一种自动配平电路的制作方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及半导体制造领域，尤其涉及一种自动配平电路。
【背景技术】
[0002]集成电路具有在电路的操作参数范围内的所需操作点。为了达到此所需操作点，制造商必须调节某些位以调节提供到系统的各种组件的信号。这些经调节的位通常称为配平位。
[0003]现有技术中，通常采用以下方式执行配平位的设定。首先，制造商设计测试程序。所述测试程序设定配平位，将配平位施加到电路，并测量结果。测试程序分析结果并基于结果修改配平位。重复此过程直到找到用于促使电路在所需操作点执行的最佳位组为止。将所述最佳位组记录下来在电路操作期间使用。此方法大大增加了设计集成电路的时间和成本。
[0004]高压配平在闪存电路进行测试时十分必要，测试电压的准确性能够正确的反映出闪存的性能是否良好。然而，现有技术中采用的配平方式在集成度越来越高时，测试时间和成本将会大大增加，不利于进行量产。因此，如何缩短测试时间以及成本，便成为本领域技术人员所要解决的技术问题。
【发明内容】
[0005]本发明的目的在于提供一种自动配平电路，能够自动进行配平，减少配平所需的时间，降低测试成本。
[0006]为了实现上述目的，本发明提出了一种自动配平电路，包括:多个比较器及选择器，其中，每一个所述比较器的输入均连接一设定值和一待配平值，所述比较器的输出连接所述选择器的输入，所述选择器用于选定任一个比较器进行工作，当所述待配平值达到所述设定值时，将配平结果通过所述比较器输出并记录。
[0007]进一步的，还包括反相器，所述反相器的输入连接所述选择器的输出，所述配平结果通过所述反相器进行输出。
[0008]进一步的，所述反相器的个数为2个，分别为第一反相器和第二反相器，所述第一反相器的输入连接所述选择器的输出，所述第二反相器的输入连接所述第一反相器的输出，所述配平结果通过所述第二反相器进行输出。
[0009]进一步的，所述比较器的个数为2个。
[0010]进一步的，所述比较器为正向比较器和负向比较器，所述正向比较器的输入设有第一设定值和第一待配平值，所述负向比较器的输入设有第二设定值和第二待配平值，所述正向比较器和负向比较器输出分别连接所述选择器的两个输入。
[0011]进一步的，所述选择器为两路选择器。
[0012]进一步的，所述选择器的选择信号与所述正向比较器或负向比较器的使能信号相同。
[0013]进一步的，所述第一设定值和第二设定值共用一个测试盘。
[0014]与现有技术相比，本发明的有益效果主要体现在:采用多个比较器，对待配平值与设定值进行比较，当待配平值达到设定值时，将配平结果输出并记录，从而能够快速达到自动配平的目的，完成一个待配平值的配平时，可以由所述选择器进行选择对另一个待配平值进行自动配平，适用于对多个待配平值进行配平，从而大大的减少了现有技术中配平方式所耗费的时间，节约测试时间的同时，还降低了测试成本。
【附图说明】
[0015]图1为本发明实施例中自动配平电路的结构示意图。
【具体实施方式】
[0016]下面将结合示意图对本发明的自动配平电路进行更详细的描述，其中表示了本发明的优选实施例，应该理解本领域技术人员可以修改在此描述的本发明，而仍然实现本发明的有利效果。因此，下列描述应当被理解为对于本领域技术人员的广泛知道，而并不作为对本发明的限制。
[0017]为了清楚，不描述实际实施例的全部特征。在下列描述中，不详细描述公知的功能和结构，因为它们会使本发明由于不必要的细节而混乱。应当认为在任何实际实施例的开发中，必须做出大量实施细节以实现开发者的特定目标，例如按照有关系统或有关商业的限制，由一个实施例改变为另一个实施例。另外，应当认为这种开发工作可能是复杂和耗费时间的，但是对于本领域技术人员来说仅仅是常规工作。
[0018]在下列段落中参照附图以举例方式更具体地描述本发明。根据下面说明和权利要求书，本发明的优点和特征将更清楚。需说明的是，附图均采用非常简化的形式且均使用非精准的比例，仅用以方便、明晰地辅助说明本发明实施例的目的。
[0019]在本实施例中，提出了一种自动配平电路，包括:多个比较器及选择器，其中，每一个所述比较器的输入均连接一设定值和一待配平值，所述比较器的输出连接所述选择器的输入，所述选择器用于选定任一个比较器进行工作，当所述待配平值达到所述设定值时，将配平结果通过所述比较器输出并记录。
[0020]由于在实际测试中，通常需要高压等测试，因此，为了能够准确达到测试电压，通常会使用正分压器(positive divider)和负分压器(negative divider)，用于将高压分为多个低值电压进行配平，便于实现，在现有的90nm闪存中，均需要使用到正分压器和负分压器，需要指出的是，负分压器分出的电压为正电压。因此，相应的，在本实施例中，所述比较器的个数为2个，分别是正向比较器11和负向比较器12。具体的，请参考图1，所述正向比较器11的输入设有第一设定值VREF_ATRM1和第一待配平值DETP，所述负向比较器11的输入设有第二设定值VERF_ATRM2和第二待配平值VNEG_DET，所述正向比较器11的输出CMP0UTP和负向比较器12的输出CMP0UTN分别连接所述选择器20的两个输入，分别对应INl 和 IN2。
[0021]其中，所述正向比较器11用于对正分压器所需的电压进行配平，所述负向比较器12用于对负分压器所需的电压进行配平。
[0022]由于设有2个比较器，因此，在本实施例中的所述选择器20为两路选择器。所述选择器20的选择信号与所述正向比较器11或负向比较器12的使能信号相同，在请参考图1，在本实施例中的选择信号与所述负向比较器12的使能信号均为HV_TRMEN〈1>，所述正向比较器11的使能信号为HV_TRMENP。即可以定义选择器20的选择信号为高电平时，选定正向比较器11进行比较工作，当选择器20的选择信号为低电平时，选定负向比较器12进行比较工作。
[0023]此外，为了减少自动配平电路所占的面积，可以使所述第一设定值VREF_ATRM1和第二设定值VREF_ATRM2共用一个测试盘(test pad)，从而可以减少制造以及测试成本。
[0024]在本实施例中，请继续参考图1，所述自动配平电路还包括反相器，所述反相器的个数为2个，分别为第一反相器31和第二反相器32，所述第一反相器31的输入连接所述选择器20的输出，所述第二反相器32的输入连接所述第一反相器31的输出，所述配平结果HVCMPOUT通过所述第二反相器32进行输出。
[0025]在进行配平时，例如正分压器所需的电压为IV，在对其进行配平时，正向比较器11的第一设定值VREF_ATRM1为IV，配平结果可为四位数字信号，当第一次进行配平时，配平输出为a〈0000>，第一待配平值DETP例如是0.8V，则小于第一设定值VREF_ATRM1，因此，正向比较器11的输出为低电平，接着，进行第二次配平，若第一待配平值DETP时0.85V时，配平输出应为a〈0001>，依旧小于第一设定值VREF_ATRM1，输出仍然为低电平，依次循环，进行配平，直至正向比较器11的输出为高电平，即第一待配平值DETP大于或等于第一设定值VREF_ATRM1，完成一次配平，并将配平输出(例如是a〈0011>)记录下来。同理，在对负分压器进行配平时，只需选择器20的选择信号电平更改，即对负向比较器12进行比较工作即可。配平的方式和原理均与正向比较器11的相同，在此不作赘述。
[0026]综上，在本发明实施例提供的自动配平电路中，采用多个比较器，对待配平值与设定值进行比较，当待配平值达到设定值时，将配平结果输出并记录，从而能够快速达到自动配平的目的，完成一个待配平值的配平时，可以由所述选择器进行选择对另一个待配平值进行自动配平，适用于对多个待配平值进行配平，从而大大的减少了现有技术中配平方式所耗费的时间，节约测试时间的同时，还降低了测试成本。
[0027]上述仅为本发明的优选实施例而已，并不对本发明起到任何限制作用。任何所属技术领域的技术人员，在不脱离本发明的技术方案的范围内，对本发明揭露的技术方案和技术内容做任何形式的等同替换或修改等变动，均属未脱离本发明的技术方案的内容，仍属于本发明的保护范围之内。
【主权项】
1.一种自动配平电路，其特征在于，包括:多个比较器及选择器，其中，每一个所述比较器的输入均连接一设定值和一待配平值，所述比较器的输出连接所述选择器的输入，所述选择器用于选定任一个比较器进行工作，当所述待配平值达到所述设定值时，将配平结果通过所述比较器输出并记录。
2.如权利要求1所述的自动配平电路，其特征在于，还包括反相器，所述反相器的输入连接所述选择器的输出，所述配平结果通过所述反相器进行输出。
3.如权利要求2所述的自动配平电路，其特征在于，所述反相器的个数为2个，分别为第一反相器和第二反相器，所述第一反相器的输入连接所述选择器的输出，所述第二反相器的输入连接所述第一反相器的输出，所述配平结果通过所述第二反相器进行输出。
4.如权利要求1所述的自动配平电路，其特征在于，所述比较器的个数为2个。
5.如权利要求4所述的自动配平电路，其特征在于，所述比较器为正向比较器和负向比较器，所述正向比较器的输入设有第一设定值和第一待配平值，所述负向比较器的输入设有第二设定值和第二待配平值，所述正向比较器和负向比较器输出分别连接所述选择器的两个输入。
6.如权利要求5所述的自动配平电路，其特征在于，所述选择器为两路选择器。
7.如权利要求5所述的自动配平电路，其特征在于，所述选择器的选择信号与所述正向比较器或负向比较器的使能信号相同。
8.如权利要求5所述的自动配平电路，其特征在于，所述第一设定值和第二设定值共用一个测试盘。
【专利摘要】本发明提出了一种自动配平电路，采用多个比较器，对待配平值与设定值进行比较，当待配平值达到设定值时，将配平结果输出并记录，从而能够快速达到自动配平的目的，完成一个待配平值的配平时，可以由所述选择器进行选择对另一个待配平值进行自动配平，适用于对多个待配平值进行配平，从而大大的减少了现有技术中配平方式所耗费的时间，节约测试时间的同时，还降低了测试成本。
【IPC分类】G01R31-28
【公开号】CN104698364
【申请号】CN201510091876
【发明人】胡剑, 杨光军
【申请人】上海华虹宏力半导体制造有限公司
【公开日】2015年6月10日
【申请日】2015年2月28日