专利名称：足迹检测仪的制作方法
技术领域：
本发明公开了一种由平面镜-析光镜组成的几何光学成象系统，能够对足迹进行形象比较的检测仪器，适用于刑事技术检测工作中，可对被检的犯罪物证(足迹)与嫌疑足迹进行物象对比、对接及重叠检测，能迅速地发现被检测足迹之间的相同点或不同点，便于对形象特征的同一性认定。
在现有技术中，尚没有利用仪器检测足迹的方法，主要靠经验丰富的刑事技术人员进行肉眼观察比较，其缺点是不但认定率低，而且只有少数专家才能胜任。
本发明的目的是制造一种一般技术人员可以掌握的快速、准确、科学地检测足迹的仪器。
本发明的目的是通过以下方式实现的，即利用几何光学成象原理，由平面镜(7)(8)(10)和析光镜(11)组成的几何光学成象系统和由观察箱(1)、平板玻璃镜(3)、照相机支架(4)、滑板(14)、光源(16)、调光器(6)、固定载物台(18)、活动载物台(19)、隔板(29)、丝槓(22)(24)、红、绿色滤光片(15)(30)、光栅(28)、平面座标板(27)、归位板(26)所组成的足迹检测仪器，对足迹进行定量检测。
本发明与现有技术相比，具有以下优点(1)可将刑事检测技术中凭肉眼观察和凭经验对比、分析、判断足迹的工作，变为用仪器快速、准确地对足迹进行检测，使刑事检测技术定量化、科学化;
(2)过去由少数经验丰富的专家可以胜任的工作，变为一般技术人员稍加培训、即可掌握;
(3)仪器的体积小、结构紧凑，维修、使用方便。
附图
一是本发明的结构示意图。
附图二是本发明的工作原理图。
以下结合附图对仪器的结构、工作原理、工作过程作进一步描述。
一、结构描述本发明的足迹检测仪由三个部份和三个附件组成1.观察箱为金属(非金属材料)制成的方形箱体(1)，横置于反射箱(5)顶板上，箱体的一端封闭，位于操作面一侧的另一端、安装圆形观察窗(2)、窗后以30°～60°夹角安装平板玻璃镜(3)，观察箱(1)用铰链固定在反射箱(5)的顶板上，可以掀起，并与反射箱连通，在观察箱箱体侧壁内面装有固定照像机的角形支架(4)。
2.反射箱(5)为金属(非金属)材料制成的方形箱体，在箱体内安装平面镜(7)(8)(10)和析光镜(11)，平面镜(7)(8)(10)是一种采用真空镀膜，膜层进行氧化的外反平面反射镜，析光镜(11)是在平整的玻璃板上采用真空镀铬膜的方法来达到光线在析光镜上既能反射光线又能透射光线，具有半反射、半透射光线的性质。平面镜(7)(8)互相平行，平面镜(10)和析光镜(11)互相平行，两组镜面均与反射箱底呈30°～60°夹角，箱体顶板上开有一个孔(9)与观察箱(1)连通，底板(31)上开两个孔(32)(13)与箱中的平面镜(7)(8)(10)对应，在孔(32)下装红色滤光片(30)，在孔(13)下装绿色滤光片(15)，在红、绿色滤光片上面，装有滑板(14)，滑板(14)为金属(非金属)材料制作的和孔(32)(13)对应的遮蔽板，中间开一方形孔，前后两边有析边，放在两个横向滑轨上可左右滑动，移动滑板手柄(12)，可使孔(13)遮蔽或使孔(13)打开、孔(32)遮蔽，或者使孔(13)(32)同时打开，当滑板遮蔽孔(32)、打开孔(13)时，缓慢移动滑板手柄(12)，可以进行两个足迹的对接，而始终保持两个足迹为一个完整的足迹。
三、检测箱(17)用金属(非金属)材料制成，内装光源(16)，在箱底板上放置固定载物台(18)和活动载物台(19)，两个载物台的结构在一块左右端带折边的槽形板(33)上开有三个旋柄丝槓孔，分别用三个旋柄丝槓(21)支撑着一个平板(20)，平板上刻有纵横刻度线，足迹模型就放在此板上，归位板(26)是一个金属(非金属)制作的长方形板，上开三个定位孔，触头(39)放在此孔中，可以上下活动的尖端朝下，对准足迹模型，归位板(26)放置在槽形板(33)的前后折边上，用以调整两个足迹模型的竖向可比性，活动载物台(19)的槽形板(33)置于垂直固定在小平板车(35)平板上的轴上，小平板车(35)装有四个横向滚动的滚轮(36)调节旋柄丝槓(22)，可使槽形板(33)左右移动，小平板车(35)放置在另一个小平板车(37)上，其平板上装有四个可前后滚动的滚轮(38)，调节旋柄丝槓(24)可使槽形板前后移动，旋动手柄(23)(25)，可使活动载物台(19)左右前后移动，以调整两个足迹模型的纵横向可比性。两个载物台之间由隔板(29)将箱内空间隔开，箱底的外面装有四个万向轮(34)。
另外还配备三个不同用途的附件光栅(28)、平面座标板(27)、归位板(26)。
二、工作原理根据几何光学的基本原理，利用平面镜成像性质，由三个平面镜和一个析光镜构成物像比较光学系统、其原理如附图二所示，P1、P2、P3为平面镜，P4为析光镜，AB和A′B′分别代表二个足迹，由于平面镜成象性质，(1)能使整个空间理想成象，物点和像点对平面镜对称;(2)经过平面镜成像、和实物完全相同(大小相等、形状相同)。
图二中实物AB的反射光、经过平面镜P1P2反射到析光镜P4上，如果两个实物完全相同，则AB与A′B′的虚像会完全重合，即
，反之，两个实物的虚像不完全重合，则说明两个实物不相同，利用这一原理，就可以对两个被检测的足迹进行同一性认定。
三、工作过程1.将犯罪足迹和嫌疑足迹分别制作成石膏模型，并刻有纵横座标线，将犯罪足迹模型放在固定载物台(18)上;将嫌疑足迹模型放在活动载物台(19)上，模型座标线和载物台上的座标线对正后将归位板(26)放在槽形板(33)的前后折边上，安装在归位板上的三个带活动尖端的触头(39)处于足迹模型和归位板之间，上下调整槽形板(33)下面的三个旋柄丝槓，待三个触头的尖端同时与足迹模型接触，而触头(39)的平面端同时与归位板(26)上面的螺母顶面找平，即达到两个足迹模型在竖向上具有可比性。
2.打开光源(16)，并用调光器(6)调整到合适的亮度，这时固定载物台(18)犯罪足迹模型通过孔(32)反射到析光镜(11)上，活动载物台(19)上的嫌疑足迹模型通过孔(13)反射到析光镜(11)上，通过旋柄丝槓(22)(24)，可在前、后、左、右方向上移动活动载物台，使嫌疑足迹尽量与犯罪足迹模型重叠，这时，可以通过观察窗(2)看到两个足迹模型的重叠情况并拍射照片。
3.滑板(14)在正常位置时孔(32)被遮蔽，孔(13)不被遮蔽，滑板向一侧移动时孔(32)(13)都不被遮蔽，当滑板往回移动时，孔(32)和孔(13)不被遮蔽的部份，对接成一个完整的足迹图像，通过观察窗(2)观察到两个足迹模型的对接情况并拍射照片。
4.在活动载物台(19)上改放平面座标尺板(27)，可以通过观察孔(9)拍摄固定载物台(18)上足迹模型的平面座标尺寸的照片，也可在固定载物台(18)上改放平面座标尺寸板(27)，通过观察孔(9)拍摄活动载物台(19)上的足迹模型的平面座标尺寸的照片;
5.如果将光栅(28)放在足迹模型的上面，可以拍摄足迹模型的等高线图形照片;
6.拍摄照片时，将观察箱(1)沿铰链运动的方向打开，并将安装在反射箱(5)顶部的照像机支架(4)掀起，将照像机固定，并将镜头对准反射箱顶板上的孔(9)折射照片;
7.将拍摄的照片进行对比分析、以认定犯罪足迹与嫌疑足迹是否相同，从而对罪证的认定做出科学的结论。
权利要求
1.足迹检测仪，适用于刑事技术检测中对犯罪足迹和嫌疑足迹进行光学成像比较、分析、判断，本发明的特征是该仪器由观察箱(1)、反射箱(5)、检测箱(17)以及三个附件(光栅、平面座标板、归位板)所构成。
2.根据权利要求1的足迹检测仪器，其特征是在反射箱(5)中平面镜(7)(8)互相平行，平面镜(10)和析光镜(11)互相平行，两组镜面。分别与反射箱底呈30°～60°夹角。
3.根据权利要求1的足迹检测仪器，其特征是在反射箱(5)的底板上开有两个孔(13)(32)，分别装有红、绿色滤光片，其下安装中间开孔的滑板(14)，该滑板前后两边有折边，放在两个供滑板左右滑动的横向滑轨上。
4.根据权利要求1的足迹检测仪器，其特征是检测箱(17)的底板上装有两个载物台(18)(19)，该载物台分别为左右两端带折边的槽形板(33)上开有三个穿过旋柄丝槓的孔，利用三个旋柄丝槓支撑一个带有纵横刻度线的平板(20)，归位板(26)放置在槽形板(33)的前后折边上。
5.根据权利要求1的足迹检测仪器，其特征是在检测箱(17)中的活动载物台(19)的前端和一侧安装有调整活动载物台平面位置的旋柄丝槓(22)(24)。
6.根据权利要求5的足迹检测仪器，其特征是活动载物台(19)的槽形板(33)置于垂直固定在小平板车(35)平板上的轴上，小平板车(35)共有四个可横向滚动的滚轮(36)。
7.根据权利要求6的足迹检测仪器，其特征是小平板车(35)放置在另一个小平板车(37)上，在平板上装有四个可前后滚动的滚轮(38)。
8.根据权利要求7的足迹检测仪，其特征是安装在小平板车(35)(37)上的滚轮(36)(38)用角形金属(非金属)带与旋柄丝槓(22)(24)联系。
9.根据权利要求1、2、3、4、5、6、7、8的足迹检测仪器，其特征是由金属和非金属材料制成。
全文摘要
一种由平面镜—析光镜组成的几何光学成象系统和机械部分组成的能够对足迹进行形象比较的检测仪器，适用于刑事技术检测，在现有足迹检测技术中，凭经验分析、判断，只有少数经验丰富的专家才能胜任，费时、费力，认定率低，本发明是在金属(非金属)材料制成的箱体中，安装平面镜(7)(8)(10)及析光镜(11)组成的几何光学成象系统和其他机械部分所构成的检测仪器，一般技术人员稍加熟悉即可掌握，可快速、准确地为足迹检测提供科学依据。
文档编号G01B11/24GK1030976SQ8810483
公开日1989年2月8日 申请日期1988年8月10日 优先权日1988年8月10日
发明者苏尔古冷, 付王良, 马成龙, 袁子强, 高庆寿, 戚凯 申请人:航空航天工业部第四规划设计研究院