测量物体的几何维度的方法及系统的制作方法
【专利摘要】本发明提供一种测量物体的几何维度的方法及系统。其中，该测量物体的几何维度的方法，包括：测量第一成像单元的光学特性；测量第二成像单元的光学特性；测量参考对象的几何维度；排列包括第一被测物体的一或多个被测物体、第二成像单元、反射表面、第一成像单元及该参考对象；在该第一成像单元中形成该第一被测物体的映像与该参考对象的映像的图像；在该第二成像单元中形成该第一被测物体的图像；测量在该第一成像单元中形成的该图像的几何维度；测量在该第二成像单元中形成的该图像的几何维度；计算该第一被测物体的几何维度。本发明提供的测量物体的几何维度的方法可物体维度非接触式测量实现，简化测量方法。
【专利说明】
测量物体的几何维度的方法及系统
技术领域
[0001] 本发明有关于测量被测物体的几何维度的方法，更具体地，本发明有关于一种测 量被测物体的几何维度的方法、形成及测量映像/物体图像
[0002] 的几何维度的方法以及测量一或多个被测物体的几何维度的系统。
【背景技术】
[0003] 当需要对物体的几何维度(geometrical dimension)进行快速而不耗费成本的估 计时，且在限制对被测物体的访问或者待被测物体在运动中的前提下，对物体进行非接触 式维度测量(contactless dimensional measurement)是十分必要的。对于这些情形，通常 使用不同种类的光学系统。而这些系统通常基于对由具有已知特征的光学系统形成的被测 物体的投影(projection)的测量。使用从光线系统的元件到被测物体之间的已知或测量距 离，将投影的几何维度重计算为物体的维度。然而，当到被测物体的距离未知时，被测物体 的非接触式估计需要特殊的设备，即包括光学测距仪在内的不同种类的测距仪(range finder)〇
[0004] 需对日常应用需要快速且精准的非接触式测量，例如对身体部位的测量以用于在 线服装零售商处下单购物或用于减肥进程评估。而在这些应用中是非常不希望出现对测距 仪或其他特殊设备的使用的。
【发明内容】
[0005] 本发明的目的在于提供在不知道到被测物体的距离的前提下测量物体的几何维 度的机制、技术、方法、装置及系统。优势显著地，本发明的实现无需获取至被测物体的距 离，且可以手持平台或解决方案实现来用于测量。
[0006] 本发明提供一种测量物体的几何维度的方法，包括:测量第一成像单元的光学特 性;测量第二成像单元的光学特性;测量参考对象的几何维度;排列包括第一被测物体的一 或多个被测物体、第二成像单元、反射表面、第一成像单元及该参考对象，以使该第一被测 物体位于该第二成像单元的视野中，且该反射表面中的第一被测物体的映像和该反射表面 中的该参考对象的映像位于该第一成像单元的视野中；在该第一成像单元中形成该第一被 测物体的映像与该参考对象的映像的图像;在该第二成像单元中形成该第一被测物体的图 像;测量在该第一成像单元中形成的该图像的几何维度;测量在该第二成像单元中形成的 该图像的几何维度;计算该第一被测物体的几何维度。
[0007] 本发明又提供一种形成及测量映像的图像的几何维度的方法，包括:在前视图位 置中设置成像单元以使在反射表面中的包括第一被测物体的一或多个被测物体的映像和 该反射表面中的参考对象的映像位于该成像单元的视野中；形成该第一被测物体的该映像 和该参考对象的该映像的多个图像;测量形成的该多个图像的多个几何维度。
[0008] 本发明再提供一种形成及测量物体的图像的几何维度的方法，包括:在后视图位 置中设置成像单元以使第一被测物体位于该成像单元的视野中；形成该第一被测物体的图 像;以及测量形成的该图像的几何维度。
[0009] 本发明还提供一种测量一或多个被测物体的多个几何维度的系统，包括:前视图 成像单元;后视图成像单元;反射表面；以及参考对象，其中，该前视图成像单元、该后视图 成像单元、该反射表面及该参考对象被排列用于使该一或多个被测物体中的第一被测物体 位于该后视图成像单元的视野中，且该反射表面中的第一被测物体的映像和该反射表面中 的该参考对象的映像位于该前视图成像单元的视野中。
[0010] 本发明提供的测量物体的几何维度的方法可物体维度非接触式测量实现，简化测 量方法。
【附图说明】
[0011] 图1为根据本发明至少部分实施例的光学测量系统的模块示意图。
[0012] 图2为根据本发明至少部分实施例的图1的光学测量系统的成像单元的模块示意 图。
[0013] 图3为根据本发明的至少一部分实施例图1的测量系统中的射线路径的示例情形 的光学不意图。
[0014] 图4为根据本发明至少一部分实施例的测量系统的成像单元的灵活安装的模块示 意图。
[0015] 图5为根据本发明至少一部分实施例的流程的流程图。
[0016] 图6为根据本发明至少一部分实施例的流程的流程图。
[0017] 图7为根据本发明至少一部分实施例的流程的流程图。
[0018] 图8为现有技术测量系统的模块示意图。
【具体实施方式】
[0019] 本发明可以各种功能元件和各个流程步骤来进行描述。需注意，这些功能元件可 由配置用于执行特定功能的任意数量的硬件或结构元件来实现。例如，本发明可采用由电 子、机械和光学装置组成的各种集成元件。
[0020] 此外，本发明可以任意集成应用来实现。通用应用程序及其他细节对于本领域技 术人员而言是显而易见的，鉴于此本发明不在此具体描述。此外，需注意的是，各种元件可 适当地耦接或连接至装置内的其他元件，这种连接和耦接可通过元件之间的直接连接或者 透过位于其间的其他元件和装置而连接起来。
[0021] 请参考图8,图8为现有技术测量系统800的模块示意图。现有技术测量系统800包 括成像单元（imaging setup)(例如移动终端的摄像头），其又包括具有已知特性的镜头 810、图像测量子系统820及距离测量子系统830。现有技术测量系统800的测量方法通常包 括以下步骤：（1)使用成像单元识别拍摄的物体图像；（2)使用图像测量子系统820测量在步 骤（1)中识别的物体图像的大小；（3)使用距离测量子系统830测量物体与成像单元之间的 距离；以及(4)使用成像单元的特性(例如，镜头810的焦距和形成图像的距离）、步骤(2)中 测量的物体图像的大小以及步骤(3)中测量的对象与成像单元之间的距离来计算物体的真 实大小。
[0022]现有技术测量系统800中的操作顺序包括了由距离测量子系统830完成的物体和 摄像头之间的距离测量。存在无法测量此距离或者测量精度未达到所需级别的许多实际情 况，例如当测量物体在移动或者限制对测量物体的访问时。
[0023]相反地，根据本发明揭露书的几何维度的测量方法及系统提供的显著优势为其操 作无需知道或直接测量到被测物体的距离。即，根据本发明揭露书的实施可致能物体的几 何维度的测量而无需距离测量的装置，例如距离测量子系统830。通过使用两个成像单元、 反射表面(ref lective surface)(例如镜子)和具有已知几何维度的参考对象可实现此优 点。事实上，在根据本发明的不同实施例中，其中一个成像单元的外罩(housing)或两个成 像单元的装配件(assembly)的形体可用作参考对象。
[0024]根据本发明揭露书的测量系统的另一特征为定位检测单元（orientation detector)的使用，其中定位检测单元连接至测量系统的元件。在计算被测物体的几何维度 以补偿测量系统的元件的非理想空间定位(例如俯仰(pi tch)和偏航(yaw))时，则考虑来自 定位检测单元的测量。这也可以适用于测量用途的手持应用。
[0025]图1为根据本发明至少部分实施例的光学测量系统100的模块示意图。图2为根据 本发明至少部分实施例的图1的光学测量系统1〇〇的成像单元200的模块示意图。下列描述 用于图1和图2。
[0026] 光学测量系统100包括前视图（front view)成像单元110、后视图（rear view)成 像单元110、反射表面130及参考对象140。成像单元200描述的是前视图成像单元110和后视 图成像单元120中每个的示例元件。如图2所示，前视图成像单元110可包括镜头212和图像 测量模块214,且后视图成像单元120可包括镜头222和图像测量模块224。
[0027]前视图成像单元110可通过镜头212形成图像230,然后可使用图像测量模块214测 量图像230的几何维度。后视图成像单元120可通过镜头222形成图像240,然后可使用图像 测量模块224测量图像240的几何维度。
[0028] 图像的测量可通过例如电荷親合器件(charge-coupled device，CO))或互补金属 氧化物半导体(complementary metal-oxide semiconductor，CMOS)的像素矩阵完成图像 的测量。
[0029]在根据本发明的实施例中，前视图成像单元110和后视图成像单元120的光学特性 为已知或事先测量的。此外，参考对象140的几何维度也是已知或事先测量的。
[0030] 为执行第一被测物体105的几何维度的测量，对第一被测物体105、前视图成像单 元110、后视图成像单元120、反射表面130及参考对象140进行排列以使该第一被测物体105 位于该后视图成像单元120的视野(visual field)中，同时反射表面130中的第一被测物体 105的映像(ref lection)和反射表面130中的该参考对象140的映像位于该前视图成像单元 110的视野中。这可以通过改变光学测量100和第一被测105的一或多个元件的位置及/或空 间定位而实现。
[0031] 第一被测物体105的图像可由后视图成像单元120通过镜头122而形成。然后由后 视图成像单元120的图像测量模块224测量第一被测物体105的图像的维度。
[0032] 映像的图像可由前视图成像单元110通过镜头112形成。然后由前视图成像单元 110的图像测量模块214测量第一被测物体105和参考对象140的映像的图像的维度。
[0033] 当拥有了第一被测物体105的图像的维度和第一被测物体105和参考对象140的映 像的维度之后，则可计算第一被测物体105的几何维度。计算方法提供如下。
[0034]光学测量系统100的元件的空间定位可能是不理想的，例如，可能具有俯仰和偏 航，从而导致几何测量中的误差。为了补偿这种现象，光学测量系统100的一或多个元件可 连接至一或多个定位检测单元(orientation detector)150(l)-150(N)，其中，N为大于等 于一的正整数。例如，可将第一被测物体105、前视图成像单元110、后视图成像单元120、反 射表面130及参考对象140中的至少一个分别连接至定位检测单元150(1 )-150(N)。由此来 补偿光学测量系统100中的一或多个元件的俯仰及/或偏航，在计算第一被测物体105的几 何维度时，可将来自定位检测单元150(1)_150(N)的测量加入考量中。
[0035]在一些实施例中，可将前视图成像单元110、后视图成像单元120及参考对象140安 装在单一装配件(assembly)中，从而使光学测量系统100的主要部分易于操作。
[0036]图3为根据本发明的至少一部分实施例图1的测量系统100中的射线路径（ray path)的示例情形300的光学示意图。
[0037]为简化描述，将镜头212和222看作简单的小孔径(aperture)或针孔"镜头"。图像 230和240分别在镜头212和222之后的距离Q1和Q2处形成。镜头212和222的主屏幕被叠加至 单一表面H。参考对象140也位于表面H内部。反射表面130为平的（例如平镜面)且平行于表 面H〇
[0038]可通过下面的方程式（1)得出透过前视图成像单元110的镜头212投影的参考对象 140的映像的长度：
[0040]在方程式(1)中，A2B2为参考对象140的映像的长度。它等于参考对象140的长度(为 Add且是已知的。此外，A3B3为前视图成像单元110的图像测量模块214测量的投影的长度， 且X为从表面H到反射表面130的距离。
[0041 ]可通过方程式(2)得出透过镜头212投影的第一被测物体105的映像的长度：
[0043]在方程式(2)中，C2D2为第一被测物体105的映像的长度。它等于第一被测物体105 的长度&D:且需要确定。此外，C3D3为前视图成像单元110的图像测量模块214测量的投影的 长度，且Y为从表面H到第一被测物体105的距离。
[0044]如下所示，结合等式(1)和等式(2)可得到下面的等式(3):
[0046]可通过方程式(4)得出透过后视图成像单元120的镜头222投影的第一被测物体 105的图像的长度：
[0048]在方程式(2)中，&D:为第一被测物体105的长度，其为所需要的维度。此外，C4D4为 后视图成像单元120的图像测量模块224测量的投影的长度。
[0049]如下所示，结合等式(3)和等式(4)可得到下面的等式(5)并解出&D1:
[0051]鉴于由不等式(6)表示的情形，第一被测物体105的计算长度&D:为正数，
[0052] QiXC4D4-Q2XC3D3>0 (6)
[0053] 通过将等式(2)和(4)运用于不等式(6)中，可得到不等式(7)，如下所示：
[0055]不等式(7)对于所有实际情形都成立。
[0056]也要计算从表面H到第一被测物体105的距离Y和从反射表面130到第一被测物体 105的距离X+Y。
[0057]如果一或多个额外的被测物体(其可为第一被测物体105的一部分)位于离表面H 的相同距离Y处，若该一或多个额外被测物体位于后视图成像单元120的视野中，则可确定 该一或多个额外被测物体的几何维度。或者，如果一或多个额外的被测物体位于离反射表 面130的相同距离X+Y处，若该一或多个额外被测物体的映像位于前视图成像单元110的视 野中，则可确定该一或多个额外被测物体的几何维度。
[0058] 对于在镜头212和222所在处的光学摄像头镜头也可执行类似的计算，同时将额外 的光学特性(例如焦距)考量进去。
[0059] 图4为根据本发明至少一部分实施例的测量系统400的成像单元的灵活安装的模 块不意图。
[0060] 测量系统400类似于图1的测量系统100。因此，为简洁，对于测量系统400的描述着 重在测量系统400与测量系统100之间的差异。如图4中所示，测量系统400可配备成像单元 410,该成像单元连接或親接于或安装(mount)在成像单元安装件420上。成像单元410具有 形成图像和测量图像几何维度的功能。成像单元420可设置在前视图位置中。在此情形中， 成像单元410可具有上述的前视图成像单元110的功能和特性。或者，成像单元420可设置在 后视图位置中。在此情形中，成像单元410可具有上述的后视图成像单元120的功能和特性。 在一些实施例中，成像单元420可包括具有旋转头(rotating head)的三脚(tripod)。
[0061] 根据上述和图1至图4,用于测量一或多个被测物体的几何维度的系统可包括：前 视图成像单元、后视图成像单元、反射表面及参考对象。可对前视图成像单元、后视图成像 单元、反射表面及参考对象进行排列以使该一或多个被测物体中的第一被测物体位于该后 视图成像单元的视野中，同时反射表面中的第一被测物体的映像和反射表面中的该参考对 象的映像位于该前视图成像单元的视野中。
[0062] 在一些实施例中，该一或多个被测物体的至少一个额外被测物体可位于后视图成 像单元的视野中。
[0063] 在一些实施例中，反射表面中的该一或多个被测物体的至少一个额外被测物体的 映像可位于前视图成像单元的视野中。
[0064] 在一些实施例中，前视图成像单元可连接至空间定位检测单元。或者，后视图成像 单元可连接至空间定位检测单元。或者，一或多个测量物体中的每一个可分别连接至空间 定位检测单元。
[0065] 在一些实施例中，前视图成像单元和该后视图成像单元安装在单一装配件中。或 者，前视图成像单元和参考对象安装在单一装配件中。或者，后视图成像单元和该参考对象 安装在单一装配件中。
[0066] 在一些实施例中，前视图成像单元可包括成像单元和成像单元安装件，其中，成像 单元安装在成像单元安装件上。可将成像单元安装件设置为前视图位置。
[0067]在一些实施例中，前视图成像单元可包括成像单元和成像单元安装件，其中，成像 单元安装在成像单元安装件上。可将成像单元安装件设置为后视图位置。
[0068]图5为根据本发明至少一部分实施例的流程500的流程图。
[0069]流程500可包括一或多个操作、行为或功能，如一或多个模块510-590所示。尽管显 示为分散的模块，根据所需实施例，多个模块也可划分为额外的模块，组合为更少的模块或 者省略。流程500可用测量系统100或测量系统400实现。为说明目的，关于流程500的下述操 作是由测量系统100执行的。流程500可在模块510处开始。
[0070]模块510(测量第一成像单元的光学特性）可有关于测量第一成像单元的光学特 性。在一些实施例中，可使用可测量第一成像单元的光学特性的任何合适的仪器、系统或机 制来代替测量系统100以测量第一成像单元的光学特性。模块510之后为模块520。
[0071]模块520(测量第二成像单元的光学特性）可有关于测量第二成像单元的光学特 性。在一些实施例中，可使用可测量第二成像单元的光学特性的任何合适的仪器、系统或机 制来代替测量系统100以测量第二成像单元的光学特性。模块520之后为模块520。
[0072] 模块530(测量参考对象的几何维度)可有关于测量参考对象的几何维度。在一些 实施例中，可使用可测量参考对象的几何维度的任何合适的仪器、系统或机制来代替测量 系统100以测量参考对象的几何维度。模块530之后为模块540。
[0073] 模块540(排列包括第一被测物体的多个被测物体、第一和第二成像单元、反射表 面及参考对象)可有关于对包括第一被测物体的多个被测物体、第一和第二成像单元、反射 表面及参考对象的多个被测物体进行排列，以使该第一被测物体位于该第二成像单元的视 野中，且该反射表面中的第一被测物体的映像和该反射表面中的该参考对象的映像位于该 第一成像单元的视野中。模块540之后为模块550。
[0074] 模块550(在第一成像单元中形成该第一被测物体的映像与该参考对象的映像的 图像)可有关于测量系统1〇〇在该第一成像单元中形成该第一被测物体的映像与该参考对 象的映像的图像。模块550之后为模块560。
[0075] 模块560(在该第二成像单元中形成该第一被测物体的图像）可有关于测量系统 100在第二成像单元中形成第一被测物体的图像。模块560之后为模块570。
[0076] 模块570(测量在第一成像单元中形成的图像的几何维度)可有关于测量系统100 测量在该第一成像单元中形成的图像的几何维度。模块570之后为模块580。
[0077] 模块580(测量在第二成像单元中形成的图像的几何维度)可有关于测量系统100 测量在该第二成像单元中形成的图像的几何维度。模块580之后为模块590。
[0078] 模块590(计算第一被测物体的几何维度）可有关于计算第一被测物体的几何维 度。在一些实施例中，可使用可计算第一被测物体的几何维度的任何合适的计算装置、仪 器、系统或机制来计算第一被测物体的几何维度。
[0079] 在一些实施例中，对该一或多个被测物体进行排列可更包括对一或多个额外的被 测物体和该第二成像单元进行排列以使该一或多个被测物体位于该第二成像单元的视野 中。
[0080] 在一些实施例中，该排列该一或多个被测物体更包括排列一或多个额外被测物 体、该反射表面及该第一成像单元以使该一或多个额外被测物体的多个映像位于该第一成 像单元的该视野中。
[0081] 在一些实施例中，该计算该几何维度更包括测量系统100检测该第一成像单元的 空间定位。
[0082] 在一些实施例中，该计算该几何维度更包括测量系统100检测该第二成像单元的 空间定位。
[0083]在一些实施例中，该计算该几何维度更包括测量系统100检测参考对象的空间定 位。
[0084] 在一些实施例中，该计算该几何维度更包括测量系统100检测反射表面的空间定 位。
[0085] 在一些实施例中，该计算该几何维度更包括测量系统100检测一或多个被测物体 的空间定位。
[0086]在一些实施例中，该计算该几何维度更包括计算至该一或多个被测物体的多个距 离。
[0087] 在一些实施例中，该第一成像单元可为前视图成像单元，且该第二成像单元可为 后视图成像单元。
[0088] 图6为根据本发明至少一部分实施例的流程600的流程图。
[0089] 流程600可包括一或多个操作、行为或功能，如一或多个模块610、620和630所示。 尽管显示为分散的模块，根据所需实施例，多个模块也可划分为额外的模块，组合为更少的 模块或者省略。流程600可用测量系统100或测量系统400实现。为说明目的，关于流程600的 下述操作是由测量系统100执行的。流程600可在模块610处开始。
[0090] 模块610(在前视图位置中设置成像单元以使在反射表面中的包括第一被测物体 的一或多个被测物体的映像和该反射表面中的参考对象的映像位于该成像单元的视野中） 可有关于测量系统100在前视图位置中设置成像单元以使在反射表面中的包括第一被测物 体的一或多个被测物体的映像和该反射表面中的参考对象的映像位于该成像单元的视野 中。区块610之后为为模块620。
[0091] 模块620(形成该第一被测物体的该映像和该参考对象的该映像的图像)可有关于 测量系统100形成第一被测物体的该映像和该参考对象的该映像的图像。区块620之后为为 模块630。
[0092]模块630(测量形成的该图像的几何维度)可有关于测量系统100测量形成的该图 像的几何维度。
[0093]图7为根据本发明至少一部分实施例的流程700的流程图。
[0094] 流程700可包括一或多个操作、行为或功能，如一或多个模块710、720和730所示。 尽管显示为分散的模块，根据所需实施例，多个模块也可划分为额外的模块，组合为更少的 模块或者省略。流程700可用测量系统100或测量系统400实现。为说明目的，关于流程700的 下述操作是由测量系统100执行的。流程700可在模块710处开始。
[0095] 模块710(在后视图位置中设置成像单元以使第一被测物体位于该成像单元的视 野中）可有关于测量系统1〇〇在后视图位置中设置成像单元以使第一被测物体位于该成像 单元的视野中。区块710之后为为模块720。
[0096] 模块720(形成第一被测物体的图像)可有关于测量系统100形成第一被测物体的 图像。区块720之后为为模块730。
[0097] 模块730(测量形成的该图像的几何维度)可有关于测量系统100测量形成的该图 像的几何维度。
[0098] 在不脱离本发明的精神以及范围内，本发明可以其它特定格式呈现。所描述的实 施例在所有方面仅用于说明的目的而并非用于限制本发明。本发明的保护范围当视后附的 权利要求所界定者为准。本领域技术人员皆在不脱离本发明之精神以及范围内做些许更动 与润饰。
【主权项】
1. 一种测量物体的几何维度的方法，包括： 测量第一成像单元的光学特性； 测量第二成像单元的光学特性； 测量参考对象的几何维度； 排列包括第一被测物体的一或多个被测物体、该第二成像单元、反射表面、该第一成像 单元及该参考对象，以使该第一被测物体位于该第二成像单元的视野中，且该反射表面中 的该第一被测物体的映像和该反射表面中的该参考对象的映像位于该第一成像单元的视 野中； 在该第一成像单元中形成该第一被测物体的映像与该参考对象的映像的图像； 在该第二成像单元中形成该第一被测物体的图像； 测量在该第一成像单元中形成的该图像的几何维度； 测量在该第二成像单元中形成的该图像的几何维度；以及 计算该第一被测物体的几何维度。2. 如权利要求1所述的方法，其特征在于，该排列该一或多个被测物体更包括排列一或 多个额外被测物体和该第二成像单元以使该一或多个额外被测物体位于该第二成像单元 的该视野中。3. 如权利要求1所述的方法，其特征在于，该排列该一或多个被测物体更包括排列一或 多个额外被测物体、该反射表面及该第一成像单元以使该一或多个额外被测物体的多个映 像位于该第一成像单元的该视野中。4. 如权利要求1所述的方法，其特征在于，该计算该第一被测物体的几何维度更包括检 测该第一成像单元、该第二成像单元、该参考对象或该反射表面中至少一个的空间定位。5. 如权利要求1所述的方法，其特征在于，该计算该第一被测物体的几何维度更包括检 测该一或多个被测物体的空间定位。6. 如权利要求1所述的方法，其特征在于，该计算该第一被测物体的几何维度更包括计 算从该反射表面至该一或多个被测物体的多个距离。7. 如权利要求1所述的方法，其特征在于，该第一成像单元包括前视图成像单元，且其 中该第二成像单元包括后视图成像单元。8. -种形成及测量映像的图像的几何维度的方法，包括： 在前视图位置中设置成像单元以使在反射表面中的包括第一被测物体的一或多个被 测物体的映像和在该反射表面中的参考对象的映像位于该成像单元的视野中； 在该成像单元中形成该第一被测物体的映像和该参考对象的该映像的多个图像； 测量形成的该多个图像的多个几何维度。9. 一种形成及测量物体的图像的几何维度的方法，包括： 在后视图位置中设置成像单元以使第一被测物体位于该成像单元的视野中； 在该成像单元中形成该第一被测物体的图像；以及 测量形成的该图像的几何维度。10. -种测量一或多个被测物体的几何维度的系统，包括： 前视图成像单元； 后视图成像单元； 反射表面；以及 参考对象， 其中，该前视图成像单元、该后视图成像单元、该反射表面及该参考对象被排列以使该 一或多个被测物体中的第一被测物体位于该后视图成像单元的视野中，且该反射表面中的 该第一被测物体的映像和该反射表面中的该参考对象的映像位于该前视图成像单元的视 野中。11. 如权利要求10所述的系统，其特征在于，该一或多个被测物体的至少一个额外被测 物体位于该后视图成像单元的该视野中。12. 如权利要求10所述的系统，其特征在于，该反射表面中的该一或多个被测物体的该 至少一个额外被测物体的每个映像都位于该前视图成像单元的该视野中。13. 如权利要求10所述的系统，其特征在于，该前视图成像单元、该后视图成像单元、该 反射表面或该参考对象中的至少一个连接至空间定位检测单元。14. 如权利要求10所述的系统，其特征在于，该一或多个被测物体中的每个都连接至各 自的空间定位检测单元。15. 如权利要求10所述的系统，其特征在于，该前视图成像单元和该后视图成像单元安 装在单一装配件中。16. 如权利要求10所述的系统，其特征在于，该前视图成像单元和该参考对象安装在单 一装配件中。17. 如权利要求10所述的系统，其特征在于，该后视图成像单元和该参考对象安装在单 一装配件中。18. 如权利要求10所述的系统，其特征在于，该前视图成像单元包括： 成像单元；以及 成像单元安装件，其中该成像单元安装在该成像单元安装件上，且其中该成像单元安 装件被设置为前视图位置。19. 如权利要求10所述的系统，其特征在于，该后视图成像单元包括： 成像单元；以及 成像单元安装件，其中该成像单元安装在该成像单元安装件上，且其中该成像单元安 装件被设置为后视图位置。
【文档编号】G01B11/24GK106052581SQ201610237667
【公开日】2016年10月26日
【申请日】2016年4月15日
【发明人】铁木尔·科林, 西里尔·瓦拉登
【申请人】联发科技（新加坡）私人有限公司