一种用于测量大行程粗糙度、波纹度、轮廓度的仪器的制作方法

本技术涉及测量检测，具体为一种用于测量大行程粗糙度、波纹度、轮廓度的仪器。

背景技术：

1、目前，随着加工精度的不断提高，对工件的测量更加重要，而对于一些测量特征较长和回转类的工件，能否完整测量，直接影响着工件的测量结果，而现有的一些仪器对这类工件容易测量不完整、容易损伤工件表面，从而影响工件的测量效率和测量结果。

技术实现思路

1、(一)解决的技术问题

2、针对现有技术的不足，本实用新型提供了一种用于测量大行程粗糙度、波纹度、轮廓度的仪器，完善这类工件的测量完整性和提高测量精度，以及测量对工件的影响。

3、(二)技术方案

4、为达到以上目的，本实用新型采取的技术方案是：一种用于测量大行程粗糙度、波纹度、轮廓度的仪器，包括由x轴高精密导轨、z轴精密导轨、高清摄像头、轻测力精密传感器、精密回转台、倾角调整台、y轴高精度移动平台、研磨平台、四个橡胶减震柱、减震机架和四个可调减震地脚组成的主体；

5、所述y轴高精度移动平台安装在研磨平台上中部，所述精密回转台安装在y轴高精度移动平台的移动端上，所述x轴高精密导轨通过大理石立柱安装在研磨平台上靠后一侧，所述z轴精密导轨安装在x轴高精密导轨的移动端上，所述高清摄像头和轻测力精密传感器均安装在z轴精密导轨的移动端上。

6、优选的，所述研磨平台的底端四角通过四个橡胶减震柱连接减震机架，所述减震机架的底端四角连接四个可调减震地脚。

7、优选的，所述精密回转台的右侧通过合页连接在y轴高精度移动平台的移动端右侧，所述精密回转台的左侧底端通过倾角调整台与y轴高精度移动平台的移动端左侧连接。

8、优选的，所述精密回转台的材料为cr12mov淬火处理。

9、优选的，所述倾角调整台的材料为6061表面硬质阳极化处理。

10、优选的，所述x轴高精密导轨的材料为sdk11淬火处理。

11、优选的，所述轻测力精密传感器的分辨率0.00002mm。

12、优选的，所述橡胶减震柱材料为橡胶，所述研磨平台的材料为大理石。

13、(三)有益效果

14、本实用新型的有益效果在于：

15、该用于测量大行程粗糙度、波纹度、轮廓度的仪器，通过设置的x轴高精密导轨和z轴精密导轨带动轻测力精密传感器在精密回转台的上侧以x轴和y轴移动，且通过将工件放置于精密回转台上后可以y轴高精度移动平台沿y轴移动，且通过倾角调整台可对精密回转台上侧工件的倾角度调整，进而可实现更准确的测量工件的粗糙度、波纹度和轮廓度，可有效提高对较长和回转类工件的测量精度。

技术特征：

1.一种用于测量大行程粗糙度、波纹度、轮廓度的仪器，其特征在于：包括由x轴高精密导轨(1)、z轴精密导轨(2)、高清摄像头(3)、轻测力精密传感器(4)、精密回转台(5)、倾角调整台(6)、y轴高精度移动平台(7)、研磨平台(8)、四个橡胶减震柱(9)、减震机架(10)和四个可调减震地脚(11)组成的主体；

2.根据权利要求1所述的一种用于测量大行程粗糙度、波纹度、轮廓度的仪器，其特征在于：所述研磨平台(8)的底端四角通过四个橡胶减震柱(9)连接减震机架(10)，所述减震机架(10)的底端四角连接四个可调减震地脚(11)。

3.根据权利要求1所述的一种用于测量大行程粗糙度、波纹度、轮廓度的仪器，其特征在于：所述精密回转台(5)的右侧通过合页连接在y轴高精度移动平台(7)的移动端右侧，所述精密回转台(5)的左侧底端通过倾角调整台(6)与y轴高精度移动平台(7)的移动端左侧连接。

4.根据权利要求1所述的一种用于测量大行程粗糙度、波纹度、轮廓度的仪器，其特征在于：所述精密回转台(5)的材料为cr12mov淬火处理。

5.根据权利要求1所述的一种用于测量大行程粗糙度、波纹度、轮廓度的仪器，其特征在于：所述倾角调整台(6)的材料为6061表面硬质阳极化处理。

6.根据权利要求1所述的一种用于测量大行程粗糙度、波纹度、轮廓度的仪器，其特征在于：所述x轴高精密导轨(1)的材料为sdk11淬火处理。

7.根据权利要求1所述的一种用于测量大行程粗糙度、波纹度、轮廓度的仪器，其特征在于：所述轻测力精密传感器(4)的分辨率0.00002mm。

8.根据权利要求1所述的一种用于测量大行程粗糙度、波纹度、轮廓度的仪器，其特征在于：所述橡胶减震柱(9)材料为橡胶，所述研磨平台(8)的材料为大理石。

技术总结
本技术公开了一种用于测量大行程粗糙度、波纹度、轮廓度的仪器，涉及测量检测技术领域，其包括由X轴高精密导轨、Z轴精密导轨、高清摄像头、轻测力精密传感器、精密回转台、倾角调整台、Y轴高精度移动平台、研磨平台、四个橡胶减震柱、减震机架和四个可调减震地脚组成的主体。该用于测量大行程粗糙度、波纹度、轮廓度的仪器，通过设置的X轴高精密导轨和Z轴精密导轨带动轻测力精密传感器在精密回转台的上侧以X轴和Y轴移动，且通过将工件放置于精密回转台上后可以Y轴高精度移动平台沿Y轴移动，且通过倾角调整台可对精密回转台上侧工件的倾角度调整，进而可实现更准确的测量工件的粗糙度、波纹度和轮廓度。

技术研发人员：范厚杰,马丁,宋斌博,张乐
受保护的技术使用者：陕西威尔机电科技有限公司
技术研发日：20230817
技术公布日：2024/4/7