专利名称：多值标准环规的制作方法
技术领域：
本实用新型属于一种内尺寸测量标准环规的改进。
目前，国内外生产和使用的标准环规，是用金属制成的，且都作成环形(附
图1)。内孔经过研磨，尺寸φ经过精密检测后给出实测值，做为标准尺寸。它作为测长机、测长仪、卧式光学计等长度计量仪器内尺寸测量的标准器。标准环规的使用方法如下如附图2所示，仪器的固定测钩(1)与标准环规(2)内径φ的一端接触，活动测钩(3)与尺寸φ的另一端接触，这时在仪器标尺(4)上可读得读数x1。然后取下标准环规，换上被测工件(5)，调节活动测钩(3)，便可读得第二次读数x2，则被测工件(5)内尺寸D为D＝φ＋a＝φ＋(x2－x1)在上述测量中，因为尺寸φ起标准值作用，所以，环规(2)称为标准环规。而这种标准环规存在着下列缺点1.一个环规只有一个φ值，即为单值的，从提高测量精度的观点要求看，φ值应尽可能与被测尺寸相等或相近，即a值趋近于零。这样就需要有一组多个不同φ值的标准环规。
2.而多个不同φ值的标准环规就造成体积大、重量大，所用材料多，成本高。
3.制作困难，尤其是大尺寸的标准环规，加工要用大型的内园磨床，还需要有多种尺寸的研磨棒，使用也不方便。
4.大尺寸φ值的检测困难。高精度的孔径测量仪一般测量范围只能到150mm，虽然西德200型“象点仪”的测量范围可达200mm，但因工作台面积的限制，也只能测量φ150mm的环规。所以，现在市场上供应的标准环规一般到φ100mm，最大也只能达到φ150mm左右。
5.易于受温度影响，变形复杂，不利于用计算法修正。
本实用新型的目的是提供一种新型的测量用多值标准环规，以克服现有标准环规的缺点。
本实用新型的特征是在一块基体(金属或玻璃)上，制作有一组特定的孔系(附图3)，这些内孔的轴心线彼此平行，孔系中每两个孔的孔壁反向对应点之间的距离经过精密检测，成为实测的标准尺寸，一组特定的孔系就组成了多个标准尺寸，从而构成了多值标准环规。它的使用方法与现有标准环规基本相同(附图4)。标准尺寸φ1是由孔系中两孔之间的反向对应点A、B间的距离确定的。附图3是由三个孔组成的最简单的一种多值标准环规，它可组成三种标准尺寸，即φ1、φ2和φ3。若在基体上作四个孔，则可组成六种标准尺寸。依此类推，在由几个孔组成的标准环规可组成C2n个标准尺寸。孔系的配置规律除满足多值外，还应能使仪器的测钩进入孔中，且能不受干扰地与孔壁接触，这样就要求孔系中的每个孔径都要大于测钩尺寸c；孔壁与基体边缘的距离小于测钩内距b。多值标准环规除作成条状(附图3)之外，还可作成块状，如附图5所示。
本实用新型设计的多值标准环规具有以下优点1.一个环规有多个标准尺寸，可避免购置多个单值标准环规。
2.体积小，重量轻，节约材料，成本低。
3.易于制作，特别是对大尺寸的环规，既不需要大型内园磨床，也不需要多种研磨棒。
4.可以达到很高的检测精度。对于大尺寸的φ值，还可以用分段法测定，这样就可以制造大尺寸的标准环规。
5.受温度影响的变形简单，易于用计算法修正。
附图1是现有标准环规的剖面图；附图2是现有标准环规的使用方法图；附图3是条状多值标准环规腑视图；附图4是多值标准环规的使用方法图；附图5是块状多值标准环规腑视图。
图中1固定测钩，2标准环规，3活动测钩，4标尺，5被测工件。
权利要求1.一种用于内孔径测量的标准环规，是由基体及其上的孔组成，本实用新型的特征在于在一块基体上有一组特定的孔系，孔系中每两个孔的孔壁反向对应点之间的距离经过精密检测，成为实测标准尺寸，一组特定的孔系组成了多个标准尺寸，从而使其构成了多值标准环规。
2.根据权利要求1所述的标准环规，其特征在于基体可以是条状或是块状。
专利摘要一种用于内尺寸测量的多值标准环规，它是在一块基体(金属或玻璃)上，有一组特定的孔系，孔系中每两个孔的孔壁反向对应点之间的距离为实测的标准尺寸，从而一组孔系组成多个标准尺寸。多值标准环规可作为测长机、测长仪、卧式光学计等长度计量仪器内尺寸测量的标准器，与现有标准环规比较，具有多值、体积小，重量轻，制作容易、精度高、Φ值大等优点。
文档编号G01B3/34GK2087768SQ9022567
公开日1991年10月30日 申请日期1990年12月4日 优先权日1990年12月4日
发明者刘亚南 申请人:中国科学院西安光学精密机械研究所