一种电阻检验方法
【技术领域】
[0001 ] 本发明涉及一种电阻检验方法。
【背景技术】
[0002]电阻是电子电路中必不可少的电子元器件，其精度的高低直接影响着电子电路的可靠性和电路性能，电阻由于标称精度的不同可以分为普通电阻和精密电阻，普通电阻的精度一般在5%左右，而精密电阻的精度至少要达到1%以上，甚至更高，且电阻值的大小受温度、电阻材料和导体长度等多种因素影响，故同一标称值的电阻实际上的阻值往往存在一定的差别，因此实际使用时对电阻的阻值校验是十分必要的，尤其是用于取样等电路中的电阻，取样电阻本身的误差会直接导致控制不准确。
【发明内容】
[0003]本发明针对以上问题的提出，而研制一种准确实用的电阻检验方法。
[0004]本发明的技术手段如下:
[0005]一种电阻检验方法，包括如下步骤:
[0006]①在待测电阻两端施加恒定电压U，检测待测电阻所在回路电流I ;
[0007]②检测当前环境温度t ；
[0008]③根据待测电阻两端所施加的恒定电压U和所在回路电流I，利用公式R=U/I得出当前环境温度t下的待测电阻阻值R ；
[0009]④根据待测电阻的导体材料和当前环境温度t获取该导体材料所对应的电阻率温度系数α ;
[0010]⑤根据当前环境温度t、当前环境温度t下的待测电阻阻值R和电阻率温度系数α，利用公式R20=R/(l+a (t_20))得出20°C时的待测电阻阻值R20 ；
[0011]⑥根据基准电阻的20°C时的电阻值对20°C时的待测电阻阻值R20进行校验差值；
[0012]⑦根据步骤⑥所述的校验差值显示校验结果；
[0013]进一步地，在步骤①之前还具有如下步骤:
[0014]存储不同导体材料与电阻率温度系数的对应关系表。
[0015]由于采用了上述技术方案，本发明提供的一种电阻检验方法，利用欧姆定律和电阻率温度系数公式来获取待测电阻阻值，避免了温度、电阻材料等其它因素对阻值检测结果的影响，通过待测电阻阻值与基准电阻阻值进行差值比较得出校验结果，整个过程能够有效降低校验误差，准确实用，便于满足实际应用的需求，适于广泛推广。
【附图说明】
[0016]图1是本发明所述方法的流程图。
【具体实施方式】
[0017]如图1所示的一种电阻检验方法，包括如下步骤:
[0018]①在待测电阻两端施加恒定电压U，检测待测电阻所在回路电流I ;
[0019]②检测当前环境温度t ；
[0020]③根据待测电阻两端所施加的恒定电压U和所在回路电流I，利用公式R=U/I得出当前环境温度t下的待测电阻阻值R ；
[0021]④根据待测电阻的导体材料和当前环境温度t获取该导体材料所对应的电阻率温度系数α ;
[0022]⑤根据当前环境温度t、当前环境温度t下的待测电阻阻值R和电阻率温度系数α，利用公式R20=R/(l+a (t_20))得出20°C时的待测电阻阻值R20 ；
[0023]⑥根据基准电阻的20°C时的电阻值对20°C时的待测电阻阻值R20进行校验差值；
[0024]⑦根据步骤⑥所述的校验差值显示校验结果；
[0025]进一步地，在步骤①之前还具有如下步骤:
[0026]存储不同导体材料与电阻率温度系数的对应关系表。
[0027]本发明提供的一种电阻检验方法，利用欧姆定律和电阻率温度系数公式来获取待测电阻阻值，避免了温度、电阻材料等其它因素对阻值检测结果的影响，通过待测电阻阻值与基准电阻阻值进行差值比较得出校验结果，整个过程能够有效降低校验误差，准确实用，便于满足实际应用的需求，适于广泛推广。
[0028]以上所述，仅为本发明较佳的【具体实施方式】，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，根据本发明的技术方案及其发明构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本发明的保护范围之内。
【主权项】
1.一种电阻检验方法，其特征在于包括如下步骤: ①在待测电阻两端施加恒定电压U，检测待测电阻所在回路电流I; ②检测当前环境温度t; ③根据待测电阻两端所施加的恒定电压U和所在回路电流I，利用公式R=U/I得出当前环境温度t下的待测电阻阻值R ； ④根据待测电阻的导体材料和当前环境温度t获取该导体材料所对应的电阻率温度系数α ； ⑤根据当前环境温度t、当前环境温度t下的待测电阻阻值R和电阻率温度系数α，利用公式R20=R/(l+a (t-20))得出20°C时的待测电阻阻值R20 ； ⑥根据基准电阻的20°C时的电阻值对20°C时的待测电阻阻值R20进行校验差值； ⑦根据步骤⑥所述的校验差值显示校验结果。
2.根据权利要求1所述的一种电阻检验方法，其特征在于在步骤①之前还具有如下步骤: 存储不同导体材料与电阻率温度系数的对应关系表。
【专利摘要】本发明公开了一种电阻检验方法，包括如下步骤：在待测电阻两端施加恒定电压U，检测待测电阻所在回路电流I；检测当前环境温度t；根据待测电阻两端所施加的恒定电压U和所在回路电流I，利用公式R=U/I得出当前环境温度t下的待测电阻阻值R；根据待测电阻的导体材料和当前环境温度t获取该导体材料所对应的电阻率温度系数α；根据当前环境温度t、当前环境温度t下的待测电阻阻值R和电阻率温度系数α，利用公式R20=R/(1+α（t-20）)得出20℃时的待测电阻阻值R20；根据基准电阻的20℃时的电阻值对20℃时的待测电阻阻值R20进行校验差值；本发明能够有效降低校验误差，准确实用。
【IPC分类】G01R27-14
【公开号】CN104698283
【申请号】CN201310646731
【发明人】王榕英
【申请人】大连东浦机电有限公司
【公开日】2015年6月10日
【申请日】2013年12月4日