设有注入口,薄片皿本体的内壁一面设有若干凹槽,若干凹槽从下至上高度逐渐增大,若干凹槽从下至上分成两个级别,分别为第一级别和第二级别,第一级别的凹槽的最小高度略大于纳米磁性微球的粒径,第一级别的凹槽的最大高度小于两个纳米磁性微球的粒径,第二级别的凹槽的最小高度略大于两个纳米磁性微球的粒径,第二级别的凹槽的最大高度至少大于纳米磁性微球最大凝集块的块径;若干凹槽所在的薄片皿本体内壁面上留有足以聚磁的空间,足以聚磁的空间和注入口位于若干凹槽的两侧;薄片皿本体的外壁配有磁铁。

4、进一步地,所述凹槽的长度窄于薄片皿本体的长度。

5、进一步地,凹槽的数量为10~1000个,且第一级别凹槽数量足够容纳未凝集纳米磁性微球。

6、进一步地,所述凹槽的深度为1μm~1mm。

7、进一步地,所述磁铁的长度和凹槽的长度相同,所述磁铁的高度足以聚磁纳米磁性微球。

8、本实用新型的有益效果:

9、本实用新型可以用肉眼简单地评估进入不同级别凹槽的纳米磁性微球,可以直接评估一定程度的纳米磁性微球的凝集分布。同时使用显微镜,就可以只观察凝集的纳米磁性微球,进而可以进一步有效评估。



技术特征:

1.一种用于评估纳米磁性微球凝集性的薄片皿,其特征在于,包括薄片皿本体,所述薄片皿本体的内部中空,薄片皿本体的顶端设有注入口,薄片皿本体的内壁一面设有若干凹槽,若干凹槽从下至上高度逐渐增大,若干凹槽从下至上分成两个级别,分别为第一级别和第二级别,第一级别的凹槽的最小高度略大于纳米磁性微球的粒径,第一级别的凹槽的最大高度小于两个纳米磁性微球的粒径,第二级别的凹槽的最小高度略大于两个纳米磁性微球的粒径,第二级别的凹槽的最大高度至少大于纳米磁性微球最大凝集块的块径;若干凹槽所在的薄片皿本体内壁面上留有足以聚磁的空间,足以聚磁的空间和注入口位于若干凹槽的两侧;薄片皿本体的外壁配有磁铁。

2.根据权利要求1所述的用于评估纳米磁性微球凝集性的薄片皿,其特征在于,所述凹槽的长度窄于薄片皿本体的长度。

3.根据权利要求1所述的用于评估纳米磁性微球凝集性的薄片皿,其特征在于,凹槽的数量为10~1000个,且第一级别凹槽数量足够容纳未凝集纳米磁性微球。

4.根据权利要求1所述的用于评估纳米磁性微球凝集性的薄片皿,其特征在于,所述凹槽的深度为1μm~1mm。

5.根据权利要求1所述的用于评估纳米磁性微球凝集性的薄片皿,其特征在于,所述磁铁的长度和凹槽的长度相同,所述磁铁的高度足以聚磁纳米磁性微球。


技术总结
本技术公开一种用于评估纳米磁性微球凝集性的薄片皿,包括薄片皿本体,所述薄片皿本体的内部中空,薄片皿本体的顶端设有注入口,薄片皿本体的内壁一面设有若干凹槽,若干凹槽从下至上高度逐渐增大,若干凹槽所在的薄片皿本体内壁面上留有足以聚磁的空间,足以聚磁的空间和注入口位于若干凹槽的两侧;薄片皿本体的外壁配有磁铁。本技术可以用肉眼简单地评估进入不同级别凹槽的纳米磁性微球,可以直接评估一定程度的纳米磁性微球的凝集分布。同时使用显微镜,就可以只观察凝集的纳米磁性微球,进而可以进一步有效评估。

技术研发人员:荒井信之
受保护的技术使用者:恩碧乐(深圳)生物科技有限公司
技术研发日:20230810
技术公布日:2024/1/15
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