所属的技术人员知道，本申请可以实现为系统、方法或计算机程序产品。因此，本公开可以具体实现为以下形式，即：可以是完全的硬件、也可以是完全的软件(包括固件、驻留软件、微代码等)，还可以是硬件和软件结合的形式，本文一般称为“电路”、“模块”或“系统”。此外，在一些实施例中，本申请还可以实现为在一个或多个计算机可读介质中的计算机程序产品的形式，该计算机可读介质中包含计算机可读的程序代码。可以采用一个或多个计算机可读的介质的任意组合。计算机可读介质可以是计算机可读信号介质或者计算机可读存储介质。计算机可读存储介质例如可以是一一但不限于——电、磁、光、电磁、红外线、或半导体的系统、装置或器件，或者任意以上的组合。计算机可读存储介质的更具体的例子(非穷举的列表)包括:具有一个或多个导线的电连接、便携式计算机磁盘、硬盘、随机存取存储器(ram),只读存储器(rom)、可擦式可编程只读存储器(eprom或闪存)、光纤、便携式紧凑磁盘只读存储器(cd-rom)、光存储器件、磁存储器件、或者上述的任意合适的组合。在本文件中，计算机可读存储介质可以是任何包含或存储程序的有形介质，该程序可以被指令执行系统、装置或者器件使用或者与其结合使用。尽管上面已经示出和描述了本申请的实施例，可以理解的是，上述实施例是示例性的，不能理解为对本申请的限制，本领域的普通技术人员在本申请的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型。在此基础上，可以对本申请进行多种替换和改进，这些均落入本申请的保护范围内。
背景技术：
1、随着现代科技发展，光感芯片的种类发展越来越多，目前光感芯片主要用于接收信号，将光信号转化为电信号。转化时是否准确转化，转化率多少都会影响芯片的质量；这就需要在芯片出货前要检测芯片的感光功能是否有效。
2、普通的nest是用来从分选机梭车上吸取芯片并把芯片往测试插座下压，把芯片管脚和测试插座的pin针接触用来测试电性能。所以普通的nest的主要功能有两个：1.吸取芯片。2.下压芯片。
3、在测试光电芯片时需要在芯片的上方提供光源来照射芯片的感光部分，用于测试芯片感光功能是否满足设计需求，但是测试时芯片的正上方是nest的plunge，正常的nestplunge无法提供光源。
技术实现思路
1、本申请提供了一种光感芯片测试装置，用以解决测试光感芯片时提供可控光源的问题。
2、本申请提供了一种光感芯片测试装置，包括：壳体，所述壳体上设置有吸附机构和光源槽，其中，
3、所述吸附机构，用于吸取待测试光感芯片；
4、所述光源槽，用于为所述待测试光感芯片提供照射光源。
5、在上述技术方案中，通过设置吸附机构和光源槽，所述吸附机构，用于吸取待测试光感芯片；所述光源槽，用于为所述待测试光感芯片提供照射光源；解决了测试光感芯片时提供可控光源的问题。
6、在一个具体可实施方案中，所述壳体内设置有原始光源，其中，
7、所述原始光源，用于产生所述照射光源。
8、在一个具体可实施方案中，所述吸附机构包括设置所述壳体上的吸附孔，其中，
9、所述吸附孔，用于吸附所述待测试光感芯片。
10、在一个具体可实施方案中，所述吸附孔的数量为多个。
11、在一个具体可实施方案中，各个所述吸附孔均匀布设于所述壳体的顶板。
12、在一个具体可实施方案中，所述光源槽设置于所述壳体的顶板。
13、在一个具体可实施方案中，还包括驱动机构，所述驱动机构与所述吸附机构连接，其中，
14、所述驱动机构，用于驱动所述吸附机构。
15、在一个具体可实施方案中，所述原始光源包括灯珠，所述灯珠与所述壳体固定连接。
16、在一个具体可实施方案中，所述壳体上设置有电源柱通孔，所述灯珠的电源柱与所述电源柱通孔穿装设置。
17、在一个具体可实施方案中，还包括socket测试插座，其中，
18、所述驱动机构驱动所述壳体使所述待测试光感芯片压接于所述socket测试插座，所述灯珠的电源柱穿过所述电源柱通孔与所述socket测试插座抵接。
1.一种光感芯片测试装置，其特征在于，包括：壳体，所述壳体上设置有吸附机构和光源槽，其中，
2.根据权利要求1所述的光感芯片测试装置，其特征在于，所述壳体内设置有原始光源，其中，
3.根据权利要求2所述的光感芯片测试装置，其特征在于，所述吸附机构包括设置所述壳体上的吸附孔，其中，
4.根据权利要求3所述的光感芯片测试装置，其特征在于，所述吸附孔的数量为多个。
5.根据权利要求4所述的光感芯片测试装置，其特征在于，各个所述吸附孔均匀布设于所述壳体的顶板。
6.根据权利要求5所述的光感芯片测试装置，其特征在于，所述光源槽设置于所述壳体的顶板。
7.根据权利要求6所述的光感芯片测试装置，其特征在于，还包括驱动机构，所述驱动机构与所述吸附机构连接，其中，
8.根据权利要求7所述的光感芯片测试装置，其特征在于，所述原始光源包括灯珠，所述灯珠与所述壳体固定连接。
9.根据权利要求8所述的光感芯片测试装置，其特征在于，所述壳体上设置有电源柱通孔，所述灯珠的电源柱与所述电源柱通孔穿装设置。
10.根据权利要求9所述的光感芯片测试装置，其特征在于，还包括socket测试插座，其中，