专利名称:密封继电器气氛分析取样器的制作方法
本装置是用来在真空中刺穿密封继电器的密封罩，提取罩内气体，并将其送入质谱计进行气体成份分析的气体取样器，是继电器行业中进行密封继电器可靠性研究必不可少的装置。
利用质谱分析技术进行密封继电器可靠性研究，在第十五届继电器年会文集中(15th Annual National Relay Conference，1967，P.1／1－8，P.16／1－14)已有报导，但并未给出气体取样器的实际结构，并且不能对待分析密封继电器在同时加温、加负载动作后立即提取内部气体，也即提取的并不是密封继电器工作状态下的真实气氛，因此降低了分析的准确度。
本实用新型的目的是要提供一种改进的气体取样器，结构简单，能对待分析密封继电器在同时加温、加负载动作后立即刺穿密封继电器的密封罩并提取出气体。
本实用新型是这样实现的将待分析的密封继电器放入取样器后，固紧取样器的法兰盖板，启动真空泵抽气，在半小时内即可达到优于(2～3)×10－3帕的真空，然后旋动取样器上的加压螺钉，即可使处于真空中的针锥垂直下压，刺穿密封继电器的密封罩，使其中气体逸出到取样器中，达到提取密封继电器罩内气氛的目的。本装置利用金属波纹管在保证良好的真空密封同时，可以方便简单地使处于真空中针锥下压和穿刺。取样器全部用金属制成，但在法兰盖板上装有多根与盖板绝缘并密封良好的电极引线，通过引线可对置于取样器中的待分析密封继电器加负载和驱动电压，使其动作。本装置有附于取样器外壳上的加热套，对取样器连同置于其中的待分析继电器加温到室温至150℃的任一温度，以模拟继电器实际使用的环境。所以本装置可使待分析继电器在予定的温度环境中，以予定的负载动作予定的次数后，立即穿刺，取出气体进行分析。由于取得的是继电器实际工作状态下的气氛，所以分析的准确度大为提高。
本装置的具体结构如附图所示。在园管状的金属开管腔〔13〕的一端焊有法兰〔17〕，待分析密封继电器〔14〕可由此法兰〔17〕口放入金属开管腔〔13〕中，并由定位片〔10〕和继电器支托〔11〕将待分析密封继电器〔14〕定位。法兰盖板〔18〕与法兰〔17〕间垫有金属密封圈〔16〕，并用多只螺钉〔19〕固紧密封。在法兰盖板〔18〕的中央，有多根用玻璃绝缘并密封良好的电极引线〔20〕通过引线连接簧片〔15〕与待分析密封继电器〔14〕的引线相连，以便从取样器外面给待分析密封继电器〔14〕加驱动电压及负载，使其动作。在金属开管腔〔13〕的另一端焊有金属——玻璃过渡管〔12〕，以便把取样器连接到玻璃真空泵组上。在金属开管腔〔13〕的上方焊有过渡接头〔7〕，在过渡接头〔7〕的上端焊有金属波纹管〔6〕，而波纹管的上端又焊在锥座〔4〕上。这样由锥座〔4〕、波纹管〔6〕、过渡接头〔7〕、金属开管腔〔13〕、法兰〔17〕、法兰盖板〔18〕、金属——玻璃过渡管〔12〕等组成一个密封腔，通过真空泵组对其抽气，很快便可达到要求的真空。在锥座〔4〕的中心装有下端磨尖的针锥〔8〕。过渡接头〔7〕与锥座〔4〕之间还装有三根螺杆〔3〕，螺杆〔3〕的下端用螺帽固紧于过渡接头〔7〕凸缘上，且各呈间隔120°安置。锥座〔4〕则在螺杆〔3〕上可以滑动。当限位用螺母〔5〕旋松后，锥座〔4〕在加压螺钉〔1〕旋动顶压及螺杆〔3〕的导向作用下，便平行下移，因而带动位于密封腔中的针锥〔8〕垂直下移，将置于金属开管腔〔13〕中密封继电器〔14〕的外罩刺穿，使其中气体逸出到取样器的密封腔中，达到气体取样的目的。加热套〔9〕套在金属开管腔〔13〕的外侧，调节加于加热套〔9〕上的电压，即可控制加热温度。加压螺钉支座〔2〕也由螺母连到螺杆〔3〕上，在加压螺钉〔1〕旋动时，螺钉支座〔2〕不能上移，所以加压螺钉〔1〕便能对锥座〔4〕产生较大的顶压力，使针锥〔8〕有足够的力刺穿密封继电器〔14〕的外罩。
本装置结构简单、紧凑、真空密封性好，能在同时加温、加负载动作后立即穿刺密封继电器〔14〕的外罩，提取出罩内真实气氛，提高了分析准确度。此外本装置还具有更换密封继电器〔14〕样品迅速和操作方便的优点。
本装置的各部件可用不锈钢制作，但针锥〔8〕用较硬的中碳钢，并对其尖端作淬火处理。金属——玻璃过渡管〔12〕用可伐合金管。法兰盖板〔18〕可用黄铜镀镍，以便于封接绝缘的密封电极引线〔20〕。金属密封圈〔16〕用易于变形的铅锡合金丝制成。
权利要求
1.一种密封继电器气氛分析取样器，它由金属开管腔[13]、法兰[17]、法兰盖板[18]、过渡接头[7]、穿剌用针锥[8]组成，其特征是采用金属波纹管[6]，对下压穿剌用针锥[8]进行动态真空密封，法尘盖板[18]上装有多根与盖板绝缘的电极引线[20]，可对取样器中密封继电器[14]加电，取样器外壳上附有加温用加热套[9]。
2.按权利要求
1所述的取样器，其特征是针锥〔8〕固定在锥座〔4〕上，动态密封用金属波纹管〔6〕的上部焊在锥座〔4〕上，下部焊在过渡接头〔7〕的上部，锥座〔4〕受固定在过渡接头〔7〕上部凸缘上的三根呈120°间隔安置的螺杆〔3〕的导向平行下移，螺母〔5〕作限位用，旋动加压螺钉〔1〕时，由于加压螺钉支座〔2〕已固定在三根螺杆〔3〕上，所以顶压锥座〔4〕下移。
3.按权利要求
1或2规定的取样器，其特征是法兰盖板〔18〕上有多根用玻璃绝缘并密封良好的电极引线〔20〕，能对取样器中的密封继电器〔14〕加负载和驱动电压。
4.按权利要求
1或2规定的取样器，其特征是取样器的金属开管腔〔13〕的外壳上附有用电加热的加热套〔9〕，能对取样器连同置于其中的密封继电器〔14〕进行加温。
5.按权利要求
3规定的取样器，其特征是取样器的金属开管腔〔13〕的外壳上附有用电加热的加热套〔9〕，能对取样器连同置于其中的密封继电器〔14〕进行加温。
专利摘要
本实用新型提供了一种改进的密封继电器气氛分析取样器，能对待分析密封继电器在同时加温加负载动作后立即穿刺密封罩，提取出罩内气氛。提高了分析的准确度，是进行密封继电器可靠性研究必不可少的装置。该装置的特点是采用金属波纹管对穿刺用针锥进行动态真空密封；密封用法兰盖板上装有多根与盖板绝缘的密封引线，可对取样器中密封继电器加电；取样器外壳上附有加温用加热套。
文档编号G01N1/22GK86200784SQ86200784
公开日1987年5月6日 申请日期1986年1月27日
发明者黄远添, 郑德修 申请人:西安交通大学导出引文BiBTeX, EndNote, RefMan