综合校验仪的制作方法

文档序号:6088347阅读:446来源:国知局
专利名称:综合校验仪的制作方法
技术领域
本实用新型是一种用于工业自动化仪表的校验装置,它符合国际标准(IEC)信号制(即4~20mADC或1~5VDC)目前我国的工业自动化仪表普遍采用了国际标准(IEC)信号制,为了解决这类仪表在使用维修中的校验和性能测试,过去往往需要用交流稳压电源、直流稳压电源、多路信号源、电阻箱、数字万用表等多种设备,以积木方式来组成一套校验装置。采用以上方式需用设备较多,耗资大,且相互连接烦锁,并易引入干扰而造成测试误差。
本实用新型的目的是提供一种校验仪,它将被校仪表所需各功能综合于一体,采用这种方式,实现各种校验所进行的连接大为简化,消除了干扰,提高了可靠性,降低成本,提高工效。
为了实现上述目的,本实用新型采用的技术方案是,用一个精密稳压块提供基准信号,经运算放大器和晶体管电路放大,再经转换开关和电位器调节,得到所需要的各种信号源。并在校验仪上装有两只4位半数字电压表及转换开关、接线端子。将被校仪表与校验仪连接后,就可向被校仪表提供稳压电源和各种精密信号,还能显示被校仪表,输入信号和输出信号,实现测试仪表的各种性能指标。
以下结合附

图1对本实用新型做进一步说明如图1所示上方虚线框为信号方大器AMP,下方为一只12档4刀转换开关K(即K1~K4)。AMP信号放大器具有精密稳压、放大、电压/电流转换、恒流、过流保护作用。放大器的电源通常为24VDC,由L1、L2端子输入,A1为精密稳压器,产生基准电压信号V1,经R9、R10分别供给多圈线绕电位器R11、R12R11、R12安装在面板上,由旋扭调节,分别为粗、细调。设R10R9=R11R12=9,又R10=R11,则V2=(0~0.9)V1,V3=(0~0.1)V1,V2为送往放大电路A2的反相输入端(粗调),V3送往同相输入端(细调)。设A2的闭环放大倍数为0.5,则△V4=0~0.5(△V2±△V3),当外电路接通时,改变V2或V3使V4变化,则流过功放管Q2的电流I1=△V4÷(R24+R25)设R25R24=4,当端子H、J短接时Q2的电流I2=5I1。放大器的输出由H、J、M、N、R端子接往12档4刀开关K1~K4,在K4上接有精度为万分之一的线绕转换电组R1~R9,并使R1R2R3R4R5R6R7R8R9的阻值比为11114650505050,它们将恒流转换成设定的阶梯电压信号mV或V值。通过K1~K4使本信号源输出端子S上得各种信号,其中K1的作用是当S为mA输出时,短接H、J端子,使放大器有足够的电流输出,K2是电压(mV或V)输出时将转换电阻R1~R9的始端接往M端子,K3是电压输出时将R1~R9的末端和S的一端接往R端子,mA输出时将S的一端接往N端子,K4是mA输出时将输出端S的十端接往M或H端子,电压输出时将不同的信号送往S的十端,通过R1~R9获取各种阶梯变化信号。
1、当开关置于″I″当时,输出0~24mADC信号,电流大小由电位器R11、R12给定,适用于高阻和有源负载,此时由Q3、Q4进行阻抗匹配,Q5用以限流。可校验YS-80的配电器,I系列的安全栅等仪表。
2、当开关置于″II″档时,输出略低于本放大器电源的恒压信号,输出电流大小由负载阻抗决定,用于校验1151等二线制变送器,Q5仍起过流保护作用。
3、开关置于″mV″档的100%,调整R11、R12可取得0~100mVDC连续可调信号;当被校仪表的量程下限值为0(通常如此),可将100%调整到等于被校仪表的量程上限值,然后将″mV″档分别置0%、25%、50%、75%、100%,可获得与量程相对应的阶梯变化信号。例如量程上限为66.88mV,则分别对应于0、16.72、33.44、50.16、66,88mV,各点误差小于量程的0.02%,可准确而迅速地校验各类温度变送器,记录仪等仪表。
4、开关置于″V″档的100%,调整输出旋扭,可取得0~6V的输出值,被校仪表的信号为1~5V时,可将100%调整到等于5V,当″V″档分别置0%、25%、50%、75%、100%时,可取得1、2、3、4、5V信号,误差不大于0.02%适合校验符合ICEB标准的工业自动化仪表。
权利要求1.一种由多功能信号源和数字电压表、转换开关组成的综合校验仪,其特征在于多功能信号源是由精密稳压块A1,运算放大器A2及晶体管放大电路组成的放大器AMP与转换开关K,精密多圈电位器R11、R12组成,R11∶R12=9,R11的采样信号控制放大电路A2的反相输入端,R12控制A2的同相输入端,放大电路A2采用共电源放大回路,并使R25∶R24=4,放大器AMP的输出方式通过H、J、M、N、R端子由开关K控制。
2.根据权利要求1所述的综合校验仪,其特征是其中的转换开关K中,R1R2R3R4R5R6R7R8R9的阻值分配是11114650505050
专利摘要本实用新型是一种综合校验仪,由多功能信号源和数字电压表,转换开关组成,它适用于校验符合国际标准(IEC)信号制(4~20mADC或1~5VDC)的工业自动化仪表。它将被校仪表所需各项功能综合于一体,具有操作简单、可靠性高、性能好之特点。其中所研制的多功能信号源,在设定的范围内(0~24mADC或0~6VDC)可取得任意等值阶梯输出信号或连续可调信号。综合校验仪采用两只4位半数字面板表,安装在左、右侧靠上方,信号源等分布其周围,便于操作和观测。
文档编号G01D18/00GK2122376SQ91229198
公开日1992年11月18日 申请日期1991年11月23日 优先权日1991年11月23日
发明者何泽湘 申请人:何泽湘
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