Bragg光纤光栅温度传感器、温度监测系统及方法

文档序号:10721697阅读:296来源:国知局
Bragg光纤光栅温度传感器、温度监测系统及方法
【专利摘要】本发明公开了一种Bragg光纤光栅温度传感器、温度监测系统及方法,属于高压输电换流阀晶闸管温度监测领域。所述Bragg光纤光栅温度传感器包括:耐高压绝缘护套管、光纤连接器、封装金属外壳、光敏光纤、Bragg光纤光栅;所述光敏光纤分为前后两部分,所述耐高压绝缘护套管设置在前面这部分光敏光纤的外部,且这部分光敏光纤的末端与光纤连接器连接,所述Bragg光纤光栅设置在后面这部分光敏光纤的末端,所述封装金属外壳设置在耐高压绝缘护套管朝向Bragg光纤光栅一端的外部。可实时监测并反映出晶闸管壳体内温度情况。其具有体积小、误差小、绝缘性能好、可靠性高、线性度好、安装方便快捷等优点。
【专利说明】
Bragg光纤光栅温度传感器、温度监测系统及方法
技术领域
[0001] 本发明涉及高压输电换流阀晶闸管温度监测领域,尤其涉及一种Bragg光纤光栅 温度传感器、温度监测系统及方法。
【背景技术】
[0002] 高压直流输电技术广泛应用于长距离大功率输电,换流站是高压直流输电系统中 实现交直流电力变换的电力工程设施,高压换流阀晶闸管是其系统中核心部件,在使用过 程中发热量大,间隙小,且热点位置因散热设计而导致温度梯度大,由此导致测量换流阀晶 闸管壳内温度变得极为困难。
[0003] 在实际运行过程中,其在经受故障(浪涌)电流时晶闸管内会形成很高的局部电 流,并因此导致温度将会急剧上升,最终烧坏晶闸管;在关断过程以及断开状态均会产生不 同原因的热值,因此而带来的温度上升均远大于正常值,十分容易对设备造成损坏。因此晶 闸管温度在随外界工况变化对换流阀串联均压机制、内外部过电压、过电流、晶闸管反向恢 复过程、控制系统触发、保护系统启动等都起着决定性作用。但是目前晶闸管壳内热点温度 获取还是通过壳外温度监测以热传导公式递推壳内温度。因散热机制的存在导致壳内温度 场分布极其复杂,很难准确推导。

【发明内容】

[0004] 针对于高压输电换流阀晶闸管温度监控的不足,本发明提供了一种基于光纤光栅 温度监测原理的Bragg光纤光栅温度传感器、温度监测系统及方法。本发明采用单端Bragg 光纤光栅温度传感器,并联型式敷设,温度传感器体积狭小,可顺利插入到晶闸管壳体安装 缝隙中,接触到壳体内温度高点,可实时监测并反映出晶闸管壳体内温度情况。其具有体积 小、误差小、绝缘性能好、可靠性高、线性度好、安装方便快捷等优点。
[0005] 为实现本发明,采用的技术方案如下:
[0006] 一种Bragg光纤光栅温度传感器,包括:耐高压绝缘护套管、光纤连接器、封装金属 外壳、光敏光纤、Bragg光纤光栅;
[0007] 所述光敏光纤分为前后两部分,所述耐高压绝缘护套管设置在前面这部分光敏光 纤的外部,且这部分光敏光纤的末端与光纤连接器连接,所述Bragg光纤光栅设置在后面这 部分光敏光纤的末端,所述封装金属外壳设置在耐高压绝缘护套管朝向Bragg光纤光栅一 端的外部。
[0008] 其中,所述封装金属外壳末端与耐高压绝缘护套管通过耐高温胶水结合。
[0009] 其中,所述封装金属外壳内径为0.9-lmm,所述封装金属外壳外径为2mm;
[0010] 所述耐高压绝缘护套管外径为0.9mm,所述耐高压绝缘护套管内孔直径为0.5mm;
[0011] 所述光敏光纤为单模光敏光纤,其光纤包层直径为0.1 lmm-0.13mm,其涂覆层直径 为0·15mm-〇·26mm〇
[0012] 其中,所述光敏光纤与耐高压绝缘护套管之间可使用紫外固化胶粘和,在耐高压 绝缘护套管朝向Bragg光纤光栅端使用紫外固化剂填充耐高压绝缘护套管与光敏光纤之间 间隙,然后使用紫外灯照射固化。
[0013]其中,所述Bragg光纤光栅与光敏光纤为一体;
[0014] 所述Bragg光纤光栅反射中心波长为1510-1590nm之间,其3dB反射带宽为0.2-0 · 3nm,反射率大于90 %。
[0015] 一种温度监测系统,包括Bragg光纤光栅解调系统、单模信号传输光缆、单模光分 路器、以及上述所述的Bragg光纤光栅温度传感器,
[0016] 所述Bragg光纤光栅解调系统通过单模信号传输光缆与单模光分路器连接,所述 单模光分路器通过单模信号传输光缆并联多个Bragg光纤光栅温度传感器。
[0017] 其中所述Bragg光纤光栅解调系统波长解调范围为1510-1590nm,最大解调频率可 达1kHz;
[0018] 所述单模光分路器为1分8、1分16中任意一种;
[0019]所述Bragg光纤光栅温度传感器通过光纤连接器与单模光分路器相连接。
[0020]其中,所述Bragg光纤光栅解调系统包括单模光开关、单模光环形器、宽带光源、 Bragg光纤光栅解调模块、工控主板,
[0021] 所述单模光开关通过单模光纤与单模光环形器熔接,所述单模光环形器通过单模 光纤分别与宽带光源、Bragg光纤光栅解调模块熔接,所述Bragg光纤光栅解调模块通过网 线与工控主板连接。
[0022] 其中,所述单模光环形器有3个端口,分别为端口 A、端口 B、端口 C,其中端口 A与宽 带光源相连接,端口 B与单模光开关相连接,端口 C与Bragg光纤光栅解调模块相连接;
[0023]所述工控主板用于安装上位机软件,接收以及处理Bragg光纤光栅解调模块上传 的数据,所述工控主板与Bragg光纤光栅解调模块之间使用RJ45网口通信。
[0024] -种采用所述的温度监测系统的监测方法,包括以下几个步骤:
[0025] 步骤1:标定,使用高低温循环箱模拟创造不同温度环境,记录每一个温度环境下 Bragg光纤光栅温度传感器的中心波长;
[0026]步骤2:拟合,根据步骤1中得到的Bragg光纤光栅传感器中心波长-温度之间的关 系,使用二项式公式进行拟合,得出Bragg光纤光栅温度传感器的各项系数;
[0027]步骤3:传感器布设,将Bragg光纤光栅温度传感器安装至晶闸管壳体内;
[0028]步骤4:探测,晶闸管壳体内温度信息将影响Bragg光纤光栅温度传感器,将这些影 响信息加载到Bragg光纤光栅温度传感器的中心波长之上;
[0029]步骤5:解调,Bragg光纤光栅解调系统接收到Bragg光纤光栅温度传感器光谱信 息,根据其光谱信息解调寻找其中心波长;
[0030] 步骤6:温度获取,将解调得到的中心波长信息根据步骤二中拟合得到Bragg光纤 光栅温度传感器各项系数进行计算得到晶闸管壳体内的实时温度;
[0031] 步骤7:拟合回归处理,对测得到晶闸管壳体内的实时温度数据进行拟合回归处 理。
[0032]本发明有益效果在于
[0033]该测量系统采用光敏光纤制作Bragg光纤光栅,制作过程中无需进行载氢处理,传 感器制作完成后也无需进行退火处理。
[0034] 该测量系统可靠性高,稳定性好,本系统从根本上杜绝了光纤光栅受应力影响从 而导致的波长变化。
[0035] 该测量系统采用单端并联方式布设,大大提高了传感器的布设效率,其布设成功 率可以达到100%。
[0036] 该测量系统Bragg光纤光栅温度传感器体积狭小,可顺利插入到晶闸管壳内,测量 得到壳体内温度,该测量系统其温度偏差可以控制在±〇. 5°C。
[0037] 该测量系统Bragg光纤光栅解调系统的波长解调范围为1510-1590nm,最大解调频 率可达1kHz。
【附图说明】
[0038]图1为本发明晶闸管的温度监测系统整体框架图。
[0039]图2为Bragg光纤光栅温度传感器设计图。
[0040]图3为Bragg光纤光栅解调系统结构图。
[0041]图4是二项式计算得出的Bragg光纤光栅温度传感器中心波长与温度拟合结果。 [0042]图5是线性拟合得出的Bragg光纤光栅温度传感器中心波长与温度拟合结果。
[0043] 其中,
[0044] Ι-Bragg光纤光栅解调系统,2-单模信号传输光缆,3-单模光分路器,4-Bragg光纤 光栅温度传感器,5-散热器,6-晶闸管组件,7-耐高压绝缘护套管,8-光纤连接器,9-封装金 属外壳,10-光敏光纤,1 Ι-Bragg光纤光栅,12-耐高温胶水,13-晶闸管安装组件,14-传感器 固定点,15-单模光开关,16-单模光纤,17-单模光环形器,18-宽带光源,19-Bragg光纤光栅 解调模块,20-工控主板,21 -网线。
【具体实施方式】
[0045] l、Bragg光纤光栅温度传感器4设计
[0046]图2为Bragg光纤光栅温度传感器4设计图。如图2所示,一种Bragg光纤光栅温度传 感器4,包括:耐高压绝缘护套管7、光纤连接器8、封装金属外壳9、光敏光纤10、Bragg光纤光 栅11;
[0047]所述光敏光纤10分为前后两部分,所述耐高压绝缘护套管7设置在前面这部分光 敏光纤10的外部,且这部分光敏光纤10的末端与光纤连接器8连接,所述Bragg光纤光栅11 设置在后面这部分光敏光纤10的末端,所述封装金属外壳9设置在耐高压绝缘护套管7朝向 Bragg光纤光栅11 一端的外部。
[0048]裸光纤光栅对温度以及应力均非常敏感,对光纤光栅进行封装以隔绝外部应力对 光纤光栅的影响是提高光纤光栅传感器测量精度的关键所在。
[0049]本方案采用光敏光纤10制作Bragg光纤光栅11,制作过程中无需进行载氢处理, Bragg光纤光栅温度传感器4制作完成后也无需进行退火处理。本方案可靠性高,稳定性好, 从根本上杜绝了 Bragg光纤光栅11受应力影响从而导致的波长变化。本发明所述的Bragg光 纤光栅温度传感器4体积狭小,可顺利插入到晶闸管壳内,测量得到壳体内温度。
[0050]如图2所示,所述封装金属外壳9末端与耐高压绝缘护套管7通过耐高温胶水12结 合。
[0051] 如图2所示,所述封装金属外壳9内径为0.9-lmm,末端与耐高压绝缘护套管7通过 耐高温胶水12结合,所述封装金属外壳9外径为2mm。
[0052] 所述耐高压绝缘护套管7外径为0.9mm,内孔直径为0.5mm,可起到保护光敏光纤10 不被损坏,以及防止高压端晶闸管组件6向低压端单模光分路器3爬电。
[0053] 所述光敏光纤10为单模光敏光纤,其光纤包层直径为0.11mm-0.13mm,其涂覆层直 径为 〇 · 15mm-〇 .26mm。
[0054]所述光敏光纤10与耐高压绝缘护套管7之间可使用紫外固化胶粘和,在耐高压绝 缘护套管7朝向Bragg光纤光栅11端使用紫外固化剂填充耐高压绝缘护套管7与光敏光纤10 之间间隙,然后使用紫外灯照射固化。
[0055]所述Bragg光纤光栅11与光敏光纤10为一体,所述Bragg光纤光栅11反射中心波长 为1510-159011111之间,其3(^反射带宽为0.2-0.311111,反射率大于90%。
[0056] 所述Bragg光纤光栅温度传感器4靠近Bragg光纤光栅11的一端为温度感知位置。
[0057] 2、晶闸管的温度监测系统设计
[0058]图1为本发明晶闸管的温度监测系统整体框架图。如图1所示,一种温度监测系统, 包括Bragg光纤光栅解调系统1、单模信号传输光缆2、单模光分路器3、以及上述所述的 Bragg光纤光栅温度传感器4,
[0059]所述Bragg光纤光栅解调系统1通过单模信号传输光缆2与单模光分路器3连接,所 述单模光分路器3通过单模信号传输光缆2并联多个Bragg光纤光栅温度传感器4。
[0060] 该测量系统采用光敏光纤10制作Bragg光纤光栅11,制作过程中无需进行载氢处 理,传感器制作完成后也无需进行退火处理。
[0061] 该测量系统可靠性高,稳定性好,本系统从根本上杜绝了 Bragg光纤光栅11受应力 影响从而导致的波长变化。
[0062] 该测量系统采用单端并联方式布设,大大提高了 Bragg光纤光栅温度传感器4的布 设效率,其布设成功率可以达到100%。
[0063] 该测量系统Bragg光纤光栅温度传感器4体积狭小,可顺利插入到晶闸管壳内,测 量得到壳体内温度,该测量系统其温度偏差可以控制在±〇.5°C。
[0064] 该测量系统Bragg光纤光栅解调系统1的波长解调范围为1510-1590nm,最大解调 频率可达1 kHz。
[0065] 所述单模光分路器3为1分8、1分16中任意一种;
[0066] 所述Bragg光纤光栅温度传感器4通过光纤连接器8与单模光分路器3相连接。
[0067] 3、Bragg光纤光栅温度传感器4标定
[0068]将Bragg光纤光栅温度传感器4置于温度循环箱中,以20°C为阶梯设置温度循环箱 保持温度,并设置每一个温度点保温时间大于2小时,其中温度点设置需包括0°C温度点。 [0069] 记录每一个温度点对应Bragg光纤光栅温度传感器4的中心波长。
[0070]以二项式进行拟合,拟合目标公式:温度(T) =m Δ λ2+&2 Δ λ+&3
[0071 ] 上述公式中:Δ λ为相对于0°c时Bragg光纤光栅11中心波长的变化值,ai、a2、a3为3 个待求系数。
[0074]上式矩阵中η对应的是温度点的个数,当温度点个数为9时取值为9。求解上式矩阵 即可解得二项中3个系数值。
[0075] 4、Bragg光纤光栅解调系统1设计
[0076]图3为Bragg光纤光栅解调系统1结构图。如图3所示,所述Bragg光纤光栅解调系统 1包括宽带光源18、单模光环形器17、单模光开关15、Bragg光纤光栅解调模块19、工控主板 20,
[0077]所述单模光开关15通过单模光纤16与单模光环形器17熔接,所述单模光环形器17 通过单模光纤16分别与宽带光源18、Bragg光纤光栅解调模块19恪接,所述Bragg光纤光栅 解调模块19通过网线21与工控主板20连接。
[0078] 所述单模光环形器17有3个端口,分别为端口A、端口B、端口C,其中端口A与宽带光 源18相连接;端口 B与单模光开关15相连接;端口 C与Bragg光纤光栅解调模块19相连接。 [0079]所述工控主板20主要作用为安装上位机软件,接收以及处理Bragg光纤光栅解调 模块19上传的数据。
[0080]所述工控主板20与Bragg光纤光栅解调模块19之间使用RJ45网口通信。
[00811 5、Bragg光纤光栅温度传感器4安装
[0082]如图1所示,图中5是散热器,6是晶闸管组件,13是晶闸管安装组件,14是传感器固 定点。所述Bragg光纤光栅温度传感器4将温度感知端插入到晶闸管组件6与散热器5之间缝 隙中,使用绝缘胶带固定Bragg光纤光栅温度传感器4的外部露出端,固定位置如图1中的传 感器固定点14处。
[0083] 组件连接:
[0084]所述单模信号传输光缆2为特种电力用单模单芯光缆。
[0085]所述单模信号传输光缆2-端通过光纤连接器与单模光分路器3相连接,另外一端 通过光纤连接器与Bragg光纤光栅解调系统1相连接。
[0086] 6、Bragg光纤光栅温度传感器4的工作原理
[0087] Bragg光纤光栅温度传感器4是一种波长传感型温度传感器,其反射中心波长对应 公式如下:
[0088] AB = 2neff Λ (2)
[0089] 其中λΒ为光纤光栅反射中心波长,neff为光纤有效折射率,Λ为布拉格光纤光栅栅 格间距。
[0090] 当光纤光栅所处状态同时受到应变影响以及温度变化时,此时中心波长的变化量 Α λΒ可由公式表示如下
[0091] ΔλΒ = ΚεΔ ε+ΚτΔΤ (3)
[0092] ^为光纤光栅的应变灵敏度系数,与光纤的泊松比,弹光系数和纤芯有效折射率 相关,Κτ为光纤光栅的温度敏感度系数,与光纤的热胀系数以及热光系数相关。未经封装的 光纤光栅裸露使用时非常容易受到外界的各种应力影响,而当光栅处于一个狭小封闭腔 内,使得光栅处于自由状态下,则可完全隔绝应力影响,因此在本发明中导致光纤光栅中心 波长变化的应变灵敏度系数项可忽略。
[0093]单独对式3的温度敏感项进行考察,因其温度敏感性同时受到光纤材料的热胀系 数,热光系数,以及受热膨胀时的弹光效应还有因此而改变有效折射率,因而此项可如下表 示:

[0095] 在上式中,(Aneff)ep代表热胀引起的弹光效应:-代表由热膨胀导致光纤芯径 变化而产生的波导效应。
[0096] 有2式和4式可知
[0100] 式6为光纤光栅温度传感器的灵敏度系数,对于光纤材料在一定的温度变化范围 内η可认为是与材料相关的常数。
[0101] 表一
[0102]
[0103] 采用表一数据,当温度检测的范围扩大到一定程度时,温度再以线性拟合方式得 到的结果会有较大误差,如图5所示。
[0104] 通过图4所示拟合结果可知本发明提供的Bragg光纤光栅温度传感器4封装方法很 好地避免了外界环境的热应力影响,并且在使用多项式拟合情况下可以得到很精确的结 果。
[0105] 7、温度监测方法
[0106] -种采用上述所述的温度监测系统的监测方法,包括以下几个步骤:
[0107] 步骤1:标定,使用高低温循环箱模拟创造不同温度环境,记录每一个温度环境下 Bragg光纤光栅温度传感器4的中心波长;
[0108] 步骤2:拟合,根据步骤1中得到的Bragg光纤光栅传感器4中心波长-温度之间的关 系,使用二项式公式进行拟合,得出Bragg光纤光栅温度传感器4的各项系数;
[0109] 步骤3:传感器布设,将Bragg光纤光栅温度传感器4安装至晶闸管壳体内;
[0110]步骤4:探测,晶闸管壳体内温度信息将影响Bragg光纤光栅温度传感器4,将这些 影响信息加载到Bragg光纤光栅温度传感器4的中心波长之上;
[0111] 步骤5:解调,Bragg光纤光栅解调系统1接收到Bragg光纤光栅温度传感器4光谱信 息,根据其光谱信息解调寻找其中心波长;
[0112] 步骤6:温度获取,将解调得到的中心波长信息根据步骤二中拟合得到Bragg光纤 光栅温度传感器4各项系数进行计算得到晶闸管壳体内的实时温度;
[0113] 步骤7:拟合回归处理,对测得到晶闸管壳体内的实时温度数据进行拟合回归处 理。
[0114] 根据上述内容,通过图4所示拟合结果可知本发明提供的Bragg光纤光栅温度传感 器4封装方法很好地避免了外界环境的热应力影响,并且在使用多项式拟合情况下可以得 到很精确的结果。
[0115] 上述实例为本发明较佳的实施方式,但本发明的实施方式并不受上述实施例的限 制,其它的任何未违背本发明的精神实质与原理下所作的改变、修饰、替代、组合、简化均应 为等效的置换方式,都包含在本发明的保护范围之内。
【主权项】
1. 一种Bragg光纤光栅温度传感器(4),其特征在于,包括:耐高压绝缘护套管(7)、光纤 连接器(8)、封装金属外壳(9)、光敏光纤(10)、Bragg光纤光栅(11); 所述光敏光纤(10)分为前后两部分,所述耐高压绝缘护套管(7)设置在前面这部分光 敏光纤(10)的外部,且这部分光敏光纤(10)的末端与光纤连接器(8)连接,所述Bragg光纤 光栅(11)设置在后面这部分光敏光纤(10)的末端,所述封装金属外壳(9)设置在耐高压绝 缘护套管(7 )朝向Bragg光纤光栅(11) 一端的外部。2. 根据权利要求1所述的一种Bragg光纤光栅温度传感器(4),其特征在于,所述封装金 属外壳(9)末端与耐高压绝缘护套管(7)通过耐高温胶水(12)结合。3. 根据权利要求1所述的一种Bragg光纤光栅温度传感器(4),其特征在于,所述封装金 属外壳(9)内径为0.9-lmm,所述封装金属外壳(9)外径为2mm; 所述耐高压绝缘护套管(7)外径为0.9mm,所述耐高压绝缘护套管(7)内孔直径为 0.5mm; 所述光敏光纤(10)为单模光敏光纤,其光纤包层直径为〇. 1 lmm-0.13mm,其涂覆层直径 为0·15mm-〇·26mm〇4. 根据权利要求1所述的一种Bragg光纤光栅温度传感器(4),其特征在于,所述光敏光 纤(10)与耐高压绝缘护套管(7)之间可使用紫外固化胶粘和,在耐高压绝缘护套管(7)朝向 Bragg光纤光栅(11)端使用紫外固化剂填充耐高压绝缘护套管(7)与光敏光纤(10)之间间 隙,然后使用紫外灯照射固化。5. 根据权利要求1所述的一种Bragg光纤光栅温度传感器(4),其特征在于,所述Bragg 光纤光栅(11)与光敏光纤(10)为一体; 所述Bragg光纤光栅(11)反射中心波长为1510-1590nm之间,其3dB反射带宽为0.2-0 · 3nm,反射率大于90%〇6. -种温度监测系统,其特征在于,包括Bragg光纤光栅解调系统(1)、单模信号传输光 缆(2)、单模光分路器(3)、以及权利要求1-5任一项所述的Bragg光纤光栅温度传感器(4), 所述Bragg光纤光栅解调系统(1)通过单模信号传输光缆(2)与单模光分路器(3)连接, 所述单模光分路器(3)通过单模信号传输光缆(2)并联多个Bragg光纤光栅温度传感器(4)。7. 根据权利要求6所述的一种温度监测系统,其特征在于,所述Bragg光纤光栅解调系 统(1)波长解调范围为1510_1590nm,最大解调频率可达1kHz; 所述单模光分路器(3)为1分8、1分16中任意一种; 所述Bragg光纤光栅温度传感器(4)通过光纤连接器(8)与单模光分路器(3)相连接。8. 根据权利要求6所述的一种温度监测系统,其特征在于,所述Bragg光纤光栅解调系 统(1)包括单模光开关(15)、单模光环形器(17)、宽带光源(18)、Bragg光纤光栅解调模块 (19)、工控主板(20), 所述单模光开关(15)通过单模光纤(16)与单模光环形器(17)熔接,所述单模光环形器 (17)通过单模光纤(16)分别与宽带光源(18)、Bragg光纤光栅解调模块(19)熔接,所述 Bragg光纤光栅解调模块(19)通过网线(21)与工控主板(20)连接。9. 根据权利要求8所述的一种温度监测系统,其特征在于,所述单模光环形器(17)有3 个端口,分别为端口 A、端口 B、端口 C,其中端口 A与宽带光源(18)相连接,端口 B与单模光开 关(15 )相连接,端口 C与Bragg光纤光栅解调模块(19 )相连接; 所述工控主板(20)用于安装上位机软件,接收以及处理Bragg光纤光栅解调模块(19) 上传的数据,所述工控主板(20)与Bragg光纤光栅解调模块(19)之间使用RJ45网口通信。10.-种采用权利要求6-9任一项所述的温度监测系统的监测方法,其特征在于,包括 以下几个步骤: 步骤1:标定,使用高低温循环箱模拟创造不同温度环境,记录每一个温度环境下Bragg 光纤光栅温度传感器(4)的中心波长; 步骤2:拟合,根据步骤1中得到的Bragg光纤光栅传感器(4)中心波长-温度之间的关 系,使用二项式公式进行拟合,得出Bragg光纤光栅温度传感器(4)的各项系数; 步骤3:传感器布设,将Bragg光纤光栅温度传感器(4)安装至晶闸管壳体内; 步骤4:探测,晶闸管壳体内温度信息将影响Bragg光纤光栅温度传感器(4),将这些影 响信息加载到Bragg光纤光栅温度传感器(4)的中心波长之上; 步骤5:解调,Bragg光纤光栅解调系统(1)接收到Bragg光纤光栅温度传感器(4)光谱信 息,根据其光谱信息解调寻找其中心波长; 步骤6:温度获取,将解调得到的中心波长信息根据步骤二中拟合得到Bragg光纤光栅 温度传感器(4)各项系数进行计算得到晶闸管壳体内的实时温度; 步骤7:拟合回归处理,对测得到晶闸管壳体内的实时温度数据进行拟合回归处理。
【文档编号】G01K11/32GK106092368SQ201610710489
【公开日】2016年11月9日
【申请日】2016年8月23日
【发明人】廖招龙, 茅昕, 何幼林, 夏涛, 刘彤庆, 水彪
【申请人】长飞光纤光缆股份有限公司
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