一种芯片测试系统的制作方法

本技术涉及adc芯片测试，具体涉及一种芯片测试系统。

背景技术：

1、高速高精度adc芯片研制流程包括设计、制造、实验室测试、批产测试和可靠性测试等环节，其中批产测试包括中测、成测。其中，成测在芯片研发中占有极其重要的地位，高端adc芯片产品的批产测试费用占据了芯片研发的大部分成本，其主要原因在于开发一套针对ate机台的高速高精度adc芯片测试环境(包括软件与硬件)费用非常昂贵，如果在成测过程中发现芯片产品的设计缺陷，那成测之前的研发工作需要重新闭环，这样所造成的时间成本和经济成本对一家公司来说是无法承受的。

2、目前行业内高精度adc芯片测试，主要依靠ate机台、高精度基准信号源、高精度仪器仪表，组成的测试系统，由这些部件组成的高精度adc测试系统，存在测量精度较低，通道较少和带宽不够。

技术实现思路

1、为了解决现有技术的问题，本实用新型提供了一种芯片测试系统，包括:pc机、数据采集模块、dds信号源、dut测试载板和数字电源；

2、所述pc机分别与所述数据采集模块、所述dds信号源连接；

3、所述数据采集模块分别与所述dut测试载板和所述pc机连接；

4、所述数字电源分别与所述dds信号源、所述dut测试载板和所述数据采集模块连接，所述数字电源用于给所述dds信号源和所述dut测试载板供电。

5、进一步地，所述数据采集模块与所述dut测试载板通过高速插座以子母板方式连接。

6、进一步地，所述数字电源通过高速高密度电连接器插座分别为所述数据采集模块和所述dut测试载板供电。

7、进一步地，所述dds信号源内置带通滤波器组，所述dds信号源输出信号通过所述带通滤波器组后再通过射频电缆与所述dct测试载板连接。

8、进一步地，所述dds信号源的型号为ad9910模块，所述dut测试载板型号为is7606-eval，所述数据采集模块型号为gd32f103。

9、本实用新型的有益效果：

10、通过采用高精度信号源发生器dds，作为信号源，测试adc的主要性能参数，只要通过usb连接上位机便可以实现自动化测试，与传统高精度同步adc芯片的测试相比较，具有设备投入费用较少、设备组成简单、测量精确度高、测试效率高的特点，极大地节省了测试成本，提高了测试效率。

技术特征：

1.一种芯片测试系统，其特征在于，包括：pc机、数据采集模块、dds信号源、dut测试载板和数字电源；

2.根据权利要求1所述的一种芯片测试系统，其特征在于，所述数据采集模块与所述dut测试载板通过高速插座以子母板方式连接。

3.根据权利要求1所述的一种芯片测试系统，其特征在于，所述数字电源通过高速高密度电连接器插座分别为所述数据采集模块和所述dut测试载板供电。

4.根据权利要求1所述的一种芯片测试系统，其特征在于，所述dds信号源内置带通滤波器组，所述dds信号源输出信号通过所述带通滤波器组后再通过射频电缆与所述dut测试载板连接。

5.根据权利要求1所述的一种芯片测试系统，其特征在于，所述dds信号源的型号为ad9910模块，所述dut测试载板型号为is7606-eval，所述数据采集模块型号为gd32f103。

技术总结
本技术公开了一种芯片测试系统，属于ADC芯片测试技术领域,包括：PC机、数据采集模块、DDS信号源、DUT测试载板和数字电源；所述PC机分别与所述数据采集模块、所述DDS信号源连接；所述数据采集模块分别与所述DUT测试载板和所述PC机连接；所述数字电源分别与所述DDS信号源、所述DUT测试载板和所述数据采集模块连接，所述数字电源用于给所述DDS信号源和所述DUT测试载板供电。本申请与传统高精度同步ADC芯片的测试相比较，具有设备投入费用较少、设备组成简单、测量精确度高、测试效率高的特点，极大地节省了测试成本，提高了测试效益。

技术研发人员：冀争锋,肖霈
受保护的技术使用者：西安集芯微电子科技有限公司
技术研发日：20230907
技术公布日：2024/4/24