断路器的校验设备的制作方法

本申请涉及电气技术，涉及但不限于断路器的校验设备。

背景技术：

1、断路器是一种电气保护元器件，其可以在电路中的电流超过预定值时自动断开，从而保护电路中的器件免受损伤，在断路器投入电路使用前，需要利用校验设备对断路器进行延时校验，以判断该断路器是否合格。具体地，可以通过恒流源输出设定电流施加在断路器上，断路器如果在规定时间内断开就是合格产品。

2、现有技术中，是规定在特定温度下对断路器进行延时校验，但在实际操作过程中，环境温度相比特定温度可能发生变化，这样，由于环境温度变化会造成断路器的延时校验结果不准确，从而产生误判；因此，如何提升校验设备的校验性能是当前亟待解决的问题。

技术实现思路

1、有鉴于此，本申请提供的断路器的校验设备，能够提升校验结果的准确性，从而提升校验设备的校验性能。

2、根据本申请的一个方面，提供一种断路器的校验设备，包括：环境温度传感器、控制模块和恒流源；其中，所述环境温度传感器与所述控制模块的第一端电性连接，所述控制模块的第二端与所述恒流源的输入端电性连接，所述恒流源的输出端与待测试断路器电性连接；所述控制模块的第三端与所述待测试断路器电性连接；所述环境温度传感器，用于采集当前的环境温度，将所述环境温度发送给所述控制模块；所述控制模块，基于所述环境温度控制所述恒流源向所述待测试断路器输入校验电流，所述校验电流的大小和/或时长与所述环境温度匹配；根据所述断路器接收到电流的时刻和所述断路器根据接收到的电流控制其内部的脱扣器脱扣的时刻确定所述待测试断路器是否合格。

3、在一些实施例中，所述校验设备还包括触头温度调节模块，所述触头温度调节模块与所述控制模块的第四端电性连接，所述触头温度调节模块与所述断路器的触头接触连接；其中，所述触头温度调节模块用于控制所述触头的温度保持预设温度不变，并在达到所述预设温度时指示所述控制模块对所述待测试断路器进行校验。

4、在一些实施例中，所述触头温度调节模块包括温控子模块、加热片和触头温度传感器；所述温控子模块的第一端与所述控制模块的第四端电性连接，所述温控子模块的第二端与所述加热片电性连接，所述温控子模块的第三端与所述触头温度传感器电性连接，所述触头温度传感器贴合在所述触头上；

5、所述触头温度传感器用于采集触头温度，将所述触头温度发送给所述温控子模块；

6、所述温控子模块用于在所述触头温度小于所述预设温度时控制所述加热片对所述触头进行加热；在所述触头温度达到所述预设温度时控制所述加热片停止加热；以及，在所述触头温度达到所述预设温度时指示所述控制模块对所述待测试断路器进行校验。

7、在一些实施例中，校验设备还包括：继电器；所述继电器设置在所述温控子模块与所述加热片之间；在所述触头温度小于所述预设温度时，所述温控子模块控制所述继电器导通，使得所述加热片对所述触头进行加热；在所述触头温度达到预设温度时，所述温控子模块控制所述继电器断开，使得所述加热片停止加热。

8、在一些实施例中，所述加热片为陶瓷加热片。

9、在一些实施例中，所述触头温度传感器为热电偶。

10、在一些实施例中，所述触头包括多个面，所述加热片与所述触头温度传感器贴合在所述触头的不同面上。

11、在一些实施例中，所述触头包括多个面，所述加热片与所述触头温度传感器贴合在所述触头的同一面上。

12、在一些实施例中，所述恒流源向所述断路器输入的电流大小与所述环境温度负相关。

13、在一些实施例中，所述预设温度为40℃。

14、在本申请实施例中，在现有的校验设备中增加了环境温度传感器和控制模块，环境温度传感器可以实时地采集当前环境温度，控制模块基于采集到的环境温度控制恒流源输入至断路器的电流，使得输入至断路器的校验电流大小和/或时长与当前的环境温度相匹配，从而使得校验设备确定的断开延时更加准确，提升了校验结果的准确性，进而提升了校验设备的校验性能。

15、应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本申请。

技术特征：

1.一种断路器的校验设备，其特征在于，包括：环境温度传感器、控制模块和恒流源；其中，所述环境温度传感器与所述控制模块的第一端电性连接，所述控制模块的第二端与所述恒流源的输入端电性连接，所述恒流源的输出端与待测试断路器电性连接；所述控制模块的第三端与所述待测试断路器电性连接；

2.根据权利要求1所述的校验设备，其特征在于，所述校验设备还包括触头温度调节模块，所述触头温度调节模块与所述控制模块的第四端电性连接，所述触头温度调节模块与所述断路器的触头接触连接；其中，

3.根据权利要求2所述的校验设备，其特征在于，所述触头温度调节模块包括温控子模块、加热片和触头温度传感器；

4.根据权利要求3所述的校验设备，其特征在于，还包括：继电器；所述继电器设置在所述温控子模块与所述加热片之间；

5.根据权利要求3或4所述的校验设备，其特征在于，所述加热片为陶瓷加热片。

6.根据权利要求3或4所述的校验设备，其特征在于，所述触头温度传感器为热电偶。

7.根据权利要求3或4所述的校验设备，其特征在于，所述触头包括多个面，所述加热片与所述触头温度传感器贴合在所述触头的不同面上。

8.根据权利要求3或4所述的校验设备，其特征在于，所述触头包括多个面，所述加热片与所述触头温度传感器贴合在所述触头的同一面上。

9.根据权利要求1所述的校验设备，其特征在于，所述恒流源向所述断路器输入的电流大小与所述环境温度负相关。

10.根据权利要求4所述的校验设备，其特征在于，所述预设温度为40℃。

技术总结
本申请提供了断路器的校验设备，包括：环境温度传感器、控制模块和恒流源；其中，环境温度传感器与控制模块的第一端电性连接，控制模块的第二端与恒流源的输入端电性连接，恒流源的输出端与待测试断路器电性连接；控制模块的第三端与待测试断路器电性连接；环境温度传感器，用于采集环境温度，将环境温度发送给控制模块；控制模块，基于环境温度控制恒流源向待测试断路器输入校验电流，所述校验电流的大小和/或时长与所述环境温度匹配；根据断路器接收到电流的时刻和断路器根据接收到的电流控制其内部的脱扣器脱扣的时刻确定待测试断路器是否合格。本申请的校验设备，能够提升校验设备的校验性能。

技术研发人员：周建,朱邦权,高雄,李超,林建,陈胜权,余锦华,黄忠义,吴双龙,王博
受保护的技术使用者：德力西电气有限公司
技术研发日：20230825
技术公布日：2024/3/27