本发明涉及芯片测试,具体地,涉及一种快速测试光电探测器芯片的装置。
背景技术:
1、光电探测器芯片是一种集成电路芯片,其主要功能是将光信号转换为电信号。这种转换基于光电效应,即当光照射到物质上时,光子能量转换为电子的动能,从而产生电流。光电探测器芯片广泛应用于光通信、生物医疗、环境监测等领域,在光通信行业激光器的生产测试环节中,coc老化制程前,还需要进行单个激光器芯片(laser diode,ld)的光电性能测试,以便在老化前进行一次激光器芯片(ld)性能的筛选,将性能有问题的激光器提前挑选出来,从而提高coc老化后的整体良率。
2、在授权专利号为:cn114660442b,专利名称为:用于芯片的多探针测试装置的专利中,提出了在长时间的测试过程中,如果压力变化过大,会导致无法区分测试结果的变化是由于芯片还是机台带来的,导致测试结果失去可比较性,因此,探针与芯片之间作用力的稳定性,对测试数据的精度至关重要,而其通过在光电探测器的收光面和测试台之间设置棱镜加强收光效果,空余出更多安装探针的空间,保证探针测试过程中的精度,同时在安装探针过程中利用弹簧片与探针之间形成三角支撑结构,保证探针探测过程中的稳定性和一致性,但是在进行测试过程中芯片在进行测试过程中发出的光源是以自身为圆心呈散射状态,单单设置棱镜的情况下,光源穿过棱镜后会发生折射现象,虽然部分光源会集中传输到光电探测器中,但是剩余光源在经过棱镜折射到其他位置,导致光电探测器接收到的检测光强度较低,检测时间会有所延长,为此,提出一种快速测试光电探测器芯片的装置。
技术实现思路
1、本发明的目的在于提供一种快速测试光电探测器芯片的装置,以解决上述背景技术中提出的问题。
2、为实现上述目的,本发明提供如下技术方案:一种快速测试光电探测器芯片的装置,包括支撑座,所述支撑座的内部安装有两个传动辊,所述支撑座的外部安装有驱动电机,所述驱动电机的输出轴贯穿支撑座的外壁且与其中一个传动辊的一端固定连接,所述传动辊的外部传动连接有传送带,所述传送带的外部开设有通槽,所述通槽的外部开设有安装槽,所述支撑座的内部安装有顶出结构,所述支撑座上安装有固定架,所述固定架的外部安装有安装座,所述安装座的一侧安装有光电探测器,所述安装座远离光电探测器的一侧安装有收光组件,所述固定架的外部安装有环形探测结构;
3、顶出结构用于将放置于安装槽内部的待测试芯片推动至与收光组件相平行的位置,并通过收光组件对待测试芯片进行散射光采集处理;
4、环形探测结构用于呈环形接触待测试芯片的引脚。
5、优选的,所述收光组件包括导光筒,所述导光筒安装于所述安装座远离光电探测器的一端,所述收光组件靠近光电探测器的一端贯穿安装座的外壁,所述导光筒的进光口位置处安装有抛物面凹面镜,所述导光筒的出光口位置处安装有凸透镜。
6、优选的,所述导光筒呈圆锥筒状。
7、优选的,所述呈圆锥筒状导光筒的出光口位置处一体成型有光纤柱。
8、优选的,所述光纤柱呈圆锥状,所述呈圆锥状光纤柱的顶点位置处与光电探测器的进光口相接触。
9、优选的,顶出结构包括微型电动推杆,所述微型电动推杆安装于支撑座的内部,所述微型电动推杆的输出轴安装有顶板,所述顶板的外部直径小于所述通槽的内部槽宽。
10、优选的,所述支撑座的内部安装有微型气泵,所述微型气泵的进气口连通有进气管,所述顶板内部呈中空,所述顶板的外部开设有多个进气孔,所述进气管远离微型气泵的一端与顶板相连通。
11、优选的,环形探测结构包括弧形安装架,所述弧形安装架的内部开设有t形滑槽,t形滑槽的内部滑动连接有滑块,所述滑块上固定连接有定位座,所述定位座的外部开设有滑槽,滑槽的内部滑动连接有探测片。
12、优选的,所述探测片的底部一体成形有凸起筋。
13、优选的,滑槽的内部和探测片的外壁均呈粗糙。
14、本发明的有益效果是:在本发明中,通过传送带和安装槽放置多个检测芯片,实现连续性检测,同时在检测过程中,通过导光筒进光口位置的抛物面凹面镜采集更多光源,并在采集更多光源时将光源通过导光筒和凸透镜进行聚焦,将光源聚焦后传输到光电探测器中,使得光电探测器接受更多检测芯片所散发的光源,提高对检测芯片的检索速度。
15、在本发明中,进行接触式检测时,用户可以根据待检测芯片与收光组件之间的距离,灵活调整探测片部件在定位座结构内部的位置,同时探测片部件设计为扁状,这一独特形状有效增大了与芯片及引脚之间的接触面积,从而确保稳定的连接。同时,探测片扁状部件具有一定的弹性,当与芯片接触时,能够根据受到的挤压力产生适度的形变,这不仅避免了芯片因过度挤压而损坏的风险,还增强了检测的可靠性。此外,探测片部件在形变后会产生回弹性,即使在接触芯片时发生形变,也能迅速恢复原始状态,持续保持与芯片和引脚的紧密贴合,进一步提升了检测过程中的稳定性。
1.一种快速测试光电探测器芯片的装置,包括支撑座(100),所述支撑座(100)的内部安装有两个传动辊(101),所述支撑座(100)的外部安装有驱动电机(103),所述驱动电机(103)的输出轴贯穿支撑座(100)的外壁且与其中一个传动辊(101)的一端固定连接,所述传动辊(101)的外部传动连接有传送带(102),其特征在于:所述传送带(102)的外部开设有通槽(104),所述通槽(104)的外部开设有安装槽(105),所述支撑座(100)的内部安装有顶出结构,所述支撑座(100)上安装有固定架(106),所述固定架(106)的外部安装有安装座(107),所述安装座(107)的一侧安装有光电探测器(108),所述安装座(107)远离光电探测器(108)的一侧安装有收光组件(109),所述固定架(106)的外部安装有环形探测结构;
2.根据权利要求1所述的一种快速测试光电探测器芯片的装置,其特征在于:所述收光组件(109)包括导光筒(200),所述导光筒(200)安装于所述安装座(107)远离光电探测器(108)的一端,所述收光组件(109)靠近光电探测器(108)的一端贯穿安装座(107)的外壁,所述导光筒(200)的进光口位置处安装有抛物面凹面镜(201),所述导光筒(200)的出光口位置处安装有凸透镜(202)。
3.根据权利要求1所述的一种快速测试光电探测器芯片的装置,其特征在于:所述导光筒(200)呈圆锥筒状。
4.根据权利要求1所述的一种快速测试光电探测器芯片的装置,其特征在于:所述呈圆锥筒状导光筒(200)的出光口位置处一体成型有光纤柱(300)。
5.根据权利要求1所述的一种快速测试光电探测器芯片的装置,其特征在于:所述光纤柱(300)呈圆锥状,所述呈圆锥状光纤柱(300)的顶点位置处与光电探测器(108)的进光口相接触。
6.根据权利要求1所述的一种快速测试光电探测器芯片的装置,其特征在于:顶出结构包括微型电动推杆(400),所述微型电动推杆(400)安装于支撑座(100)的内部,所述微型电动推杆(400)的输出轴安装有顶板(401),所述顶板(401)的外部直径小于所述通槽(104)的内部槽宽。
7.根据权利要求1所述的一种快速测试光电探测器芯片的装置,其特征在于:所述支撑座(100)的内部安装有微型气泵(500),所述微型气泵(500)的进气口连通有进气管(501),所述顶板(401)内部呈中空,所述顶板(401)的外部开设有多个进气孔(502),所述进气管(501)远离微型气泵(500)的一端与顶板(401)相连通。
8.根据权利要求1所述的一种快速测试光电探测器芯片的装置,其特征在于:环形探测结构包括弧形安装架(600),所述弧形安装架(600)的内部开设有t形滑槽,t形滑槽的内部滑动连接有滑块(603),所述滑块(603)上固定连接有定位座(601),所述定位座(601)的外部开设有滑槽,滑槽的内部滑动连接有探测片(602)。
9.根据权利要求8所述的一种快速测试光电探测器芯片的装置,其特征在于:所述探测片(602)的底部一体成形有凸起筋(700)。
10.根据权利要求9所述的一种快速测试光电探测器芯片的装置,其特征在于:滑槽的内部和探测片(602)的外壁均呈粗糙面。