传感器偏差校正方法、装置、传感器及存储介质与流程

本申请涉及互联网，尤其涉及一种传感器偏差校正方法、装置、传感器及存储介质。

背景技术：

1、传感器是能感受到被测量的信息，并能将感受到的信息，按一定规律变换成为电信号或其他所需形式的信息输出，以满足信息的传输、处理、存储、显示、记录和控制等要求的测量装置。具有微型化、数字化、智能化、多功能化、系统化、网络化等特点，它是实现自动测量和自动控制的首要环节。

2、对现有的传感器数值测量，因为不同传感器厂家的测量标准不同，厂家的测量标准并不适用于所有客户要求的标准，存在传感器硬件之间的细小差异容易导致同待校正的传感器之间的一致性存在偏差的技术问题。

技术实现思路

1、有鉴于此，本申请提供一种传感器偏差校正方法、装置、传感器及存储介质，用以解决待校正的传感器硬件存在的一致性偏差的技术问题。

2、本申请的第一方面提供一种传感器偏差校正方法，所述方法包括：

3、根据两次标定环境中参考传感器的参考值及对应的目标传感器的测量值，得到传感器趋势校正系数；

4、根据所述两次标定环境中任意一个标定环境中所述参考传感器的参考值及对应的所述目标传感器的测量值，得到y轴偏差值；

5、获取所述目标传感器的实时测量值；

6、根据所述传感器趋势校正系数、所述y轴偏差值及所述y轴偏差值对应的所述参考值，对所述实时测量值进行校正，得到目标校正值。

7、在一个可选的实施方式中，所述根据两次标定环境中参考传感器的参考值和目标传感器的测量值，得到传感器趋势校正系数包括：

8、根据第一标定环境中所述参考传感器的第一参考值及第二标定环境中所述参考传感器的第二参考值，得到参考差值；

9、根据所述第一标定环境中所述目标传感器的第一测量值及所述第二标定环境中所述目标传感器的第二测量值，得到测量差值；

10、根据所述参考差值及所述测量差值，得到所述传感器趋势校正系数。

11、在一个可选的实施方式中，所述根据所述参考差值及所述测量差值，得到所述传感器趋势校正系数包括：

12、计算所述参考差值与所述测量差值的比值，将所述比值确定为所述传感器趋势校正系数。

13、在一个可选的实施方式中，所述根据所述两次标定环境中任意一个标定环境中所述参考传感器的参考值及对应的所述目标传感器的测量值，得到y轴偏差值包括：

14、计算所述第一标定环境对应的所述第一测量值与所述第一参考值之间的第一差值，得到所述y轴偏差值；或

15、计算所述第二标定环境对应的所述第二测量值与所述第二参考值之间的第二差值，得到所述y轴偏差值。

16、在一个可选的实施方式中，所述根据所述传感器趋势校正系数、所述y轴偏差值及所述y轴偏差值对应的所述参考值，对所述实时测量值进行校正，得到目标校正值包括：

17、根据所述y轴偏差值及所述y轴偏差值对应的所述参考值，计算得到第一子校正值；

18、根据所述第一子校正值及所述实时测量值，计算得到第二子校正值；

19、根据所述第二子校正值及所述传感器趋势校正系数，计算得到第三子校正值；

20、根据所述第三子校正值及所述y轴偏差值对应的所述参考值，计算得到所述目标校正值。

21、在一个可选的实施方式中，所述方法还包括：

22、获取所述目标传感器在多个不同采集时间的第一校正值，并根据所述多个不同采集时间的第一校正值生成第一拟合曲线；

23、获取所述参考传感器在所述多个不同采集时间的参考值，并根据所述多个不同采集时间的参考值生成第二拟合曲线；

24、根据所述第一拟合曲线及所述第二拟合曲线，生成所述目标传感器的校正结果。

25、在一个可选的实施方式中，所述根据所述第一拟合曲线及所述第二拟合曲线，生成所述目标传感器的校正结果包括：

26、判断所述第一拟合曲线与所述第二拟合曲线的变化趋势是否一致；

27、当所述第一拟合曲线与所述第二拟合曲线的变化趋势一致时，生成所述目标传感器校正成功的校正结果；

28、当所述第一拟合曲线与所述第二拟合曲线的变化趋势不一致时，生成所述目标传感器校正失败的校正结果。

29、本申请的第二方面提供一种传感器偏差校正装置，所述装置包括：第一计算模块，用于根据两次标定环境中参考传感器的参考值及对应的目标传感器的测量值，得到传感器趋势校正系数；

30、第二计算模块，用于根据所述两次标定环境中任意一个标定环境中所述参考传感器的参考值及对应的所述目标传感器的测量值，得到y轴偏差值；

31、测量获取模块，用于获取所述目标传感器的实时测量值；

32、偏差校正模块，用于根据所述传感器趋势校正系数、所述y轴偏差值及所述y轴偏差值对应的所述参考值，对所述实时测量值进行校正，得到目标校正值。

33、本申请的第三方面提供一种传感器，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现所述的传感器偏差校正方法的步骤。

34、本申请的第四方面提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被执行时实现所述的传感器偏差校正方法的步骤。

35、本申请通过根据两次标定环境中参考传感器的参考值及对应的目标传感器的测量值，得到传感器趋势校正系数，根据所述两次标定环境中任意一个标定环境中所述参考传感器的参考值及对应的所述目标传感器的测量值，得到y轴偏差值，获取所述目标传感器的实时测量值，根据所述传感器趋势校正系数、所述y轴偏差值及所述y轴偏差值对应的所述参考值，对所述实时测量值进行校正，得到目标校正值。本申请能够解决待校正的传感器硬件存在的一致性偏差问题。

技术特征：

1.一种传感器偏差校正方法，其特征在于，所述方法包括：

2.根据权利要求1所述的传感器偏差校正方法，其特征在于，所述根据两次标定环境中参考传感器的参考值和目标传感器的测量值，得到传感器趋势校正系数包括：

3.根据权利要求2所述的传感器偏差校正方法，其特征在于，所述根据所述参考差值及所述测量差值，得到所述传感器趋势校正系数包括：

4.根据权利要求2所述的传感器偏差校正方法，其特征在于，所述根据所述两次标定环境中任意一个标定环境中所述参考传感器的参考值及对应的所述目标传感器的测量值，得到y轴偏差值包括：

5.根据权利要求4所述的传感器偏差校正方法，其特征在于，所述根据所述传感器趋势校正系数、所述y轴偏差值及所述y轴偏差值对应的所述参考值，对所述实时测量值进行校正，得到目标校正值包括：

6.根据权利要求4所述的传感器偏差校正方法，其特征在于，所述方法还包括：

7.根据权利要求6所述的传感器偏差校正方法，所述根据所述第一拟合曲线及所述第二拟合曲线，生成所述目标传感器的校正结果包括：

8.一种传感器偏差校正装置，其特征在于，所述装置包括：

9.一种传感器，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至7中任意一项所述的传感器偏差校正方法的步骤。

10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至7中任意一项所述的传感器偏差校正方法的步骤。

技术总结
本申请涉及互联网技术领域，提供了一种传感器偏差校正方法、装置、传感器及存储介质。本申请通过根据两次标定环境中参考传感器的参考值及对应的目标传感器的测量值，得到传感器趋势校正系数，根据所述两次标定环境中任意一个标定环境中所述参考传感器的参考值及对应的所述目标传感器的测量值，得到Y轴偏差值，获取所述目标传感器的实时测量值，根据所述传感器趋势校正系数、所述Y轴偏差值及所述Y轴偏差值对应的所述参考值，对所述实时测量值进行校正，得到目标校正值。本申请能够解决待校正的传感器硬件存在的一致性偏差问题。

技术研发人员：戴兵,李向文
受保护的技术使用者：深圳市森威尔科技开发股份有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/4/17