本发明涉及电子器件,具体涉及一种新型可组合式采样系统。
背景技术:
1、在电力电子技术领域中,对需要监控的电气节点进行采样来判断电路的电压、电流、频率等电气参数来判断电路运行状况是常用的技术手段,而对电气节点进行采样的一种常用手段是采用采样端子(垫片),为了使得这些采样节点便于维修或者更换,常采用热拔插式结构,伸出的公端子和母插槽进行配合,使得维修或者调试,将母插槽拔下即可进行。
2、现有的采样垫片或者端子,在需要进行单点位多重参数采样时,需要从同一连接件上引出多个采样头,这多个采样头在同一垫片上,可能由于垫片的采样接触面积固定,而所需采样的点数量可能增加,导致各采样点的电气数据相互影响,造成采样的失真,同时,采样点之间的位置关系为固定的,不能针对不同采样点的实际走线角度进行修改,造成采样线缆的大角度折弯造成虚接或者断线。
3、电池领域的不断发展,需要同时检测多种参数,催生了多端子采样垫片模式,但多垫片由于其接触的问题容易产生接触电弧致使温升较高,需要时刻检查温升情况,但现有的通过红外检测通常采用人工检测,很不方便。
技术实现思路
1、本发明提供一种新型可组合式采样系统,解决电池的节点多头采样的技术问题。
2、为解决上述技术问题,本发明所采用的技术方案是:
3、一种新型可组合式采样系统,包括底座定位片、顶部采样垫片和温度采样装置,定位插孔贯穿底座定位片、顶部采样垫片和温度采样装置的结合体,定位插孔用于螺钉并对底座定位片和顶部采样垫片进行固定,底座定位片和顶部采样垫片之间可拆卸式地定位组合,底座定位片和顶部采样垫片上设有用于采样的伸出式端子,底座定位片和顶部采样垫片均采用导电材质,温度采样装置与顶部采样垫片的顶端接触。
4、上述的温度采样装置包括圆柱温度采样体,圆柱温度采样体外层为绝缘材料,pt探头和pt第一电极伸出圆柱温度采样体下表面并与顶部采样垫片顶端接触,pt第二电极和输出插头伸出圆柱温度采样体侧壁。
5、上述的底座定位片和顶部采样垫片之间采用可均匀角度调节的定位结构。
6、上述的底座定位片包括圆柱底座体,定位插孔贯穿圆柱底座体中心,圆柱底座体的上端面外边缘设有均匀分布的底座定位槽,其中一个底座定位槽槽体中线与下方的底部采样端子中线对齐;
7、上述的圆柱底座体外表面设有均匀分布的且与底座定位槽相对应的定位刻度,其中一个定位刻度与底部采样端子中线重合。
8、上述的定位刻度下方设有角度标识,底部采样端子处的角度标识为零度。
9、上述的圆柱底座体底部中心设有内陷的容纳凹槽,容纳凹槽用于放置第一魔术贴和第二魔术贴,第二魔术贴顶面与容纳凹槽顶面粘接,第二魔术贴底面与采样处的紧固面粘接,第一魔术贴和第二魔术贴中心设有与连接孔匹配的通孔。
10、上述的顶部采样垫片包括圆柱顶部采样体,定位插孔贯穿圆柱顶部采样体中心,圆柱顶部采样体的下端面外边缘设有均匀分布且与底座定位槽外形相匹配的定位块,其中一个定位块中线与上方的顶部采样端子中线对齐。
11、上述的顶部采样端子下方的定位块中线处设有定位指示线。
12、上述的底座定位片和顶部采样垫片之间设有中间采样垫片,中间采样垫片上设有中间采样端子。
13、上述的中间采样垫片包括圆柱中间体,定位插孔贯穿圆柱中间体中心,圆柱中间体下端面外边缘设有均匀分布且与底座定位槽外形相匹配的中间体定位块,圆柱中间体上端面外边缘设有均匀分布且与定位块外形相匹配的中间体定位槽,中间采样端子位于中间体定位块和中间体定位槽之间,中间采样端子下方的中间体定位块中线处谁有刻度线。
14、上述的底座定位片和顶部采样垫片之间设有多个中间采样垫片。
15、本发明提供一种新型可组合式采样系统,通过将传统的采样薄垫片引出多个采样端子拆分成多个互相定位且可方便调节的组合形式,使得各采样端子之间的角度可以自行方便调节,且由于此种结构形式允许更大的电流经过,使得各采样端子之间的电气干扰更小,同时通过温度采样装置实现就地温度采样电源供应及温度传导,通过魔术贴结构使得采样垫片便于对准及拧紧时不易发生旋转。
1.一种新型可组合式采样系统,其特征在于,包括底座定位片(1)、顶部采样垫片(2)和温度采样装置(12),定位插孔(3)贯穿底座定位片(1)、顶部采样垫片(2)和温度采样装置(12)的结合体,定位插孔(3)用于螺钉(9)并对底座定位片(1)和顶部采样垫片(2)进行固定,底座定位片(1)和顶部采样垫片(2)之间可拆卸式地定位组合,底座定位片(1)和顶部采样垫片(2)上设有用于采样的伸出式端子,底座定位片(1)和顶部采样垫片(2)均采用导电材质,温度采样装置(12)与顶部采样垫片(2)的顶端接触。
2.根据权利要求1中所述的一种新型可组合式采样系统,其特征在于,所述的温度采样装置(12)包括圆柱温度采样体(121),圆柱温度采样体(121)外层为绝缘材料,pt探头(122)和pt第一电极(123)伸出圆柱温度采样体(121)下表面并与顶部采样垫片(2)顶端接触,pt第二电极(124)和输出插头(125)伸出圆柱温度采样体(121)侧壁。
3.根据权利要求2中所述的一种新型可组合式采样系统,其特征在于,所述的底座定位片(1)和顶部采样垫片(2)之间采用可均匀角度调节的定位结构。
4.根据权利要求3中所述的一种新型可组合式采样系统,其特征在于,所述的底座定位片(1)包括圆柱底座体(101),定位插孔(3)贯穿圆柱底座体(101)中心,圆柱底座体(101)的上端面外边缘设有均匀分布的底座定位槽(102),其中一个底座定位槽(102)槽体中线与下方的底部采样端子(4)中线对齐;
5.根据权利要求4中所述的一种新型可组合式采样系统,其特征在于,所述的圆柱底座体(101)底部中心设有内陷的容纳凹槽(105),容纳凹槽(105)用于放置第一魔术贴(10)和第二魔术贴(11),第二魔术贴(11)顶面与容纳凹槽(105)顶面粘接,第二魔术贴(11)底面与采样处的紧固面粘接,第一魔术贴(10)和第二魔术贴(11)中心设有与连接孔匹配的通孔。
6.根据权利要求5中所述的一种新型可组合式采样系统,其特征在于,所述的顶部采样垫片(2)包括圆柱顶部采样体(201),定位插孔(3)贯穿圆柱顶部采样体(201)中心,圆柱顶部采样体(201)的下端面外边缘设有均匀分布且与底座定位槽(102)外形相匹配的定位块(202),其中一个定位块(202)中线与上方的顶部采样端子(5)中线对齐。
7.根据权利要求6中所述的一种新型可组合式采样系统,其特征在于,所述的顶部采样端子(5)下方的定位块(202)中线处设有定位指示线(203)。
8.根据权利要求7中所述的一种新型可组合式采样系统,其特征在于,所述的底座定位片(1)和顶部采样垫片(2)之间设有中间采样垫片(6),中间采样垫片(6)上设有中间采样端子(7)。
9.根据权利要求8中所述的一种新型可组合式采样系统,其特征在于,所述的中间采样垫片(6)包括圆柱中间体(601),定位插孔(3)贯穿圆柱中间体(601)中心,圆柱中间体(601)下端面外边缘设有均匀分布且与底座定位槽(102)外形相匹配的中间体定位块(602),圆柱中间体(601)上端面外边缘设有均匀分布且与定位块(202)外形相匹配的中间体定位槽(603),中间采样端子(7)位于中间体定位块(602)和中间体定位槽(603)之间,中间采样端子(7)下方的中间体定位块(602)中线处谁有刻度线。
10.根据权利要求9中所述的一种新型可组合式采样系统,其特征在于,所述的底座定位片(1)和顶部采样垫片(2)之间设有多个中间采样垫片(6)。