一种自动测试芯片的方法及装置与流程

本申请涉及芯片测试领域，具体而言本申请实施例涉及一种自动测试芯片的方法及装置。

背景技术：

1、在芯片测试领域，存在着多项技术问题，其中主要围绕着测试流程的复杂性、耗时性和人力成本等方面。传统的芯片测试过程需要在测试每个例程时单独连接仿真器、下载编译和运行，这导致测试耗时且操作复杂。这样的测试方法对于大规模测试以及缺乏测试设备的环境下，会导致巨大的人力资源投入和成本支出。

2、现有技术问题主要包括：

3、1.测试流程繁琐：传统的芯片测试流程要求每个例程单独进行连接仿真器、下载、编译和运行操作，这增加了操作步骤和耗时，严重影响了测试效率。

4、2.人工干预多：手动操作每个例程的测试，需要测试人员在每个步骤中介入，这样容易引入操作错误，增加了人工干预的风险。

5、3.技术门槛高：传统测试方法需要测试人员熟悉各种测试原理和操作步骤，这对于缺乏专业技能或了解测试设备操作的人员来说是一项挑战。

6、4.测试时间长：因为每个例程需要单独操作，所以一个芯片的完整测试需要大量的时间，这在大数量测试中是不可接受的。

7、5.成本高：由于需要大量人力投入和操作耗时，传统测试方法带来了显著的人力成本和运营成本。

8、以上问题阻碍了芯片测试过程的高效性和自动化程度，增加了生产成本和时间投入。因此，如何提升芯片测试效率成了亟待解决的技术问题。

技术实现思路

1、本申请实施例的目的在于提供一种自动测试芯片的方法及装置，采用本申请实施例可自动生成不同引脚(引脚，又叫管脚，英文叫pin)的测试例程，并将它们编译成相应的elf文件，用户只需将这些elf文件放入指定位置，连接带座开发板或者核心板，连接仿真器和电源线，系统支持多种芯片型号和引脚数量，自动通过jtag接口连接到目标芯片并执行测试，采用本申请实施例的技术方案显著降低了技术门槛，减少了人为操作错误的风险，提高了测试效率，大幅降低了人力成本，为芯片生产和筛选过程带来显著的加速效果。

2、第一方面，本申请实施例提供一种自动测试芯片的方法，所述方法包括：自动生成不同引脚的测试例程，并将所述测试例程编译为可执行elf文件，其中，所述可执行elf文件包括所有待测试代码和数据；将所述可执行elf文件放入指定位置；接收输入的芯片型号和引脚信息，得到测试参数，其中，所述测试参数用于建立联合测试工作组jtag连接；根据所述测试参数自动通过jtag接口连接到芯片并执行测试。

3、在一些实施例中，所述根据所述测试参数自动通过jtag接口连接到芯片并执行测试，包括：根据预设的测试顺序自动加载并执行所述可执行elf文件中的测试例程。

4、在一些实施例中，所述根据所述测试参数自动通过jtag接口连接到芯片并执行测试，还包括：若确认第一测试例程被设置为输出打印信息，则执行所述第一测试例程时则在命令行界面上显示相应的打印信息。

5、在一些实施例中，在所述根据所述测试参数自动通过jtag接口连接到芯片并执行测试之前，所述方法还包括：接收输入的针对第二测试例程的硬件连线的连线信息；所述根据所述测试参数自动通过jtag接口连接到芯片并执行测试，包括：若确认测试至所述第二测试例程，则提供针对所述连线信息的连接提示并等待输入连接完成继续测试的指令。

6、在一些实施例中，通过命令行提供所述连接提示，所述指令通过回车键触发。

7、在一些实施例中，所述根据所述测试参数自动通过jtag接口连接到芯片并执行测试，还包括：在每个测试例程完成后，通过命令行提供测试结果，其中，所述测试结果包括测试通过或者测试失败。

8、在一些实施例中，所述根据所述测试参数自动通过jtag接口连接到芯片并执行测试，还包括：在所有测试例程均测试完成后，通过命令行提供汇总测试结果，其中，所述汇总测试结果包括各测试例程的名称以及相应的测试结果。

9、在一些实施例中，在所述将所述测试例程编译为可执行elf文件之前，所述方法还包括：通过编译参数配置界面接收不同硬件所需的引脚配置参数，以使各可执行elf文件适配不同硬件需求。

10、在一些实施例中，所述将所述测试例程编译为可执行elf文件，包括：在编译过程中，通过界面实时反馈编译状态。

11、第二方面，本申请的一些实施例提供一种自动测试芯片的装置，所述装置包括：编译生成可执行文件模块，被配置为自动生成不同引脚的测试例程，并将所述测试例程编译为可执行elf文件，其中，所述可执行elf文件包括所有待测试代码和数据；存放模块，被配置为将所述可执行elf文件放入指定位置；自动连接信息输入模块，被配置为接收输入的芯片型号和引脚信息，得到测试参数，其中，所述测试参数用于建立联合测试工作组jtag连接；连接及测试模块，被配置为根据所述测试参数自动通过jtag接口连接到芯片并执行测试。

技术特征：

1.一种自动测试芯片的方法，其特征在于，所述方法包括：

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述测试参数自动通过jtag接口连接到芯片并执行测试，包括：

3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述测试参数自动通过jtag接口连接到芯片并执行测试，还包括：

4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，在所述根据所述测试参数自动通过jtag接口连接到芯片并执行测试之前，所述方法还包括：

5.如权利要求4所述的方法，其特征在于，通过命令行提供所述连接提示，所述指令通过回车键触发。

6.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述测试参数自动通过jtag接口连接到芯片并执行测试，还包括：

7.如权利要求6所述的方法，其特征在于，所述根据所述测试参数自动通过jtag接口连接到芯片并执行测试，还包括：

8.如权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述将所述测试例程编译为可执行elf文件之前，所述方法还包括：

9.如权利要求8所述的方法，其特征在于，所述将所述测试例程编译为可执行elf文件，包括：

10.一种自动测试芯片的装置，其特征在于，所述装置包括：

技术总结
本申请实施例提供一种自动测试芯片的方法及装置，所述方法包括：自动生成不同引脚的测试例程，并将所述测试例程编译为可执行ELF文件，其中，所述可执行ELF文件包括所有待测试代码和数据；将所述可执行ELF文件放入指定位置；接收输入的芯片型号和引脚信息，得到测试参数，其中，所述测试参数用于建立联合测试工作组JTAG连接；根据所述测试参数自动通过JTAG接口连接到芯片并执行测试。采用本申请实施例的技术方案显著降低了技术门槛，减少了人为操作错误的风险，提高了测试效率，大幅降低了人力成本，为芯片生产和筛选过程带来显著的加速效果。

技术研发人员：张俊妍,张劲松,吴军宁
受保护的技术使用者：北京中科昊芯科技有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/4/22