一种近场测量方法、装置、终端及可读存储介质

本申请属于电磁场测量领域，尤其涉及一种近场测量方法、装置、终端及可读存储介质。

背景技术：

1、现如今，通信技术正在飞速发展，天线的口径和频率都在不断增加。在测量天线近场数据的时候，若要保证测量数据的准确度，则需要基于增加的口径和频率对应增加采样点的数量。但是，在采样点数量增加的同时，采样时间随之增加，意味着测量时间增加，测量速度降低。因此，目前急需一种能够提高测量速度的近场测量方法。

技术实现思路

1、本申请实施例提供了一种近场测量方法、装置、终端及可读存储介质，以解决现有技术中测量速度低的问题。

2、本申请实施例的第一方面提供了一种近场测量方法，包括：

3、在目标天线的近场区域范围内选取采样平面，得到多个待划分采样平面；

4、基于不同点位的电场值，对每一所述待划分采样平面进行区块划分，得到采样点数达到预设点数要求的目标采样平面；

5、对所述目标采样平面进行点位的电场插值处理，得到插值电场数据；

6、基于多个所述目标采样平面的所述插值电场数据，计算得到所述目标天线的所述近场区域范围内的电场相位分布数据。

7、本申请实施例的第二方面提供了一种近场测量装置，包括：

8、选取模块，用于在目标天线的近场区域范围内选取采样平面，得到多个待划分采样平面；

9、区块划分模块，用于基于不同点位的电场值，对每一所述待划分采样平面进行区块划分，得到采样点数达到预设点数要求的目标采样平面；

10、插值模块，用于对所述目标采样平面进行点位的电场插值处理，得到插值电场数据；

11、计算模块，用于基于多个所述目标采样平面的所述插值电场数据，计算得到所述目标天线的所述近场区域范围内的电场相位分布数据。

12、本申请实施例的第三方面提供了一种终端，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如第一方面所述方法的步骤。

13、本申请实施例的第四方面提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如第一方面所述方法的步骤。

14、本申请的第五方面提供了一种计算机程序产品，当所述计算机程序产品在终端上运行时，使得所述终端执行上述第一方面所述方法的步骤。

15、由上可见，本申请在目标天线的近场区域范围内选取采样平面，得到多个待划分采样平面，基于不同点位的电场值，对多个待划分采样平面分别进行区块划分，在区块划分之后，若采样点数达到预设点数要求，则得到目标采样平面。对目标采样平面进行点位的电场插值处理，得到插值电场数据，然后基于多个目标采样平面的插值电场数据来计算目标天线的近场区域范围内的电场相位分布数据。本申请给定了预设点数要求，即限制了采样点数量，能够减少采样时间，提高测量速度。同时，本申请不是随意进行采样点的选取，而是结合不同点位的电场值，通过对待划分采样平面进行区块划分，来确定可采样点位，得到更有价值的采样点位，以提高数据准确度，避免无意义测量。

技术特征：

1.一种近场测量方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于不同点位的电场值，对每一所述待划分采样平面进行区块划分，得到采样点数达到预设点数要求的目标采样平面，包括：

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述对每一所述待划分采样平面进行区块划分，得到包含多个待选子区块的初始采样平面，包括：

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述计算所述初始采样平面中各个所述待选子区块的待选子区块电场变化值，包括：

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述基于各个所述待选子区块中包含的所述被插值点和初始采样点间的电场差值进行求和，计算得到每一所述待选子区块对应的待选子区块电场变化总量，包括：

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于多个所述目标采样平面的所述插值电场数据，计算得到所述目标天线的所述近场区域范围内的电场相位分布数据，包括：

7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于多个所述目标采样平面的所述插值电场数据，计算得到所述目标天线的所述近场区域范围内的电场相位分布数据之后，还包括：

8.一种近场测量装置，其特征在于，包括：

9.一种终端，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至7任一项所述方法的步骤。

10.一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至7任一项所述方法的步骤。

技术总结
本申请适用于电磁场测量领域，提供一种近场测量方法、装置、终端及可读存储介质，其中方法包括：在目标天线的近场区域范围内选取采样平面，得到多个待划分采样平面；基于不同点位的电场值，对每一所述待划分采样平面进行区块划分，得到采样点数达到预设点数要求的目标采样平面；对所述目标采样平面进行点位的电场插值处理，得到插值电场数据；基于多个所述目标采样平面的所述插值电场数据，计算得到所述目标天线的所述近场区域范围内的电场相位分布数据。该方案能够提高近场测量速度。

技术研发人员：徐晨,张书瀚,秦一峰,李飞鹏,冯纪强,钟勤
受保护的技术使用者：深圳大学
技术研发日：
技术公布日：2024/3/11