具有误差检测的磁位置传感器系统、方法和设备与流程

文档序号:39919779发布日期:2024-11-08 20:11阅读:59来源:国知局
技术特征:

1.一种位置传感器设备,包括:

2.根据权利要求1所述的位置传感器设备,

3.根据权利要求1所述的位置传感器设备,

4.根据权利要求1所述的位置传感器设备,

5.根据权利要求1所述的位置传感器设备,

6.根据权利要求5所述的位置传感器设备,

7.根据权利要求1所述的位置传感器设备,

8.根据权利要求1所述的位置传感器设备,

9.根据权利要求1所述的位置传感器设备,其中,所述处理单元进一步被配置用于:

10.根据权利要求1所述的位置传感器设备,

11.根据权利要求1所述的位置传感器设备,

12.根据权利要求1所述的位置传感器设备,

13.一种磁位置传感器系统,包括:

14.根据权利要求13所述的磁位置传感器系统,

15.根据权利要求13所述的磁位置传感器系统,

16.一种用于确定位置传感器设备相对于磁源的位置的方法,所述方法包括以下步骤:

17.根据权利要求16所述的方法,

18.根据权利要求16所述的方法,

19.根据权利要求16所述的方法,

20.根据权利要求16所述的方法,

21.一种位置传感器设备,包括:


技术总结
本申请公开了具有误差检测的磁位置传感器系统、方法和设备。确定传感器设备相对于磁源的位置(θ1)的方法,包括:a)确定(601)第一传感器位置(X1)处的第一磁场分量(Bx1)和第二磁场分量(Bz1);b)确定(602)第二传感器位置(X2)处的第三磁场分量(Bx2)和第四磁场分量(Bz2);c)确定(603)第一分量和第三分量的第一差(ΔBx),并且确定第二分量和第四分量的第二差(ΔBz),并且基于第一差与第二差的比率确定第一角度(θ1);d)确定(604)第一分量和第三分量的第一和(∑Bx),并且确定第二分量和第四分量的第二和(∑Bz);e)基于第一和与第二和的比率确定(605)第二角度(θ2);f)比较(606)第一角度和第二角度(θ1、θ2)以检测误差。

技术研发人员:G·克洛斯,E·拉海伊,L·通贝兹
受保护的技术使用者:迈来芯电子科技有限公司
技术研发日:
技术公布日:2024/11/7
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