一种LED显示产品快速测量装置的制作方法

本技术属于led显示产品，涉及一种led显示产品快速测量装置。

背景技术：

1、在led显示产品的生产过程中，需要以金属材质的套件作为载体，将一定数目的led灯板拼组成单元模块，才能最终拼接成所需的大尺寸显示屏。所需显示屏的尺寸越大，套件总数也越多，相应的，套件间由于加工精度限制所存在的个体尺寸差异也会愈发明显，在增大装配难度的同时也在一定程度上影响了屏幕的美观性。

2、针对这一问题，行业内大多采取在水平台面上利用游标卡尺人工测量套件外尺的方法以筛选与理论尺差值在合理范围内的套件，这种筛选方式不仅消耗大量人力，更因为卡尺本身的测量精度有限而无法得出准确结论。

技术实现思路

1、本实用新型要解决的技术问题是提供一种led显示产品快速测量装置，该装置可精确测量套件外尺，取代人工测量，较大程度提升测量效率。

2、为了解决上述技术问题，本实用新型的led显示产品快速测量装置包括工作台，右限位边条，前限位边条，四个外尺测距传感器；所述右限位边条和前限位边条相互垂直固定在工作台的工作台面上测量区域的右侧和前侧；套件设置在测量区域上；四个外尺测距传感器分别对准套件左侧面的两端和后侧面的两端。

3、所述工作台采用表面平整的箱体，其顶盖上表面为工作台面。

4、所述工作台面的左部和右部各有一处台阶；测量区域位于高台阶面上。

5、所述右限位边条和前限位边条为顶盖上的凸起结构。

6、所述右限位边条和前限位边条为一体的l形边条。

7、所述右限位边条和前限位边条通过螺钉固定在顶盖上。

8、所述四个外尺测距传感器固定在低台阶面上。

9、进一步，本实用新型还包括固定在顶盖底面上的四个套件夹紧气缸；各套件夹紧气缸的活塞杆前端连接推板，各推板由顶盖的槽孔伸到高台阶面上方；其中两个推板的板面面向套件的左侧面，另外两个推板的板面面向套件的后侧面。

10、进一步，本实用新型还包括固定在顶盖底面上的四个平整度测距传感器，所述四个平整度测距传感器位置与套件四个角位置对应，顶盖上对应四个平整度测距传感器的位置具有通孔。

11、所述四个外尺测距传感器和四个平整度测距传感器均采用激光测距传感器。

12、本实用新型通过四个外尺测距传感器的读数和外尺测距传感器与右限位边条、前限位边条之间的距离即可测得套件的长、宽数值，将长、宽数值与标准件规定尺寸对比即可确认套件长宽外尺是否符合物料需求；通过四个平整度测距传感器的读数差值即可判断套件整体平整度的好坏。本实用新型可精确测量套件外尺和表面平整度，取代人工测量，较大程度提升了测量效率。

技术特征：

1.一种led显示产品快速测量装置，其特征在于包括工作台(1)，右限位边条(21)，前限位边条(22)，四个外尺测距传感器(4)；所述右限位边条和前限位边条相互垂直固定在工作台的工作台面上测量区域的右侧和前侧；套件(6)设置在测量区域上；四个外尺测距传感器分别对准套件左侧面的两端和后侧面的两端。

2.根据权利要求1所述的led显示产品快速测量装置，其特征在于所述工作台采用表面平整的箱体，其顶盖(11)上表面为工作台面。

3.根据权利要求1或2所述的led显示产品快速测量装置，其特征在于所述工作台面的左部和右部各有一处台阶；测量区域位于高台阶面(111)上。

4.根据权利要求2所述的led显示产品快速测量装置，其特征在于所述右限位边条和前限位边条为顶盖上的凸起结构。

5.根据权利要求2所述的led显示产品快速测量装置，其特征在于所述右限位边条和前限位边条为一体的l形边条。

6.根据权利要求2所述的led显示产品快速测量装置，其特征在于所述右限位边条和前限位边条通过螺钉固定在顶盖上。

7.根据权利要求3所述的led显示产品快速测量装置，其特征在于所述四个外尺测距传感器固定在低台阶面(112)上。

8.根据权利要求3所述的led显示产品快速测量装置，其特征在于包括固定在顶盖底面上的四个套件夹紧气缸(3)；各套件夹紧气缸的活塞杆前端连接推板(7)，各推板由顶盖的槽孔(113)伸到高台阶面上方；其中两个推板的板面面向套件的左侧面，另外两个推板的板面面向套件的后侧面。

9.根据权利要求3所述的led显示产品快速测量装置，其特征在于还包括固定在顶盖底面上的四个平整度测距传感器(5)，所述四个平整度测距传感器位置与套件四个角位置对应，顶盖上对应四个平整度测距传感器的位置具有通孔。

10.根据权利要求9所述的led显示产品快速测量装置，其特征在于所述四个外尺测距传感器和四个平整度测距传感器均采用激光测距传感器。

技术总结
本技术涉及一种LED显示产品快速测量装置，该装置包括工作台，右限位边条，前限位边条，四个外尺测距传感器；所述右限位边条和前限位边条相互垂直固定在工作台的工作台面上测量区域的右侧和前侧；套件设置在测量区域上；四个外尺测距传感器分别对准套件左侧面的两端和后侧面的两端。本技术可精确测量套件外尺，取代人工测量，较大程度提升了测量效率。

技术研发人员：刘天宇,牛常富,吕思佳,田野,李健楠,吴中良,宫岩,李嘉欣,黄磊,吕青昱,邬存梦
受保护的技术使用者：长春希达电子技术有限公司
技术研发日：20230829
技术公布日：2024/4/7