本技术涉及探针，更具体地说，本技术涉及一种用于功率器件中高压大电流芯片测试的实用结构。
背景技术：
1、探针是一种信号传输探测工具，探针卡是一种测试接口，主要对裸芯进行测试，通过连接测试机和芯片，通过传输信号对芯片参数进行测试。
2、中国实用新型公开说明书cn217213020u公开了一种芯片测试结构，包括芯片、测试座主体和测试片主机间，芯片上至少包括一个导通端，本实用新型包括多组由四个测试片构成的测试片组件，当与开尔文电路导通时，电流被分流到多个测试片组件中，这样分配到每个测试片的电流就很低，提升了测试片使用寿命，能符合高电流和高电压的使用需求，并且测试片与芯片的导通方式多样化，适用范围广，但是在测试芯片时会使用绝缘油脂进行隔绝了空气，减小表面打火，绝缘油脂不仅成本较低，还能起到简单的隔绝空气的作用，但是油脂会污染芯片，每次测试过后都需要工作人员手动清洁浪费工作人员的工作时间，降低工作效率。
技术实现思路
1、为了克服现有技术的上述缺陷，本实用新型的实施例提供一种用于功率器件中高压大电流芯片测试的实用结构，通过设置了活动齿条和清洁棉块，芯片测试完成后，活动柱上移带动螺纹滑柱移动，最终使活动杆带动清洁棉块清洁测试完成后的芯片，以解决上述背景技术中提出的问题。
2、为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种用于功率器件中高压大电流芯片测试的实用结构，包括支撑基板，所述支撑基板的内部固定连接有活塞筒，所述活塞筒的内壁滑动连接有活动柱，所述活动柱的底部固定连接有螺纹滑柱，所述螺纹滑柱的底部固定连接有环氧树脂，所述环氧树脂的底部固定连接有探针，所述螺纹滑柱的外壁通过螺纹连接有螺纹转套，所述螺纹转套的外壁固定连接有传动齿轮，所述传动齿轮的一侧啮合有活动齿条，所述活动齿条的一侧固定连接有活动板，所述活动板的一侧固定连接有活动杆，所述活动杆的一侧固定连接有清洁棉块，所述活动齿条远离活动板的一侧固定连接有支撑弹簧。
3、在一个优选地实施方式中，所述活塞筒的内壁开设有储气腔，所述储气腔的底部连通设有排气管。
4、在一个优选地实施方式中，所述排气管的外壁固定连接有单向阀，所述储气腔的一侧连通设有进气管。
5、在一个优选地实施方式中，所述活塞筒的一侧固定连接有集尘箱，所述集尘箱的内壁固定连接有支撑件，所述支撑件的内壁转动连接有传动转杆，所述传动转杆的一端固定连接有旋转扇叶。
6、在一个优选地实施方式中，所述传动转杆的一端转动连接有旋转电机，所述旋转电机的顶部固定连接有电机开关。
7、在一个优选地实施方式中，所述环氧树脂的底部固定连接有对应型挤压柱，所述对应型挤压柱设在电机开关的底部。
8、在一个优选地实施方式中，所述集尘箱的内壁固定连接有过滤网，所述过滤网设在探针与旋转扇叶之间。
9、本实用新型的技术效果和优点：
10、1、本实用新型通过设置了活动齿条和清洁棉块，芯片测试完成后，活动柱上移带动螺纹滑柱移动，螺纹滑柱会通过螺纹使螺纹转套转动，螺纹转套会带动传动齿轮啮合活动齿条，活动齿条就会带动活动板使活动杆移动，活动杆会带动清洁棉块清洁测试完成后的芯片，解决了每次芯片测试完后都需要手动清洁芯片浪费工作人员工作时间的问题；
11、2、本实用新型通过设置了储气腔和单向阀，每次对芯片测试时，活动柱都会下移挤压储气腔内的氮气，氮气就会通过排气管排向芯片，从而使氮气减小了探针与芯片之间的打火，当活动柱向上移动时，储气腔就会通过进气管补充新的氮气，并且由于排气管设有单向阀，所以排气管排出的氮气不会再通过排气管进入储气腔内。
1.一种用于功率器件中高压大电流芯片测试的实用结构，包括支撑基板(1)，其特征在于：所述支撑基板(1)的内部固定连接有活塞筒(2)，所述活塞筒(2)的内壁滑动连接有活动柱(3)，所述活动柱(3)的底部固定连接有螺纹滑柱(4)，所述螺纹滑柱(4)的底部固定连接有环氧树脂(5)，所述环氧树脂(5)的底部固定连接有探针(6)，所述螺纹滑柱(4)的外壁通过螺纹连接有螺纹转套(7)，所述螺纹转套(7)的外壁固定连接有传动齿轮(8)，所述传动齿轮(8)的一侧啮合有活动齿条(9)，所述活动齿条(9)的一侧固定连接有活动板(10)，所述活动板(10)的一侧固定连接有活动杆(11)，所述活动杆(11)的一侧固定连接有清洁棉块(12)，所述活动齿条(9)远离活动板(10)的一侧固定连接有支撑弹簧(13)。
2.根据权利要求1所述的一种用于功率器件中高压大电流芯片测试的实用结构，其特征在于：所述活塞筒(2)的内壁开设有储气腔(14)，所述储气腔(14)的底部连通设有排气管(15)。
3.根据权利要求2所述的一种用于功率器件中高压大电流芯片测试的实用结构，其特征在于：所述排气管(15)的外壁固定连接有单向阀(16)，所述储气腔(14)的一侧连通设有进气管(17)。
4.根据权利要求2所述的一种用于功率器件中高压大电流芯片测试的实用结构，其特征在于：所述活塞筒(2)的一侧固定连接有集尘箱(18)，所述集尘箱(18)的内壁固定连接有支撑件(19)，所述支撑件(19)的内壁转动连接有传动转杆(20)，所述传动转杆(20)的一端固定连接有旋转扇叶(21)。
5.根据权利要求4所述的一种用于功率器件中高压大电流芯片测试的实用结构，其特征在于：所述传动转杆(20)的一端转动连接有旋转电机(22)，所述旋转电机(22)的顶部固定连接有电机开关(23)。
6.根据权利要求5所述的一种用于功率器件中高压大电流芯片测试的实用结构，其特征在于：所述环氧树脂(5)的底部固定连接有对应型挤压柱(24)，所述对应型挤压柱(24)设在电机开关(23)的底部。
7.根据权利要求4所述的一种用于功率器件中高压大电流芯片测试的实用结构，其特征在于：所述集尘箱(18)的内壁固定连接有过滤网(25)，所述过滤网(25)设在探针(6)与旋转扇叶(21)之间。