一种电阻片柱并联电流分布测试方法
【技术领域】
[0001] 本发明属于过电压限制器测试领域，涉及一种电阻片柱并联电流分布测试方法。
【背景技术】
[0002] 在交直流电力系统中，对于限制过电压的保护电器（如：避雷器、限压器、电阻器 等），由于保护水平和吸收能量的要求，需要多柱电阻片柱并联，才能满足系统的要求。对于 多柱并联电阻片柱，其电流分布特性是十分关键的技术性能。在交直流避雷器和串联补偿 装置的标准中（GB11032、GB/T22389、GB/T25083、GB/T6115.2、GB/T25309)，都规定了 多柱并联电阻片的电流分布不均匀系数的要求，一般规定多柱并联电阻片的电流分布不均 匀系数不大于1. 1。由于保护电器的电阻片并联柱数多达上百柱和试验设备的容量，对其电 流分布无法整体同时测量，且在产品生产制造中需要测量准确、测量方法简单、操作方便及 高效率，因此需要一种新的方法达到上述要求。
【发明内容】
[0003] 本发明的目的在于克服上述现有技术的缺点，提供了一种电阻片柱并联电流分布 测试方法，该方法能够准确测量电阻片柱并联电流分布。
[0004] 为达到上述目的，本发明所述的电阻片柱并联电流分布测试方法，包括以下步 骤：
[0005] 1)将电阻片配成Μ柱电阻片柱；
[0006] 2)在步骤1)得到的Μ柱电阻片柱中随机抽取Ν柱电阻片柱，然后将抽取的Ν柱电 阻片柱组成待测电阻片柱组；
[0007] 3)在预设冲击电流波形及幅值下，分别测量通过待测电阻片柱组中各电阻片柱的 电流值，再选取测量得到的电流值最大的电阻片柱及电流值最小的电阻片柱；
[0008] 4)在剩余电阻片柱中选取k柱电阻片柱，将选取的k柱电阻片柱、步骤3)得到的 电流值最大的电阻片组及电阻值最小的电阻片柱组成新的待测电阻片柱组；
[0009] 5)重复步骤3)及4)，直至Μ柱电阻片柱全部选取完成为止，得最后一次测量得的 最大电流值1_及最小电流值I_，然后根据最后一次测量得到的最大电流值1_及最小电 流值1_得多柱并联电阻片柱组的最大电流分布不均匀系数β_，然后根据多柱并联电阻 片柱组的最大电流分布不均匀系数β_得电阻片柱并联电流分布。
[0010] 多柱并联电阻片柱组的最大电流分布不均匀系数β_的表达式为：
[0011] β max= I max/lmin0
[0012] 步骤1)中的电阻片为金属氧化物电阻片。
[0013] 所述冲击电流的幅值为475A-525A。
[0014] 所述冲击电流波形为30/60μs操作冲击波形。
[0015] 本发明具有以下有益效果：
[0016] 本发明所述的电阻片柱并联电流分布测试方法在操作时，先将电阻片配置成Μ 柱电阻片柱，然后通过连续随机抽取的方法获取各次测量的待测电阻片柱组，再在预设冲 击电流波形及幅值下，测量得到最后一次测量的最大电流值及最小电流值，然后再根据测 量得到的最大电流值及最小电流值得到多柱并联电阻片柱组的最大电流分布不均匀系数 ，用户即可根据所述多柱并联电阻片柱组的最大电流分布不均匀系数准确获知电 阻片柱并联电流分布，操作方便，试验效率高，特别适用于电阻片柱数较多的情况，并且满 足现有的标准和产品制造要求。
【具体实施方式】
[0017] 下面结合具体的实施例对本发明做进一步详细描述，以下是对本发明的解释而不 是限定。
[0018] 本发明所述的电阻片柱并联电流分布测试方法包括以下步骤：
[0019] 1)将电阻片配成Μ柱电阻片柱；
[0020] 2)在步骤1)得到的Μ柱电阻片柱中随机抽取Ν柱电阻片柱，然后将抽取的Ν柱电 阻片柱组成待测电阻片柱组；
[0021] 3)在预设冲击电流波形及幅值下，分别测量通过待测电阻片柱组中各电阻片柱的 电流值，再选取测量得到的电流值最大的电阻片柱及电流值最小的电阻片柱；
[0022] 4)在剩余电阻片柱中选取k柱电阻片柱，将选取的k柱电阻片柱、步骤3)得到的 电流值最大的电阻片组及电阻值最小的电阻片柱组成新的待测电阻片柱组；
[0023] 5)重复步骤3)及4)，直至Μ柱电阻片柱全部选取完成为止，得最后一次测量得的 最大电流值1_及最小电流值I_，然后根据最后一次测量得到的最大电流值1_及最小电 流值1_得多柱并联电阻片柱组的最大电流分布不均匀系数β_，然后根据多柱并联电阻 片柱组的最大电流分布不均匀系数β_得电阻片柱并联电流分布。
[0024]多柱并联电阻片柱组的最大电流分布不均匀系数β_的表达式为：
[0025] β_=Ι_/Ι_。
[0026] 步骤1)中的电阻片为金属氧化物电阻片。
[0027] 所述冲击电流的幅值为475Α-525Α。
[0028] 所述冲击电流波形为30/60μs操作冲击波形。
[0029] 实施例一
[0030] 电阻片柱并联数为48柱，并联电阻片柱的电流分布不均匀系数不大于1. 05,通过 本发明测试的过程为：
[0031] 1)将48柱电阻片柱随机抽取8柱电阻片柱组成待测电阻片柱组；
[0032] 2)在30/60μs操作冲击波形和500±25Α电流下，测量电阻片柱组的电流分布，选 出电流值最大的电阻片柱和电流值最小的电阻片柱，保留电流值最大的电阻片柱和电流值 最小的电阻片柱，补充未测量的电阻片柱，组成新的待测电阻片柱组，重复上述步骤，得最 后一次测量得的最大电流值1_及最小电流值I_，各电阻片柱的测量结果如表1所示：
[0033] 表 1
[0034]
[0036] 5)计算多柱并联电阻片柱组的最大电流分布不均匀系数β_，其中
[0037] β_=I_/1_= 511. 32/487. 68 = 1. 048
[0038] 则本发明测量的48柱电阻片柱电流分布不均匀最大系数为1. 048,满足并联电阻 片柱的电流分布不均匀系数不大于1. 05的要求。
【主权项】
1. 一种电阻片柱并联电流分布测试方法，其特征在于，包括以下步骤： 1) 将电阻片配成Μ柱电阻片柱； 2) 在步骤1)得到的Μ柱电阻片柱中随机抽取Ν柱电阻片柱，然后将抽取的Ν柱电阻片 柱组成待测电阻片柱组； 3) 在预设冲击电流波形及幅值下，分别测量通过待测电阻片柱组中各电阻片柱的电流 值，再选取测量得到的电流值最大的电阻片柱及电流值最小的电阻片柱； 4) 在剩余电阻片柱中选取k柱电阻片柱，将选取的k柱电阻片柱、步骤3)得到的电流 值最大的电阻片组及电阻值最小的电阻片柱组成新的待测电阻片柱组； 5) 重复步骤3)及4)，直至Μ柱电阻片柱全部选取完成为止，得最后一次测量得的最大 电流值1_及最小电流值I_，然后根据最后一次测量得到的最大电流值1_及最小电流值 1_得多柱并联电阻片柱组的最大电流分布不均匀系数β_，然后根据多柱并联电阻片柱 组的最大电流分布不均匀系数β_得电阻片柱并联电流分布。2. 根据权利要求1所述的电阻片柱并联电流分布测试方法，其特征在于，多柱并联电 阻片柱组的最大电流分布不均匀系数的表达式为： 艮max I maxZlmin03. 根据权利要求1所述的电阻片柱并联电流分布测试方法，其特征在于，步骤1)中的 电阻片为金属氧化物电阻片。4. 根据权利要求1所述的电阻片柱并联电流分布测试方法，其特征在于，所述冲击电 流的幅值为475A-525A。5. 根据权利要求1所述的电阻片柱并联电流分布测试方法，其特征在于，所述冲击电 流波形为30/60μs操作冲击波形。
【专利摘要】本发明公开了一种电阻片柱并联电流分布测试方法，包括：1)将电阻片配成M柱电阻片柱；2)随机抽取N柱电阻片柱，构建待测电阻片柱组；3)在预设冲击电流波形及幅值下，分别测量通过待测电阻片柱组中各电阻片柱的电流值，再选取测量得到的电流值最大的电阻片柱及电流值最小的电阻片柱；4)在剩余电阻片柱中选取k柱电阻片柱，将选取的k柱电阻片柱、步骤3)得到的电流值最大的电阻片组及电阻值最小的电阻片柱组成新的待测电阻片柱组；重复步骤3)及4)，直至M柱电阻片柱全部选取完成为止，得最后一次测量得的最大电流值及最小电流值，得电阻片柱并联电流分布。本发明能够准确测量电阻片柱并联电流分布。
【IPC分类】G01R19/10
【公开号】CN105425018
【申请号】CN201511029845
【发明人】何计谋, 谢清云, 祝嘉喜, 张宏涛
【申请人】中国西电电气股份有限公司
【公开日】2016年3月23日
【申请日】2015年12月31日